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          鐵鍍鎳測(cè)厚儀Thick800A,天瑞儀器

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          • 鐵鍍鎳測(cè)厚儀Thick800A,天瑞儀器
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          具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
          • 型號(hào)
          • 品牌 SKYRAY/天瑞儀器
          • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
          • 所在地 蘇州市
          在線詢(xún)價(jià) 收藏產(chǎn)品

          更新時(shí)間:2023-11-08 20:15:41瀏覽次數(shù):760

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          鐵鍍鎳測(cè)厚儀Thick800A,天瑞儀器 鍍層厚度測(cè)試方法一般有以下幾種方法:

          1、光學(xué)顯微鏡法。適用標(biāo)準(zhǔn)為:GB/T6462-2005

          2、X-ray法(X射線法)。適用標(biāo)準(zhǔn)為:GB/T16921-2005

          3、庫(kù)侖法,此法一般為仲裁方法。適用標(biāo)準(zhǔn)為:GB/T4955-2005

          詳細(xì)介紹

          鐵鍍鎳測(cè)厚儀Thick800A,天瑞儀器

          測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)

          1國(guó)標(biāo)GB/T 16921-2005/ISO 3497:2000
           金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量X射線光譜方法
          2.美國(guó)標(biāo)準(zhǔn)A754/A754M-08
          Coating Weight(mass)of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence
          Thick 800A鐵鍍鋅鎳合金測(cè)厚儀是專(zhuān)門(mén)針對(duì)鍍層厚度測(cè)量而精心設(shè)計(jì)的一款新型儀器。主要應(yīng)用于:金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定; 、鉑、銀等貴金屬和各種飾的含量檢測(cè)。

          鐵鍍鎳測(cè)厚儀Thick800A,天瑞儀器性能特點(diǎn)

          1.精密的三維移動(dòng)平臺(tái); 
          2.的樣品觀測(cè)系統(tǒng); 
          3.的圖像識(shí)別; 
          4.輕松實(shí)現(xiàn)深槽樣品的檢測(cè); 
          5.四種微孔聚焦準(zhǔn)直器,自動(dòng)切換; 
          6.雙重保護(hù)措施,實(shí)現(xiàn)無(wú)縫防撞; 
          7.采用大面積高分辨率探測(cè)器,有效降低檢出限,提高測(cè)試精度。
          安裝要求:
          1   環(huán)境溫度要求:15℃-30℃
          2   環(huán)境相對(duì)濕度:<70%
          3   工作電源:交流220±5V
          4   周?chē)荒苡袕?qiáng)電磁干擾。

          參數(shù)規(guī)格

          1.分析元素范圍:硫(S)~鈾(U); 
          2.同時(shí)檢測(cè)元素:多24個(gè)元素,多達(dá)5層鍍層;
          3.分析含量:一般為2ppm到99.9%;
           4.鍍層厚度:一般在50μm以?xún)?nèi)(每種材料有所不同);
          5.SDD探測(cè)器:分辨率低135eV;
          6.的微孔準(zhǔn)直技術(shù):小孔徑達(dá)0.1mm,小光斑達(dá)0.1mm;
          7.樣品觀察:配備全景和局部?jī)蓚€(gè)工業(yè)高清攝像頭; 
          8.準(zhǔn)直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與Ф0.3mm四種準(zhǔn)直器組合; 
          9.儀器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm;
          10.樣品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm;
          11.樣品臺(tái)尺寸:393(W)x 258 (D)mm;
          12.X/Y/Z平臺(tái)移動(dòng)速度:額定速度200mm/s 速度333.3mm/s;
          13.X/Y/Z平臺(tái)重復(fù)定位精度:小于0.1um;

          儀器配置                                            
          1    硬件:主機(jī)壹臺(tái),含下列主要部件: 
          (1)   X光管                 (2) 半導(dǎo)體探測(cè)器
          (3) 放大電路                (4) 高精度樣品移動(dòng)平臺(tái)
          (5) 高清晰攝像頭            (6) 高壓系統(tǒng)
          (7) 上照、開(kāi)放式樣品腔      (8)雙激光定位
          (9) 玻璃屏蔽罩
          2   軟件:天瑞X射線熒光光譜儀FpThick分析軟件V1.0
          3   計(jì)算機(jī)、打印機(jī)各一臺(tái)
          計(jì)算機(jī)(品牌,P4,液晶顯示屏)、打印機(jī)(佳能,彩色噴墨打印機(jī))
          4   資料:使用說(shuō)明書(shū)(包括軟件操作說(shuō)明書(shū)和硬件使用說(shuō)明書(shū))、出廠檢驗(yàn)合格證明、裝箱單、保修單及其它應(yīng)提供資料各一份。

           

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