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沖擊試樣缺口投影儀原理
閱讀：2703 發(fā)布時(shí)間：2021-7-2| 提 供 商 | 深圳思邁科技技術(shù)有限公司 | 資料大小 | 17.8KB |
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| 資料類型 | WORD 文檔 | 瀏覽次數(shù) | 2703次 |
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隨著國(guó)內(nèi)工業(yè)技術(shù)的發(fā)展，越來越多的行業(yè)對(duì)夏比V型U型缺口沖擊試驗(yàn)要求越來越高， 日前國(guó)內(nèi)諸如航空、航天、兵器、鍋爐壓力容器、冶金和機(jī)械等行業(yè)已普遍采用夏比V型U型缺口沖擊試驗(yàn)取代使用了幾十年的梅氏U型缺口沖擊試驗(yàn)。根據(jù)國(guó)內(nèi)廣大用戶的實(shí)際需求和國(guó)標(biāo)GB/T229-2020《金屬材料夏比擺錘試驗(yàn)方法》中對(duì)沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計(jì)、開發(fā)的一種專用于檢查夏比V型（深2mm）和U型（深2mm）沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專用光學(xué)儀器，是廣大冶金、鍋爐壓力容器、車船和工程機(jī)械制造及科研等部門理化實(shí)驗(yàn)室的專用設(shè)備。也可根據(jù)客戶的要求定做，滿足檢測(cè) 3mm 或 5mm 沖擊試樣缺口的需要。
對(duì)于夏比V型U型缺口沖擊試驗(yàn)，由于試樣V型U型缺口要求嚴(yán)格（試樣缺口深2mm、呈45°角且試樣缺口根部要求R0.25±0.025mm），故在整個(gè)試驗(yàn)過程中，試樣的V型U型缺口加工是否合格成了關(guān)鍵問題，如果試樣缺口的加工質(zhì)量不合格，那么其試驗(yàn)的結(jié)果是不可信的，特別是R0.25mm缺口根部的微小變化（其公差帶只有0.025mm），都會(huì)引起試驗(yàn)結(jié)果的陡跳，尤其是在試驗(yàn)的臨界值時(shí)會(huì)引起產(chǎn)品或報(bào)廢或合格兩種截然相反的結(jié)果。為保證加工出的夏比V型缺口合格，其缺口的加工質(zhì)量檢驗(yàn)是一個(gè)重要的質(zhì)量控制手段。用數(shù)字光學(xué)投影放大檢查是切實(shí)可行并能保證檢查質(zhì)量的方法。TOP-IG型沖擊試樣缺口投影儀是我公司根據(jù)日前國(guó)內(nèi)廣大用戶的實(shí)際需求和GB/T229-2020《金屬材料夏比缺口沖擊試驗(yàn)方法》中對(duì)沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計(jì)、開發(fā)的一種專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專用光學(xué)儀器。