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        1. 上海右一儀器有限公司
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          德國EPKMiniTest4100涂層鍍層測厚儀
          • 德國EPKMiniTest4100涂層鍍層測厚儀
          舉報

          貨物所在地:上海上海市

          地: 德國

          更新時間:2024-08-08 09:49:31

          瀏覽次數:149

          在線詢價收藏商機

          ( 聯系我們,請說明是在 化工儀器網 上看到的信息,謝謝?。?/p>

          干燥箱 培養(yǎng)箱 恒溫設備
          旋轉粘度計
          水分測定儀
          FLUKO弗魯克
          電子天平衡器
          電熱恒溫培養(yǎng)箱
          加熱恒溫干燥設備
          電化學分析儀
          攪拌乳化混合機
          超聲波清洗器
          凈化滅菌消毒
          光學分析儀器
          物理特性分析儀
          光譜色譜儀器
          通用配件耗材
          德國EPKMiniTest4100涂層鍍層測厚儀
          ? 鋼鐵基體上的非磁性覆層
          ? 有色金屬上的絕緣覆層
          ? 絕緣基體上的有色金屬覆層

          品牌:EPK
          名稱:測厚儀
          型號:MiniTest 4100

           

           用于測量以下覆層(覆層包括涂層,鍍層等):

          l鋼鐵基體上的非磁性覆層

          l有色金屬上的絕緣覆層

          l絕緣基體上的有色金屬覆層

          技術參數:

          技術特征

          1100

          2100

          3100

          4100

          MINITEST存儲的數據量

           

           

           

           

          應用行數(根據不同測頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數)

          1

          1

          10

          99

          每個應用行下的組(BATCH)數(對組內數據自動統(tǒng)計計算,可設寬容度極限值)

           

          1

          10

          98

          可用各自的日期時間標識特性的組數

           

          1

          500

          500

          數據總量

          1

          10000

          10000

          10000

          MINITEST統(tǒng)計計算功能

           

           

           

           

          讀數的六種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar

           

           

           

          讀數的八種統(tǒng)計值x(均值的均值),s,n,max,min,kvar,cp,cpk

           

           

          組統(tǒng)計值六種x,x,n,max,min,kvar

           

           

           

          組統(tǒng)計值八種 x(均值的均值),s,n,max,min,kvar,cp,cpk

           

           

          存儲顯示每一應用行下的所有組內數據

           

           

           

          分組打印以上顯示和存儲得數據、統(tǒng)計值

           

           

          顯示并打印測量值、打印的日期和時間

           

          MINITEST 校準方法

           

           

           

           

          透過涂層進行校準(CTC

           

          在粗糙表面上作平均零校準

          利用PC機進行基礎校準

          補償一個常數(OFFSET

           

           

          外設的讀值傳輸存儲功能

           

          保護并鎖訂校準值

          更換電池時存儲讀值

          設置極限值

           

           

          公英制轉換

          連續(xù)測量模式快速測量,通過模擬柱識別小值

           

           

          連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀值

          浮點或定點方式數據傳送

          無需連接測頭即可讀數值

           

          組內單值延遲顯示

           

          連續(xù)測量模式中顯示小值

          可選用測頭的技術數據:

          測頭

          量程

          低端

          分辨率

          容差

          小曲率半徑(凸/凹)

          小測量

          面積

          小基體

          厚度

          尺寸(mm

          FN1.6

          0—1600μm

          0.1μm

          ±1%+1μm

          1.5mm/10mm

          φ5mm

          F0.5mm/N50μm

          φ15x62

          FN1.6P

          0—1600μm

          0.1μm

          ±1%+1μm

          只限平直表面

          φ30mm

          F0.5mm/N50μm

          φ21x89

          FN2(也適合銅上鉻)

          0—2000μm

          0.2μm

          ±1%+1μm

          1.5mm/10mm

          φ5mm

          F0.5mm/N50μm

          φ15x62

          F05

          0—500μm

          0.1μm

          ±1%+0.7μm

          1mm/5mm

          φ3mm

          0.2mm

          φ15x62

          F1.6

          0—1600μm

          0.1μm

          ±1%+1μm

          1.5mm/10mm

          φ5mm

          0.5mm

          φ15x62

          F3*

          0—3000μm

          0.2μm

          ±1%+1μm

          1.5mm/10mm

          φ5mm

          0.5mm

          φ15x62

          F1.6/90(管內測頭)

          0—1600μm

          0.1μm

          ±1%+1μm

          平直/6mm

          φ5mm

          0.5mm

          φ8x8x170

          F2/90(管內測頭)

          0—2000μm

          0.2μm

          ±1%+1μm

          平直/6mm

          φ5mm

          0.5mm

          φ8x8x170

          F10

          0—10mm

          5μm

          ±1%+10μm

          5mm/16mm

          φ20mm

          1mm

          φ25x46

          F20

          0—20mm

          10μm

          ±1%+10μm

          10mm/30mm

          φ40mm

          2mm

          φ40x65

          F50

          0—50mm

          10μm

          ±3%+50μm

          50mm/200mm

          φ300mm

          2mm

          φ45x70

          N02

          0—200μ

          0.1μm

          ±1%+0.5μmm

          1mm/10mm

          φ2mm

          50μm

          φ16x70

          N08Cr(適合銅上鉻)

          0—80μm

          0.1μm

          ±1%+1μm

          2.5mm

          φ2mm

          100μm

          φ15x62

          N1.6

          0—1600μm

          0.1μm

          ±1%+1μm

          1.5mm/10mm

          φ2mm

          50μm

          φ15x62

          N2

          0—2000μm

          0.2μm

          ±1%+1μm

          1.5mm/10mm

          φ5mm

          50μm

          φ15x62

          N1.6/90 (管內

          測頭)

          0—1600μm

          0.1μm

          ±1%+1μm

          平直/10mm

          φ5mm

          50μm

          φ13x13x170

          N2/90 (管內測頭)

          0—2000μm

          0.2μm

          ±1%+1μm

          平直/10mm

          φ5mm

          50μm

          φ13x13x170

          N10

          0—10mm

          10μm

          ±1%+25μm

          25mm/100mm

          φ50mm

          50μm

          φ60x50

          N20

          0—20mm

          10μm

          ±1%+50μm

          25mm/100mm

          φ70mm

          50μm

          φ65x75

          N100

          0—100mm

          100μm

          ±1%+0.3mm

          100mm/平直

          φ200mm

          50μm

          φ126x155

          CN02(絕緣基體上的有色金屬覆層)

          10—200μm

          0.2μm

          ±1%+1μm

          只限平直表面

          φ7mm

          無限制

          φ17x80

          電源:1X9V堿性電池或外接電源                                

          電池壽命:10000次測量                       

          工作環(huán)境溫度:主機0-50℃,測頭-10-70℃,暫時工作可達120℃

          主機尺寸/重量:150mmx82mmx35mm/270克

          *另有耐高溫測頭

          適用標準:

          DIN50891,50982,50984,ISO2178,2360,BS5411,ASTM B 499,B244-CE ISO   

          ElektroPhysik

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