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詳細介紹
GE歐規(guī)接觸法直探頭MB4S MB4S-EN MB4S-O MB2S
歐規(guī)接觸法直探頭
京海興樂科技（北京）有限公司公司主要提供UT（超聲）MT（磁粉）PT（滲透）RT（射線）等設(shè)備及周邊耗材
主要經(jīng)營品牌：美國奧林巴斯OLYMPUS（原泛美）、美國GE（原德國KK）、美國磁通Magnaflux
汕超（汕頭超聲）、瑞典蘭寶、美國SP公司、美國達高特、英國易高、新美達、德國MR、船牌、等等
應(yīng)用
用于檢測簡單形狀的工件中平行于表面的缺陷
鍛件、鑄件
金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料
板材、棒材、方形材
容器、機器零件、殼體
特點
縱波單晶探頭
適合DGS缺陷評判
性能參數(shù)誤差小，適合高精度檢測
可更換保護膜，保護探頭不被磨損
柔性保護膜，即使是在粗糙或輕微彎曲的表面上也能很好地耦合
合金壓鑄殼體，堅固耐用
用于高溫檢測時可加裝高溫延遲塊（定制產(chǎn)品）
接觸法直探頭,帶保護膜
直探頭要用于手動檢測。應(yīng)用接觸法探傷時，需要在測量區(qū)域或多個測量區(qū)域涂上薄薄的一層耦合劑，然后直接將探頭放置在被測物體表面進行檢測。接觸法探傷將探頭分別放置在各檢測點逐點檢測，或者在被測物體表面連續(xù)移動探頭來完成的。
接觸法直探頭, 帶保護膜探頭
應(yīng)用
• 一般檢測目的, 簡單形狀的大零件
• 鍛件, 鑄件
• 板材, 棒材, 方型材
• 容器, 機器零件, 殼體
• 高溫檢測時帶延遲塊
性能特征
• 歐款有可更換膜:
- 在不平整和曲面上增進耦合
- 延長探頭壽命
- 適于DGS缺陷評定
- 可連接高溫延遲塊
- Lemo 1(B..S) 或 Lemo 00 (MB..S) 連接端口, 標準為側(cè)裝, 頂裝可選
• 美款有三種類型的保護:
- 膜可以在不平整和曲面上增進耦合.
- 耐磨帽定期更換可*延長探頭壽命
- 高溫延遲塊可以實現(xiàn) 00°F ( 00°C)表面檢測.
- BNC 連接端口, 頂裝或側(cè)裝
帶保護膜探頭—歐洲規(guī)格
B..S 和 MB..S 型
0,5μS/Div 0-4MHz典型波形和頻譜
外殼類型 | A | B | C | |||
mm | in | mm | in | mm | in | |
類型2 | 30 | 1.18 | 59 | 2.32 | 45 | 1.69 |
類型3 | 20 | 0.79 | 43 | 1.77 | 25 | 0.98 |
類型 | 訂購號碼 | D | f | N | 備注 | ||
mm | in | (MHz) | mm | in | |||
B1S | 57744 | 24 | 0.94 | 1 | 23 | 0.9 |
|
B1S-EN | 500035 | 24 | 0.94 | 1 | 23 | 0.9 | 符合 DIN EN 12668-2 |
B1S-O | 57755 | 24 | 0.94 | 1 | 23 | 0.9 | 頂端接口 |
B2S | 57745 | 24 | 0.94 | 2 | 45 | 1.8 |
|
B2S-EN | 500036 | 24 | 0.94 | 2 | 45 | 1.8 | 符合 DIN EN 12668-2 |
B2S-O | 57756 | 24 | 0.94 | 2 | 45 | 1.8 | 頂端接口 |
B2S-O-EN | 500267 | 24 | 0.94 | 2 | 45 | 1.8 | 符合 DIN EN 12668-2 頂端接口 |
B4S | 57746 | 24 | 0.94 | 4 | 88 | 3.5 |
|
B4S-EN | 500037 | 24 | 0.94 | 4 | 88 | 3.5 | 符合 DIN EN 12668-2 |
B4S-O | 57757 | 24 | 0.94 | 4 | 88 | 3.5 | 頂端接口 |
B4S-O-EN | 500268 | 24 | 0.94 | 4 | 88 | 3.5 | 符合 DIN EN 12668-2 頂端接口 |
B5S | 57747 | 24 | 0.94 | 5 | 110 | 4.3 |
