透射電子顯微鏡(TEM)是使用較為廣泛的電子顯微鏡之一，和掃描電子顯微技術共同組成了電子顯微學的“兩大支柱”。TEM的測試原理是利用透過樣品的電子進行成像和結構分析，由于電子的穿透能力較弱，樣品的厚度、導電性、磁性和分散性等特征對測試結果的好壞起到直接的影響。因此，相比于掃描電鏡樣品的制備，透射電鏡的制樣更加復雜和精細，對于不同的材料應當根據(jù)其特性并采用合適的制樣方法。
TEM測試中，為了獲取高質量的樣品圖像，制樣很關鍵。在制樣的過程中，其中載網(wǎng)的選擇也是至關重要。載網(wǎng)通常是一種多孔的金屬片，對樣品起加固和支撐作用。
本公司提供的多孔氮化硅TEM載網(wǎng)是透射電鏡常用的耗材之一，其主要作用為在電鏡觀察時負載樣品，為了能夠負載一些小尺寸的樣品，載網(wǎng)上通常需要覆蓋一層載網(wǎng)膜，載網(wǎng)膜的種類繁多，常見的載網(wǎng)膜為碳膜。多孔氮化硅TEM載網(wǎng)是以高純單晶硅為基底，超薄氮化硅(10-50nm)為支撐膜，可實現(xiàn)原子級分辨率。具有耐電子束輻照，電子束穿透率高，成像背景均勻和噪音小等優(yōu)點。
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