在使用SEM力學(xué)樣品臺(tái)實(shí)驗(yàn)時(shí),用戶選擇Push-to-Pull模塊可實(shí)現(xiàn)樣品拉伸實(shí)驗(yàn),或者選擇加熱模塊可實(shí)現(xiàn)熱場(chǎng)和力場(chǎng)耦合實(shí)驗(yàn),加熱模塊可選搭載push-to-pull模塊的程序升溫方式(RT-1000℃,1K),或者選擇加電模塊(*大電壓±50V,電流范圍: pA~mA )。SEM力學(xué)樣品臺(tái)可以應(yīng)用的范圍有:
1、材料力學(xué)研究
(1)力和位移瞬態(tài)效應(yīng)相關(guān)材料的研究
(2)位錯(cuò)卒發(fā)研究
(3)應(yīng)力下的晶相轉(zhuǎn)變研究
(4)納米線、納米球的力學(xué)測(cè)試,剪切帶或者斷裂發(fā)生
(5)材料失效分析
2、材料力學(xué)測(cè)試
(1)壓痕測(cè)試
(2)拉伸測(cè)試(配拉伸臺(tái))
(3)納米壓痕測(cè)試
(4)納米劃痕測(cè)試
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
立即詢價(jià)
您提交后,專屬客服將第一時(shí)間為您服務(wù)