篤摯儀器(上海)有限公司
主營(yíng)產(chǎn)品: 美能達(dá)色差計(jì),尼克斯測(cè)厚儀,三維掃描儀,byk光澤度儀,api激光干涉儀,涂鍍層測(cè)厚儀,防夾力測(cè)試儀 |
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更新時(shí)間:2024-09-03 20:28:31瀏覽次數(shù):3346
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產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,交通,冶金,航天,汽車 |
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Surtronic DUO是Taylor Hobson新款便攜式粗糙度儀,采用了顯示控制單元和驅(qū)動(dòng)單元分體方案,依靠藍(lán)牙技術(shù)實(shí)現(xiàn)兩個(gè)單元的相互通訊。采用2.4英寸彩色大屏幕,顯示剖面圖和測(cè)量參數(shù)。設(shè)計(jì)新穎*,操作簡(jiǎn)便靈活,適用于各種場(chǎng)合。Surtronic Duo是一種高級(jí)便攜式表面粗糙度測(cè)量?jī)x,只需按一鍵即可測(cè)量多個(gè)粗糙度參數(shù)。這些參數(shù)(如Ra、Rz、Rp、Rv和Rt)會(huì)顯示在直觀的2.4英寸LCD彩色屏幕上。使用充電電池,便于在所有環(huán)境和表面進(jìn)行快速、輕松和準(zhǔn)確的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量。該文章僅做參考,如需了解詳細(xì)資料及操作說明,歡迎在線留言或電詢!
操作指南
一、開關(guān)機(jī)
1、開機(jī)
按壓顯示控制單元上橙色開關(guān)/測(cè)量鍵,直到屏幕出現(xiàn)顯示;
按壓驅(qū)動(dòng)單元上橙色開關(guān)鍵,直到驅(qū)動(dòng)單元指示燈閃亮。
在連接式測(cè)量狀態(tài),按壓顯示控制單元上橙色開關(guān)/測(cè)量鍵可以同時(shí)打開兩個(gè)單元。
2、關(guān)機(jī)
DUO可以自動(dòng)關(guān)機(jī)。
如果需要人為關(guān)機(jī)則:
按壓顯示控制單元上橙色開關(guān)/測(cè)量鍵,直到屏幕顯示關(guān)閉;
按壓驅(qū)動(dòng)單元上橙色開關(guān)鍵,直到驅(qū)動(dòng)單元指示燈停止閃亮,熄滅。
二、測(cè)量
分離狀態(tài)時(shí)把驅(qū)動(dòng)單元放置在工件上;連接式測(cè)量狀態(tài)時(shí)把兩部分一起放在工件上。
按壓顯示控制單元的開關(guān)/測(cè)量鍵,完成一次測(cè)量。
三、功能按鍵
DUO有三個(gè)功能按鍵,在不同的狀態(tài)下對(duì)應(yīng)不同的功能。
測(cè)量顯示狀態(tài)下三個(gè)按鍵的對(duì)應(yīng)功能為:
按鍵上方是對(duì)應(yīng)的圖標(biāo)
四、設(shè)置顯示方式
DUO有三種顯示方式
1、顯示剖面圖和參數(shù) 2、只顯示參數(shù)不顯示剖面圖 3、以大字體顯示參數(shù)不顯示剖面圖
在測(cè)量顯示狀態(tài),按右鍵進(jìn)入設(shè)置狀態(tài),
使用左鍵和中鍵選擇大小字體方式和圖形,大字體方式下不能顯示圖形。按右鍵確定并返回測(cè)量狀態(tài)。
五、選擇參數(shù)
DUO有兩類參數(shù),
R?類包括Ra、Rz、Rp、Rv、Rt、Rq、Rsk、Rku、Rz1max
P?類包括Pa、Pz、Pp、Pv、Pt。
在測(cè)量顯示狀態(tài),按右鍵進(jìn)入設(shè)置狀態(tài),使用左鍵和中鍵選擇參數(shù)類型,按右鍵確定并返回測(cè)量狀態(tài)。
六、換頁
在測(cè)量顯示狀態(tài),按中鍵顯示下一頁參數(shù)。
七、校準(zhǔn)方法
DUO為軟件自動(dòng)校準(zhǔn)。將驅(qū)動(dòng)單元放置在標(biāo)準(zhǔn)多刻線樣板上,在測(cè)量顯示狀態(tài),按左鍵進(jìn)入校準(zhǔn)狀態(tài)
1、若顯示的Ra值與標(biāo)準(zhǔn)板相同,按開關(guān)/測(cè)量鍵完成一次測(cè)量。
若測(cè)量結(jié)果與標(biāo)準(zhǔn)值誤差在允許范圍內(nèi),按左鍵退出校準(zhǔn)狀態(tài)。若測(cè)量結(jié)果與標(biāo)準(zhǔn)值誤差不在允許范圍內(nèi),按中鍵校準(zhǔn),按左鍵退出校準(zhǔn)狀態(tài)。
2、若顯示的 Ra 值與標(biāo)準(zhǔn)板不同,按右鍵進(jìn)入修改標(biāo)準(zhǔn)值狀態(tài),使用中鍵和左鍵修改標(biāo)準(zhǔn)值,按右鍵返回校準(zhǔn)狀態(tài)進(jìn)行儀器校準(zhǔn)。
八、充電
顯示控制單元沒有充電插口,所以將顯示和驅(qū)動(dòng)兩部分合在一起,把 USB 電纜一端插入驅(qū)動(dòng)單元充電插口,另一端插入充電器,連接電源充電。觀察顯示屏右上角的電池圖標(biāo),當(dāng)圖標(biāo)在剩余電量和閃電標(biāo)記間交替閃爍時(shí),表示正在充電。
篤摯儀器(上海)有限公司主營(yíng)檢測(cè)儀器設(shè)備有:
==>>德國(guó)菲希爾 Helmut FISCHER X射線鍍層測(cè)厚儀、便攜式涂鍍層測(cè)厚儀;
==>>英國(guó)泰勒-霍普森TaylorHobson粗糙度儀、輪廓儀、圓度儀、圓柱儀、光學(xué)三維形貌測(cè)量?jī)x;
==>>德國(guó)馬爾mahr表面粗糙度儀、高度測(cè)量?jī)x、千分尺、卡尺;
==>>德國(guó)EPK(Elektrophysik)手持式涂覆層測(cè)厚儀;
==>>德國(guó)艾達(dá)米克霍梅爾HOMMEL 便攜式粗糙度儀;
==>>美國(guó)API XD系列激光干涉儀;
==>>美國(guó)GE無損檢測(cè)超聲波探傷儀、超聲波測(cè)厚儀;
==>>日本三豐Mitutoyo量具、粗糙度儀、測(cè)高儀、千分尺、卡尺;
==>>英國(guó)雷尼紹Renishaw三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)測(cè)頭測(cè)針、機(jī)床測(cè)頭、位置編碼器、光柵、激光尺;
==>>德國(guó)Fraunhofer-IZFP無損檢測(cè)技術(shù)研究所 淬火層厚度無損測(cè)量系統(tǒng);
==>>美國(guó)FLIR熱成像系統(tǒng)、夜視系統(tǒng)、紅外熱像儀、紅外探測(cè)器;
==>>美國(guó)奧林巴斯Olympus超聲波測(cè)厚儀、超聲波探傷儀、渦流探傷儀、XRF金屬分析儀;
==>>TRIMOS測(cè)長(zhǎng)儀、測(cè)高儀、萬能測(cè)長(zhǎng)機(jī);
==>>杭州思看科技三維掃描儀.