產(chǎn)品簡介
詳細介紹
設(shè)備介紹
EDX 3600KX射線光譜儀的亮點在于它大鈹窗超薄口的高分辨SDD探測器和自旋式的樣品腔,產(chǎn)品通過了江蘇省計量科學(xué)研究院的檢測,并通過中國儀器儀表學(xué)會分析儀器分會組織的科技成果鑒定,技術(shù)達到水平。
具有重現(xiàn)性好,測量速度快,靈敏度高的特點。能分析F(9)~U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片,液體等,分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業(yè)樣品。無標半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析,并能給出半定量結(jié)果,結(jié)果度對某些樣品可以接近定量水平,分析時間短。薄膜分析軟件FP-MULT1能作鍍層分析,薄膜分析。
硬件配置
自動切換型準直器和濾光片
真空腔體
自動穩(wěn)譜裝置
鈹窗電制冷SDD探測器
自旋式樣品腔
高效超薄窗X光管
超近光路增強系統(tǒng)
可自動開啟的測試蓋
90mm×70mm的液晶屏
的數(shù)字多道技術(shù)
多變量非線性回歸程序
相互獨立的基體效應(yīng)校正模型
軟件優(yōu)勢
采用公司新的能譜EDXRF軟件,的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化的應(yīng)用軟件,具有高靈敏度、測試時間短、一鍵智能化操作,操作簡易,對操作人員限制小的特點。
具有多種測試模式設(shè)置和無限數(shù)目模式自由添加,內(nèi)置強度校正方法,可校正幾何狀態(tài)不同和結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品造成的偏差。
的軟件界面和內(nèi)核,采用FP和EC軟件組合的方法,應(yīng)用面更加廣泛。
技術(shù)參數(shù)
型號:EDX3600K
X射線源:50KV、1mA
樣品腔體積:Φ40.5mm×39.5mm
分析方法:能量色散X熒光分析方法
測量元素范圍:原子序數(shù)為9~92[氟(F)到鈾(U)]之間的元素均可測量
檢測元素:同時分析元素達三十多種,可根據(jù)客戶需要增加元素
含量范圍:ppm~99.99%
檢測時間:10秒以上
操作環(huán)境濕度:≤90%
操作環(huán)境溫度:15℃~30℃
檢測對象:標準粉未壓片及可以放入標準樣品杯的固體、液體及粉末
探測器及分辨率:超大超薄的SDD探測器,分辨率 為144±5eV,可選配極速探測器125eV
激發(fā)源:銠靶或鎢靶光管根據(jù)客戶需求可供選擇
攝像頭:高清攝像頭
測井環(huán)境:超真空系統(tǒng),10秒可抽到10Pa以下,大氣、氦氣均可以
準直器和濾光片:四組準直器(7、5、3、1mm),6種濾光片組合自動切換
自旋裝置:可調(diào)速的自旋裝置
檢出限:對樣品中的大多數(shù)元素來說,檢出限達5~500ppm
真空系統(tǒng):超真空系統(tǒng),10秒可到10Pa
數(shù)據(jù)傳輸:數(shù)字多道技術(shù),快速分析,高計數(shù)率
測試臺:360°電動旋轉(zhuǎn)式
保護系統(tǒng):樣品腔為電動控制,上蓋打開時測試已完成
樣品放置:*的樣品杯設(shè)計,自帶壓環(huán),可防止樣品晃動
數(shù)字多道技術(shù):計數(shù)率>50kcps,有效計數(shù)率高500kcps
外形尺寸及重量:669mm×540mm×874mm,90KG
應(yīng)用領(lǐng)域
專為粉未冶煉行業(yè)研發(fā)的一款設(shè)備,主要應(yīng)用在水泥冶煉、鋼鐵冶煉、礦冶煉(銅礦、鉛礦等)、鋁冶煉、玻璃制造、耐火材料分析、各種粉未冶金分析行業(yè)、石油勘探錄井分析領(lǐng)域。
同時在地質(zhì)、礦樣、冶金、稀土材料、環(huán)境監(jiān)測、有色金屬、食品、農(nóng)業(yè)等科研院所、大專院校和工礦企業(yè)中也得到廣泛應(yīng)用。
X射線光譜儀屬于的分析檢測儀器,隨著半導(dǎo)體微電子技術(shù)和計算機技術(shù)的飛速發(fā)展,傳統(tǒng)的光學(xué)、熱學(xué)、電化學(xué)、色譜、波譜類分析技術(shù)都已從經(jīng)典的化學(xué)精密機械電子學(xué)結(jié)構(gòu)、實驗室內(nèi)人工操作應(yīng)用模式,轉(zhuǎn)化成光、機、電、算(計算機)一體化、自動化的結(jié)構(gòu),并向智能化、小型化、在線式及儀器聯(lián)用方向發(fā)展。天瑞公司在以已掌握的成熟的臺式技術(shù)為基礎(chǔ),結(jié)合國外相關(guān)新的技術(shù)發(fā)展成果,研制出具有自主知識產(chǎn)權(quán)的EDX 3600K型。