產(chǎn)品的幾個關(guān)鍵考驗點

　　(1)激光器選擇：激光粒度儀的重要部件之一，主要有HE-NE激光器和半導(dǎo)體激光器兩種，其中HE-NE激光器的各項性能均優(yōu)于半導(dǎo)體激光器，且成本也遠(yuǎn)高于半導(dǎo)體激光器，半導(dǎo)體激光器單向性差的問題，對測試結(jié)果的穩(wěn)定性影響很大。因此推薦用戶選擇HE-NE激光器。

　　(2)光電探測器：國內(nèi)產(chǎn)品采用的光電探測器的種類大同小異，一般就是半環(huán)式、點陣式等，半環(huán)式的優(yōu)勢是能夠以較少的通道數(shù)達(dá)到很高的探測精度。而且在出現(xiàn)斷環(huán)時可以臨時采取并環(huán)操作，對測試結(jié)果影響很小。點陣式屬于比較老的探測器類型，現(xiàn)在用的比較少。

　　(3)儀器結(jié)構(gòu)問題：主要分為整體式和分體式，整體式就是將分散系統(tǒng)和測試系統(tǒng)整合為一體，協(xié)同操作，分體式則是分散系統(tǒng)獨立于測試系統(tǒng)，測試者需要先操作分散系統(tǒng)，將樣品分散好再將分散好的樣品通過管道導(dǎo)入測試系統(tǒng)進(jìn)行測試。這樣的缺點是協(xié)同操作性不好，比較重的顆粒容易在管道中沉淀，清洗不便且對測試結(jié)果有一定影響，現(xiàn)在整體式結(jié)構(gòu)的儀器是發(fā)展方向，進(jìn)口產(chǎn)品大都采用整體式結(jié)構(gòu)，國內(nèi)的產(chǎn)品也慢慢在向整體式結(jié)構(gòu)發(fā)展。

　　(4)光路設(shè)計問題：光路設(shè)計是激光粒度儀研制的基礎(chǔ)，進(jìn)口產(chǎn)品的優(yōu)勢不但在制造工藝上，光路的設(shè)計水平也是技術(shù)先進(jìn)的標(biāo)志，國內(nèi)的廠家現(xiàn)在大都采用簡單的平行光路設(shè)計，據(jù)了解濟(jì)南微納公司推出的產(chǎn)品中采用了匯聚光傅立葉變換光路。這種光路是一種比較先進(jìn)的光路，能夠獲得更寬的散射角，在提高測試精度方面有一定的優(yōu)勢。

　　LS-POP(9)型激光粒度儀是歐美克儀器公司加入英國思百吉集團(tuán)后，依靠思百吉強(qiáng)大的研發(fā)管理經(jīng)驗，結(jié)合歐美克銷量zui大的儀器LS-POP(6)的市場應(yīng)用特點，繼承LS-POP(6)適應(yīng)惡劣工作環(huán)境、性價比高等優(yōu)點，借鑒國外粒度儀先進(jìn)平臺而打造出的一款全新儀器。該儀器測試性能更強(qiáng)、性價比更高，將會給粉體行業(yè)帶來清新的感覺。