測量波紋度粗糙度儀測針0102505——東京精密粗糙度儀
高穩(wěn)定雙光路型激光干涉?zhèn)鞲衅?/span>
●應用東京精密的核心技術之一的光纖激光干涉測長系統(tǒng)，開發(fā)出分辨率0.31nm的高穩(wěn)定雙光路型激光干涉?zhèn)鞲衅鞑⒋钶d在產品上。
●動態(tài)量程與分辨率之比高達42,000,000 ：1，一次跟蹤即可評價大范圍的輪廓形狀及其隱藏在形狀下面的微細表面形狀，是一款劃時代的產品。
在驅動部搭載線性馬達
●憑借線性馬達驅動，實現了高精度·高速移動。
●電子低振動化穩(wěn)定，可以實現高倍率測定。
只需一次測量即可進行粗糙度和輪廓的分析
●可在保持高精度的同時提高測量效率。
大量程
●橫向200mm，縱向13mm，測量范圍大。
●可±45°自動控制驅動部傾斜（SURFCOM CREST-T型號）
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