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名 稱(chēng)：薄膜固體測(cè)試儀
型 號(hào)：X3PCST
品 牌：上海析譜
上海析譜薄膜固體測(cè)量?jī)xX3PCST透光率測(cè)試儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
X3PCST透光率測(cè)試儀（薄膜固體測(cè)試儀）是專(zhuān)為薄膜、玻璃、珠寶、紡織、手機(jī)屏、液晶顯示屏等制造行業(yè)設(shè)計(jì)的光譜測(cè)試儀。該儀器可以對(duì)手機(jī)屏、液晶顯示屏進(jìn)行定波長(zhǎng)測(cè)試和光譜掃描，是質(zhì)量監(jiān)測(cè)的檢測(cè)工具。
優(yōu)勢(shì)：固體、薄膜、玻璃或者亞克力等 特薄、特厚、特大的樣品直接平放測(cè)試，方便快捷、測(cè)試數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確。
專(zhuān)業(yè)測(cè)試固體樣品、規(guī)格 φ5.0mm -500*500mm 厚度：0.01-100mm固體、薄膜、啤酒瓶、建筑玻璃、觸屏行業(yè)、紡織、珠寶鑒定、真空鍍膜等、單層、多層窗玻璃構(gòu)件光學(xué)性能的測(cè)定等，儀器等級(jí)GB/T26798-2011 Ⅱ級(jí).
開(kāi)機(jī)自校；聯(lián)PC操作端；軟件版本win10 光譜分析家。
優(yōu)勢(shì)：固體、薄膜、玻璃或者亞克力等 特薄、特厚、特大的樣品直接平放測(cè)試，方便快捷、測(cè)試數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確。
開(kāi)機(jī)自校；聯(lián)PC操作端；軟件版本UV9.0 win10 64位。
上海析譜薄膜固體測(cè)量?jī)xX3PCST透光率測(cè)試儀性能特點(diǎn)：
1、PCST薄膜固體測(cè)試儀，采用了全新的光學(xué)平臺(tái)，ARM芯片控制和處理數(shù)據(jù)，人機(jī)交互操作，儀器單機(jī)具有透射測(cè)試，吸光度測(cè)試。
2、專(zhuān)業(yè)測(cè)試固體樣品、規(guī)格最小 φ1.0mm -500*500mm 厚度：0.01-100mm固體、護(hù)目鏡、薄膜、啤酒瓶、建筑玻璃、觸屏行業(yè)、紡織、珠寶鑒定、真空鍍膜等、單層、多層窗玻璃構(gòu)件，光學(xué)性能的測(cè)定等。
3、進(jìn)口環(huán)保型氘燈系統(tǒng)，有效減少您對(duì)臭氧的吸入；進(jìn)口OSRAM鎢燈座、OSRAM長(zhǎng)壽命鎢燈。
4、插座式氘燈和鎢燈設(shè)計(jì)，能使您在換燈后免去光學(xué)調(diào)試的煩惱；
5、寬大的樣品臺(tái)，專(zhuān)業(yè)測(cè)試：特薄、特小、特厚、特大件！測(cè)試更方便、更準(zhǔn)確、更效率、不再需要任何薄膜夾具，
6、強(qiáng)大的存儲(chǔ)功能，能保存各種類(lèi)型的數(shù)據(jù)；
薄膜固體測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)：
產(chǎn)品型號(hào) | UV-2202PCST | X3PCST |
光學(xué)系統(tǒng) | 單光束 C T 光路結(jié)構(gòu) 1600條/mm 高性能衍射光柵 | |
光譜帶寬 | 0.5/1/2/4nm | |
波長(zhǎng)范圍 | 190—1100 nm | 325-1100nm |
波長(zhǎng)分辨率 | 0.1 nm 光學(xué)焦距200mm | |
數(shù)據(jù)顯示 | 2*20液晶顯示（標(biāo)配UV win10 PC端） | |
波長(zhǎng)精度 | ±0.3nm (實(shí)測(cè)0.3nm)±0.1nm（@656.1nmD2,) | |
波長(zhǎng)重復(fù)性 | ≤0.2nm | |
雜散光 | ≤0.05%T | |
光度范圍 | 0-200%T，-0.301-3.0A，0-9999C | |
光度精度 | ±0.002A(0-0.5A), ±0.3%T(0-100%T) | |
光度重復(fù)性 | ±0.001A(0-0.5A), ±0.15%T(0-100%T) | |
電源 | AC 90-240V | |
標(biāo)配：薄膜固體測(cè)試儀壹臺(tái)、應(yīng)用軟件壹套、應(yīng)用數(shù)據(jù)線(xiàn)一套、隨機(jī)資料一份 | ||
