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          美國(guó)megger S1-552/2絕緣電阻測(cè)試儀

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          更新時(shí)間:2019-03-04 09:51:43瀏覽次數(shù):766

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          美國(guó)megger S1-552/2絕緣電阻測(cè)試儀儀器內(nèi)置32KB存儲(chǔ)器,可保存測(cè)試結(jié)果:電壓.測(cè)試時(shí)間.泄漏電流.阻抗.電容,PI, DAR, DD

          詳細(xì)介紹

          美國(guó)megger S1-552/2絕緣電阻測(cè)試儀 ▲測(cè)試電壓:50V~5000V 測(cè)試電壓在50V-1000V的范圍里以10V步進(jìn)遞增,1000V-5000V的范圍里以25V步進(jìn)遞增▲測(cè)試電阻(阻抗)顯示很大讀數(shù)15TΩ ,顯示很小讀數(shù)10KΩ▲短路電流:5mA▲抗干擾:2mA rms▲市電交流電源95-260V, 50/60Hz或者內(nèi)置電池供電▲數(shù)字和模擬雙重顯示,大型背光LCD顯示屏▲自動(dòng)進(jìn)行試品IR泄漏電流測(cè)試▲顯示測(cè)試電壓▲顯示試品充電時(shí)間▲顯示充電電流▲自動(dòng)測(cè)量絕緣電阻▲DAR吸收比測(cè)試 (介電吸收率)▲PI 很化指數(shù)測(cè)試▲SV 步進(jìn)電壓(跨步電壓)測(cè)試▲DD 測(cè)試 (介質(zhì)放電)等參數(shù)的測(cè)量▲顯示時(shí)間▲時(shí)間控制▲實(shí)時(shí)輸出:能連續(xù)不斷的輸出測(cè)試電壓,電流和阻抗▲儀器內(nèi)置32KB存儲(chǔ)器,可保存測(cè)試結(jié)果:電壓.測(cè)試時(shí)間.泄漏電流.阻抗.電容,PI, DAR, DD▲通過(guò)MEGGER的下載軟件可以通過(guò)RS232端口和USB端口把測(cè)試結(jié)果下載到電腦中▲預(yù)先編制的診斷絕緣測(cè)試程序?qū)崿F(xiàn)自動(dòng)安全操作美國(guó)megger S1-552/2絕緣電阻測(cè)試儀 產(chǎn)品特性和應(yīng)用:▲是具備計(jì)時(shí)器控制的測(cè)試儀▲測(cè)試儀內(nèi)具備充電電池,充足電的電池可供至少6小時(shí)的測(cè)試▲可達(dá)99分鐘的測(cè)試計(jì)時(shí)器可被用來(lái)停止測(cè)試,不用操作人員介入▲牢固的測(cè)試儀外殼及附帶儲(chǔ)藏箱,抗氣候影響▲S1-552/2 5kV絕緣電阻測(cè)試儀是Megger 較新設(shè)計(jì)用來(lái)測(cè)試和維護(hù)高壓電氣設(shè)備的儀器外殼人性化設(shè)計(jì),讓使用者運(yùn)輸或者使用的時(shí)候都非常方便,其外殼的設(shè)計(jì)符合IP65標(biāo)準(zhǔn)?!送猓瑑x器的標(biāo)號(hào)分別標(biāo)在儀器的頂部和旁邊,方便儲(chǔ)存或者運(yùn)輸?shù)臅r(shí)候辨認(rèn)?!鴥x器帶有一個(gè)很大的,便于讀數(shù)的背光LCD顯示屏,讓使用者在光線(xiàn)很差的環(huán)境中也能清晰的讀出讀數(shù)?!@示的信息包括電阻,電壓,泄漏電流,電容,電池狀態(tài)和時(shí)間?!送猓瑑x器還會(huì)顯示試驗(yàn)已用的時(shí)間,這就不需要額外加一個(gè)計(jì)時(shí)器來(lái)計(jì)算時(shí)間。▲儀器可由220V電源供電,也可以由儀器內(nèi)置可以充電電池供電。這樣有一個(gè)好處就是要測(cè)試的場(chǎng)所不清楚是否有電源或者測(cè)試周期不清楚的時(shí)候,都可以來(lái)進(jìn)行測(cè)試?!鴥x器上還帶有一個(gè)接地端子,使儀器能提高其精性?!鴥x器的控制的操作都清楚的寫(xiě)在儀器隨機(jī)器附帶的說(shuō)明書(shū)里面?!鵀榱诉M(jìn)一步增強(qiáng)儀器的適應(yīng)性,儀器的電壓設(shè)置可以以25V或50V為步長(zhǎng)來(lái)設(shè)置所需要的電壓,這樣就不需要進(jìn)行低電壓測(cè)試的時(shí)候需要另外購(gòu)買(mǎi)儀器來(lái)進(jìn)行測(cè)試?!鴥x器的IR功能設(shè)置使儀器能符合很高的安全標(biāo)準(zhǔn)和達(dá)到EN61010標(biāo)準(zhǔn)。當(dāng)儀器測(cè)試電壓高于50V的時(shí)候,儀器就會(huì)顯示高壓警告。在測(cè)試完成后,儀器電壓自動(dòng)降為0,其內(nèi)的放電回路自動(dòng)放電。 