產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
Thick 800AX光膜厚儀
高精度移動(dòng)平臺(tái)可定位測試點(diǎn),重復(fù)定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自動(dòng)定位測試高度滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測試點(diǎn)的需求
定位激光確定定位光斑,確保測試點(diǎn)與光斑對(duì)齊
鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái),鼠標(biāo)的位置就是被測點(diǎn)
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加,微小測試點(diǎn)更。
X射線鍍層測厚儀廠家優(yōu)勢在于滿足客戶要求的情況下,價(jià)格更優(yōu)惠、售后服務(wù)更方便,維護(hù)成本更低。
Thick 800AX光膜厚儀 標(biāo)準(zhǔn)配置
開放式樣品腔。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測器。
信號(hào)檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護(hù)傳感器
精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái),探測器和X光管上下可動(dòng),實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。
技術(shù)指標(biāo)
產(chǎn)品名稱:X射線鍍層測厚儀
型號(hào):Thick 800A
度適應(yīng)范圍為15℃30℃。
元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)。
同時(shí)可以分析30種以上元素,五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9%
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序。
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)。
外觀尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg
應(yīng)用領(lǐng)域
金屬鍍層的厚度測試, 電鍍液和鍍層含量的測定;貴金屬加工和飾加工行業(yè);銀行,飾銷售和檢測機(jī)構(gòu);電鍍行業(yè)。
X射線鍍層測厚儀廣泛應(yīng)用于電子電器、五金工具、印刷線路板、電鍍鋁合金企業(yè)等。