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MB2S | 57748 | 10 | 0.39 | 2 | 8 | 0.3 |
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MB2S-EN | 500038 | 10 | 0.39 | 2 | 8 | 0.3 | 符合 DIN EN 12668-2 |
MB2S-O | 57975 | 10 | 0.39 | 2 | 8 | 0.3 | 頂端接口 |
MB4S | 57749 | 10 | 0.39 | 4 | 16 | 0.6 |
|
MB4S-EN | 500039 | 10 | 0.39 | 4 | 16 | 0.6 | 符合 DIN EN 12668-2 |
MB4S-O | 57976 | 10 | 0.39 | 4 | 16 | 0.6 | 頂端接口 |
MB5S | 57750 | 10 | 0.39 | 5 | 20 | 0.8 |
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MB5S-O | 57977 | 10 | 0.39 | 5 | 20 | 0.8 | 頂端接口 |
可定制特殊規(guī)格
附件
描述 | 類型 | 備注 |
保護膜 （1套=10片） | ES45(53756) ES24(53769) | 用于B..S; 用于MS..S |
延遲塊或斜塊 | 特殊訂單 | 如用于高溫檢測 |
電纜線 | PKLL2(50326) MPKL2(50486) | 用于B..S; 用于MS..S |
帶保護膜探頭—北美規(guī)格
晶片尺寸 | A | B | C | ||||
mm | in | mm | in | mm | in | mm | in |
13 | 0.5 | 19.1 | 0.75 | 30.5 | 1.2 | 23.9 | 0.94 |
19 | 0.75 | 25.4 | 1 | 30.5 | 1.2 | 30.2 | 1.19 |
25 | 1 | 31.8 | 1.25 | 30.5 | 1.2 | 36.6 | 1.44 |
帶保護膜探頭—PFCR (側(cè)裝BNC), PFCS (頂裝BNC)
頻率 | 晶片尺寸Ø | 訂購號碼 | 頻率 | 晶片尺寸Ø | 訂購號碼 | ||||
(MHz) | mm | in | Gamma 系列PFCR | Gamma 系列PFCR | (MHz) | mm | in | Gamma 系列PFCR | Gamma 系列PFCR |
1 | 13 | 0.5 | 241-240 | 241-260 | 3.5 | 13 | 0.5 | 243-240 | 243-260 |
19 | 0.75 | 251-240 | 251-260 | 19 | 0.75 | 253-240 | 253-260 | ||
25 | 1 | 261-240 | 261-260 | 25 | 1 | 263-240 | 263-260 | ||
2.25 | 13 | 0.5 | 242-240 | 242-260 | 5 | 13 | 0.5 | 244-240 | 244-260 |
19 | 0.75 | 252-240 | 252-260 | 19 | 0.75 | 254-240 | 254-260 | ||
25 | 1 | 262-240 | 262-260 | 25 | 1 | 264-240 | 264-260 | ||
注意: 備用保護膜套裝另售. 可訂制特殊規(guī)格
備用保護膜套裝—PFCR/PFCS
套裝類型 | 訂購號碼 | ||
探頭晶片尺寸Ø | |||
.5in | .75in | 1.00in | |
(13mm) | (19mm) | (25mm) | |
PM | 118-450-120 | 118-450-140 | 118-450-160 |
PWC | 118-450-220 | 118-450-240 | 118-450-260 |
PHTD-1.0in(25.4mm)延遲塊 | 118-450-320 | 118-450-340 | 118-450-260 |
PHTD-1.5in(38.1mm)延遲塊 | 118-450-420 | 118-450-440 | 118-450-460 |
PM型工具包包括一個滾花環(huán)、壓緊螺母、扳手、12片薄膜和一瓶2盎司的耦合劑(不包括探頭) 。