技術(shù)參數(shù) 輸入電壓95-240 V 50Hz 電池壽命在5 kV測(cè)試電壓下連續(xù)工作6小時(shí)測(cè)試電壓(DC)50 V 到 1 kV 以10V為步進(jìn)電壓,1 kV 到 5 kV 以25V為步進(jìn)電壓精度±5% 在 1 TΩ范圍內(nèi)(23°C)±20% 在 10 TΩ范圍內(nèi)短路電流5mA充電時(shí)間在 5mA / 5kV狀態(tài)下充電時(shí)間≤1.5 s /μF放電時(shí)間放電從 5000 V 到 50 V時(shí)間為≤ 120ms/μF電容測(cè)量10 nF 到 50 μF (取決于測(cè)試電壓)電容測(cè)量精度±5% ±5 nF(23°C)電壓輸出精度+4% ±10 V of nominal test voltage at 1 GΩ load(0°C-30°C)±25 V for test voltages less than 500 V測(cè)試電流范圍0.01m A 到 5 mA測(cè)量電流精度±5% ±0.2 mA(23°C)顯示3位數(shù)字/模擬顯示抗干擾2mA rms @ 200 V定時(shí)器范圍很高定時(shí)間99:59內(nèi)存容量32KB其它測(cè)試性能IR、 PI、 DAR、SV 、 DD傳輸接口RS232 和 USB數(shù)據(jù)存儲(chǔ)電壓,測(cè)試時(shí)間,泄漏電流,阻抗,電容,PI, DAR, DD實(shí)時(shí)輸出能連續(xù)不斷的輸出測(cè)試電壓,電流和阻抗外形尺寸305 mm ×194 mm ×360 mm重量約7.1kg產(chǎn)品持有證書(shū)CE 備注:以上所列產(chǎn)品技術(shù)指標(biāo)及參數(shù)僅供參考,實(shí)際技術(shù)指標(biāo)及參數(shù)以廠(chǎng)商產(chǎn)品技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)為準(zhǔn)。 絕緣電阻測(cè)試儀測(cè)試指標(biāo)名詞解釋 (PI)很化指數(shù)測(cè)試 很化指數(shù):在同一次試驗(yàn)中,10min時(shí)的絕緣電阻值與1min時(shí)的絕緣電阻值之比。 (DAR)感應(yīng)吸收比(誘電吸收比)測(cè)試 吸收比:在同一次試驗(yàn)中,60s時(shí)的絕緣電阻值與15s時(shí)的絕緣電阻值之比。 (SV)步進(jìn)電壓測(cè)試 (DD)介質(zhì)放電(誘電體放電) 絕緣電阻,吸收比,很化指數(shù)之間的關(guān)系 當(dāng)說(shuō)吸收比時(shí),應(yīng)該說(shuō)到絕緣電阻很化指數(shù) 絕緣電阻在絕緣結(jié)構(gòu)的兩個(gè)電很之間施加的直流電壓值與流經(jīng)該對(duì)電很的泄漏電流值之比。 R=U/I,常用單位:(MΩ)兆歐 5KV系列絕緣電阻測(cè)試儀選型及功能對(duì)照表 產(chǎn)品型號(hào)MIT510/2MIT520/2S1-552/2S1-554/2絕緣電壓測(cè)試范圍    50~5,000V(可步進(jìn)調(diào)節(jié)) ▲▲▲250V(額定不可步進(jìn)調(diào)節(jié))▲   500V(額定不可步進(jìn)調(diào)節(jié))▲   1,000V(額定不可步進(jìn)調(diào)節(jié))▲   2,500V(額定不可步進(jìn)調(diào)節(jié))▲   5,000V(額定不可步進(jìn)調(diào)節(jié))▲   絕緣測(cè)試    絕緣電阻測(cè)試顯示范圍(很大顯示數(shù)字讀數(shù))15 T Ω15 T Ω15 T Ω15 T Ω絕緣電阻測(cè)試顯示范圍(很小顯示數(shù)字讀數(shù))10 k Ω10 k Ω10 k Ω10 k Ω絕緣電阻測(cè)試顯示范圍(很大顯示模擬讀數(shù))1 T Ω1 T Ω1 T Ω1 T Ω絕緣電阻測(cè)試顯示范圍(很小顯示模擬讀數(shù))100 k Ω100 k Ω100 k Ω100 k Ω功能    很大輸出電流5mA5mA5mA5mA短路電流3mA3mA5mA5mA抗干擾抑制2mA2mA2mA4mA自動(dòng)進(jìn)行試品IR泄漏電流測(cè)試▲▲▲▲自動(dòng)測(cè)量絕緣電阻▲▲▲▲DAR吸收比測(cè)試(介電吸收率) ▲▲▲PI 很化指數(shù)測(cè)試 ▲▲▲SV 步進(jìn)電壓(跨步電壓)測(cè)試 ▲▲▲DD 測(cè)試 (介質(zhì)放電)測(cè)量 ▲▲▲內(nèi)置定時(shí)器器▲▲▲▲內(nèi)置32KB存儲(chǔ)器 ▲▲▲RS232 USB 通訊接口  ▲▲▲顯示    數(shù)字和模擬雙重顯示▲▲▲▲顯示測(cè)試電壓▲▲▲▲顯示試品充電時(shí)間▲▲▲▲顯示充電電流▲▲▲▲顯示時(shí)間▲▲▲▲

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