產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
環(huán)境標(biāo)準(zhǔn)HJ 780 -2015用土壤重金屬分析儀隨著工業(yè)化和城市化的飛速發(fā)展,土壤環(huán)境問(wèn)題越來(lái)越受到重視,土壤重金屬污染,特別是工業(yè)區(qū)土壤金屬污染,已逐漸成為環(huán)境學(xué)界研究的熱點(diǎn)。土壤污染中重金屬主要指汞、鎘、鉛、鉻以及各類金屬砷等有生物毒性顯著的重金屬,也指具有一定毒性的一般重金屬如鋅、銅、鈷、鎳、錫等,目前引起人們關(guān)注的重金屬是汞、鎘、鉛等。重金屬對(duì)土壤的污染是短期不可逆過(guò)程,在土壤-植物系統(tǒng)中,重金屬污染通過(guò)食物鏈進(jìn)入農(nóng)產(chǎn)品,影響農(nóng)產(chǎn)品質(zhì)量安全,危害人類健康,因此對(duì)土壤重金屬污染監(jiān)測(cè)是非常必要的。
根據(jù)國(guó)土資源部新的調(diào)查數(shù)據(jù),耕種土地面積的10%以上已受重金屬污染,約有1.5億畝,污水灌溉污染耕地3250萬(wàn)畝,固體廢棄物堆存占地和毀田200萬(wàn)畝,其中多數(shù)集中在經(jīng)濟(jì)較發(fā)達(dá)地區(qū)。中國(guó)環(huán)境與發(fā)展合作委員會(huì)公布,環(huán)保部在對(duì)我國(guó)30萬(wàn)公頃基本農(nóng)田保護(hù)區(qū)土壤有害重金屬抽樣監(jiān)測(cè)發(fā)現(xiàn),有3.6萬(wàn)公頃土壤重金屬超標(biāo),超標(biāo)率達(dá)12.1%。
近年來(lái),重金屬污染事故頻發(fā),如陜西鳳翔兒童血鉛超標(biāo)、山東臨沂砷污染事件、湖南瀏陽(yáng)鎘污染事件、紫金礦業(yè)污染事件、廣西龍江鎘污染事件等。這些重金屬污染事件不但給社會(huì)帶來(lái)了重大的經(jīng)濟(jì)損失也威脅著人們的健康生活,也引起國(guó)家相關(guān)環(huán)保部門(mén)的高度重視,同時(shí)把重金屬污染防治,深化重金屬監(jiān)測(cè)工作擺在了更加緊迫、更加重要的位置上。目前,由環(huán)保部牽頭制定的《土壤環(huán)境保護(hù)“十二五”規(guī)劃》已進(jìn)入國(guó)務(wù)院審批程序,該規(guī)劃預(yù)計(jì)將帶動(dòng)產(chǎn)業(yè)總投資達(dá)數(shù)千億元。
與此同時(shí),2015年12月14日環(huán)境保護(hù)部發(fā)布了土壤和沉積物環(huán)境標(biāo)準(zhǔn)HJ 780 -2015——《土壤和沉積物 無(wú)機(jī)元素的測(cè)量波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法》。此標(biāo)準(zhǔn)2016年2月1日?qǐng)?zhí)行。此標(biāo)準(zhǔn)對(duì)25種無(wú)機(jī)元素和7中氧化物的質(zhì)量分?jǐn)?shù)范圍提出了要求。針對(duì)這一標(biāo)準(zhǔn),本公司推出一款EDX 3200S PLUS熒光光譜儀,能夠快速、地分析土壤中金屬元素,K、Ca、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Ga、Rb、Y、Ba、Sr、Br、Th、Pb、As和Zr元素的檢出限和定量限*HJ 780-2015環(huán)境保護(hù)標(biāo)準(zhǔn)要求。
X射線熒光光譜法測(cè)試原理:
X射線熒光光譜法是一種現(xiàn)代儀器分析方法,通過(guò)X射線管產(chǎn)生入射X射線(一次X射線),激發(fā)被測(cè)樣品;受激發(fā)的樣品中的每一種元素會(huì)發(fā)出特征X射線(二次X射線)——這種特征X射線具有特定的能量和波長(zhǎng)特性(莫塞萊定律),這些放射出來(lái)的二次X射線的能量及數(shù)量被探測(cè)系統(tǒng)測(cè)量,通過(guò)配套軟件將這些射線信號(hào)轉(zhuǎn)化為樣品中各種組分元素的具體含量。
1 儀器測(cè)試方法
圖1 X射線熒光分析流程圖
1.1 設(shè)備及試劑
設(shè)備:X射線熒光光譜儀一臺(tái) EDX3200S PLUS;電子天平一臺(tái)(精度0.01g);自動(dòng)壓片機(jī)一臺(tái)(壓力不小于40T);鼓風(fēng)干燥箱一臺(tái);振動(dòng)磨一臺(tái);非金屬樣品篩(200目)
試劑: 硼酸粉末(分析純);土壤國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì);土壤樣品
1.2 樣品的采集、保存和前處理
土壤樣品的采集和保持按照HJ/T166執(zhí)行,樣品的風(fēng)干或烘干按照HJ/T166相關(guān)規(guī)定進(jìn)行操作,樣品研磨后過(guò)200目篩,于105℃烘干備用。
