本公司提供的透射電鏡力電原位系統是通過MEMS芯片在原位樣品臺內構建力、電復合多場自動控制及反饋測量系統，結合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多種不同模式，實現從納米層面實時、動態(tài)監(jiān)測樣品在真空環(huán)境下隨電場、施加力變化產生的微觀結構、相變、元素價態(tài)、微觀應力以及表/界面處的結構和成分演化等關鍵信息。
透射電鏡力電原位系統的優(yōu)勢：
1、力學性能
（1）高精度壓電陶瓷驅動，納米級別精度數字化精確定位。
（2）可進行壓縮、拉伸、彎曲等微觀力學性能測試。
（3）nN級力學測量噪音。
（4）具備連續(xù)的載荷-位移-時間數據實時自動收集功能。
（5）具備恒定載荷、恒定位移、循環(huán)加載控制功能，適用于材料的蠕變特性、應力松弛、疲勞性能研究。
2、優(yōu)異的電學性能
（1）芯片表面的保護性涂層保證電學測量的低噪音和精確性，電流測量精度可達皮安級。
（2）MEMS微加工特殊設計，電場和力學加載同時進行，相互獨立控制。
3、智能化軟件
（1）人機分離，軟件遠程控制納米探針運動。
（2）自動測量載荷-位移數據。
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