目錄:束蘊(yùn)儀器(上海)有限公司>>三維X射線顯微鏡(XRM)>> Freiberg-Omega/Theta XRDX射線衍射儀-單晶硅定向儀
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更新時(shí)間:2024-09-12 07:32:40瀏覽次數(shù):2256評(píng)價(jià)
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價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類 | 雙晶衍射 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,能源,電子,航天,電氣 |
弗萊貝格Omega/Theta X射線衍射儀-單晶硅定向儀能提供自動(dòng)的晶格定位和樣品校準(zhǔn)的在線解決方案,我們專注于超高速和準(zhǔn)確的 Omega掃描方法,可在幾秒鐘內(nèi)確定完整的晶體取向??商砑佣S(X-Y)或三維掃描,全自動(dòng)化的搖擺曲線測(cè)量,使得XRD單晶定向儀成為單晶制造商質(zhì)量控制環(huán)節(jié)中一個(gè)重要組成部分。
?應(yīng)用范圍
作為快速、簡(jiǎn)單、可靠的X射線單晶定向儀,弗萊貝格Omega/Theta Omega/Theta X射線衍射儀-單晶硅定向儀被廣泛應(yīng)用于工業(yè)生產(chǎn)的質(zhì)量控制、材料研發(fā)等領(lǐng)域,主要用于超高速晶體定向和搖擺曲線的測(cè)量。
?應(yīng)用技術(shù)
?應(yīng)用實(shí)例
案例1:
藍(lán)寶石取向 mapping、搖擺曲線測(cè)量:窄反射峰=表面質(zhì)量好
案例2:
SiC 取向 mapping、搖擺曲線測(cè)量:寬反射峰=晶體表面局部干擾
案例3:
碳化硅晶圓檢測(cè)案例——晶體取向mapping
1.總傾斜偏差mapping
2.表面傾斜偏差mapping
3.垂直方向傾斜偏差mapping
4.水平傾斜偏差mapping
5.搖擺曲線mapping
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)