用電子天平稱量5.00g過(guò)篩(200目)的土壤標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)或樣品和12.00g硼酸粉末(鑲邊材質(zhì)),稱量誤差±0.05g。然后放入壓片機(jī)中壓片成型,壓力30T(壓力范圍20~30T),保壓時(shí)間30s。
1.3 工作曲線的建立和樣品分析
設(shè)定適當(dāng)?shù)臏y(cè)量條件,使用EDX3200S PLUS掃描國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)(簡(jiǎn)稱標(biāo)樣)GSS-1~GSS-15,建立土壤標(biāo)樣中關(guān)注元素含量與強(qiáng)度的線性工作曲線。然后,對(duì)未知樣品進(jìn)行測(cè)量。
2. 測(cè)量及數(shù)據(jù)分析
2.1 土壤中關(guān)注的金屬元素及氧化物檢出限測(cè)量
EDX 3200S PLUS 配有三組濾光片,根據(jù)土壤中關(guān)注元素的特性,設(shè)置測(cè)試條件。用國(guó)家土壤標(biāo)樣GSS-1-GSS-15標(biāo)定儀器,建立環(huán)境土壤工作曲線。在環(huán)境土壤工作曲線下,使用高純SiO2 做基體,連續(xù)測(cè)試11次,根據(jù)檢出限公式: 3倍的基體的標(biāo)準(zhǔn)偏差除以儀器的靈敏度
終獲得EDX 3200S PLUS測(cè)量土壤樣品的方法檢出限,如下表所示
表1 土壤樣品中金屬元素及氧化物的檢出限
序號(hào) | 元素/化合物 | 國(guó)標(biāo)要求 檢出限 | 儀器檢出限 | 判定 |
1 | K2O | 1500.0 | 72.2 | 滿足 |
2 | CaO | 2700.0 | 39.3 | 滿足 |
3 | Ti | 150.0 | 6.7 | 滿足 |
4 | V | 12.0 | 1.1 | 滿足 |
5 | Cr | 9.0 | 3.6 | 滿足 |
6 | Mn | 30.0 | 2.2 | 滿足 |
7 | Fe2O3 | 1500 | 6.6 | 滿足 |
8 | Co | 4.8 | 0.13 | 滿足 |
9 | Ni | 4.5 | 1.2 | 滿足 |
10 | Cu | 3.6 | 2.4 | 滿足 |
11 | Zn | 6.0 | 3.26 | 滿足 |
12 | Ga | 6.0 | 1.76 | 滿足 |
13 | As | 6.0 | 6.0 | 滿足 |
14 | Br | 3.0 | 1.3 | 滿足 |
15 | Rb | 6.0 | 1.0 | 滿足 |
16 | Sr | 6.0 | 1.3 | 滿足 |
17 | Y | 3.0 | 1.2 | 滿足 |
18 | Zr | 6.0 | 1.8 | 滿足 |
19 | Pb | 6.0 | 6.0 | 滿足 |
20 | Th | 6.3 | 2.4 | 滿足 |
21 | Ba | 35.1 | 13.5 | 滿足 |
注:
1、Co受Fe元素Kb嚴(yán)重干擾,通過(guò)公式得出極低檢出限是有一定的偏差。
2、由于這個(gè)型號(hào)儀器沒(méi)有抽真空(或充氦氣),所以沒(méi)有做輕元素如Na2O、MgO、Al2O3和SiO2等。而La、Ce、Hf受散射本底影響無(wú)法得到有效譜,P、S、Cl在國(guó)家土壤標(biāo)樣中都是高含量,沒(méi)有合適的低含量標(biāo)樣,主要的原因是受本底影響很大,譜圖不規(guī)則,均沒(méi)有考慮。
3. 滿足國(guó)標(biāo)的元素有K、Ca、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Ga、Rb、Y、Ba、Sr、Br、As、Pb、Th和Zr。
EDX 3200S PLUS系列儀器介紹環(huán)境標(biāo)準(zhǔn)HJ 780 -2015用土壤重金屬分析儀
圖2 EDX 3200S PLUS 熒光光譜儀
EDX 3200S PLUS 屬于江蘇天瑞儀器股份有限公司自主研發(fā)的產(chǎn)品,設(shè)備采用了能量色散X射線熒光光譜技術(shù)實(shí)現(xiàn)土壤中微量金屬有害元素的快速檢測(cè),設(shè)備采用了的探測(cè)器和激發(fā)源等硬件配置。
本產(chǎn)品除了測(cè)量土壤和水系沉積物外,還可以用于稻米、小麥、谷物、煙草等作物中的重元素鎘(Cd)、鉛(Pb)、砷(As)和硒(Se)的快速無(wú)損檢測(cè)。
性能參數(shù)
產(chǎn)品型號(hào):EDX 3200S PLUS
產(chǎn)品名稱:X熒光光譜儀
測(cè)量元素范圍:從鈉(S)到鈾(U)
元素含量分析范圍: ppm—99.99%(不同元素,分析范圍不同)
同時(shí)分析元素:一次性可測(cè)幾十種元素
測(cè)量時(shí)間:60秒-300秒
探測(cè)器能量分辨率為:可達(dá)125eV
管壓:5KV-70KV
管流:50μA-1000μA
測(cè)量對(duì)象狀態(tài):粉末、固體、液體
輸入電壓:AC 110V/220V
環(huán)境溫度:15℃-30℃
環(huán)境濕度:35%-70%