PWC型工具包包括一個滾花環(huán)、三個防磨帽和一瓶2盎司的 耦合劑（不包括探頭) 。如果對近表面分辨率要求很高，則不能采用該選項。
PHTD型工具包包括一個滾花環(huán)、一個1英寸或1.5英寸長的高溫延遲塊和一瓶2盎司的耦合劑 (不包括探頭) 。
| 訂購號碼 | ||
探頭晶片尺寸Ø | |||
.5in | .75in | 1.00in | |
(13mm) | (19mm) | (25mm) | |
保護膜 每包12片 | 118-220-020 | 118-220-021 | 118-220-022 |
耐磨帽 每包12個 | 118-240-123 | 118-240-122 | 118-240-121 |
高溫延遲塊*長1.0in(25.4mm) | 118-440-027 | 118-440-031 | 118-440-035 |
高溫延遲塊*長1.5in(38.1mm) | 118-440-029 | 118-440-033 | 118-440-037 |
BNC 電纜線 | 118-140-016 | ||
保護膜，耐磨帽 以及延遲塊 耦合劑 | 118-300-740 | ||
*高溫（PHTD）延遲塊：zui高溫度400F，zui大接觸時間為10秒；重新使用前冷卻到環(huán)境溫度。
探頭選擇準則與性能
直探頭---單晶
• 被檢測件有規(guī)則外形和相對光滑的接觸表面
• 接觸面或平或曲
• 缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測
• 適于穿透厚部件
• 延遲塊用以提高近場分辨率
• 需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
• 通常用于手動檢測
直探頭---雙晶
• 接受發(fā)射單元用串?dāng)_擋板分開
• 缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測
• 近表面分辨率好，用于較薄部件
• 需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
• 通常用于手動檢測
斜探頭
• 晶片安裝在內(nèi)置的或者可更換的斜塊上
• 利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
• 大多數(shù)標準探頭通過模式轉(zhuǎn)換
• 適于傾斜缺陷的檢測，如焊縫
• 有單晶探頭和雙晶探頭
• 需要耦合層，一般為凝膠，油類
• 有時用于機械化或自動化檢測
水浸探頭
• 在水中匹配好，效率高
• 適于具有不規(guī)則表面的被檢測件
• 通常用于機械化或者自動化檢測
• 耦合*性好，檢測重復(fù)性高
• 大型零件可以采用探頭架， 溢流法或者水射流法
• 探頭聚焦可以增進效果
聚焦的優(yōu)點
• 球面聚焦形成點狀
• 柱面聚焦形成線狀
聚焦優(yōu)勢
探頭選擇準則—歐洲規(guī)格
按照歐洲標準生產(chǎn)的探頭, 本目錄提供的技術(shù)性能信息依照下表定義。
絕大多數(shù)的探傷儀探頭都免費提供全面的性能數(shù)據(jù)表。
性能參數(shù) | 解釋 |
晶片尺寸 D 或 a×b | 探頭晶片的直徑D或長度×寬度a×b。它的尺寸大小對聲波的傳輸有極大的影響。輕微的偏差，如形狀的偏差,或粘接不良造成的位置偏差而產(chǎn)生的聲能衰減，即使是利用參考缺陷進行標定,都將產(chǎn)生嚴重的評估誤差。 |
標稱頻率f | 所有相同類型探頭的均值頻率，頻率對反射體的評定有極大的影響。對斜反射體，頻率甚至影響聲場波形和反射特性。隨著頻率的增加，非垂直反射體對聲束的反射回波減小。這就是為什么每一個探頭都要由我們的質(zhì)量控制部門根據(jù)鑒定標準進行嚴格檢測，以確定其頻率是否與標稱頻率相*，保證在一定的誤差范圍內(nèi)。這個數(shù)據(jù)輸入到探頭的數(shù)據(jù)參數(shù)表。 |
帶寬B | 脈沖回波的幅值比zui高幅值下降 dB之間的頻率范圍。B=fo-fu/fx 100% fo=幅值下降 dB的上限頻率，fu=幅值下降 dB的下限頻率，f為標稱頻率。例如，當(dāng)B=100%，一個4MHz的探頭的fo為6MHz，而fu為2MHz。大的帶寬意味著更短的脈沖回波，也就意味著高的分辨率和更好的穿透能力，因為低頻脈沖比標稱頻率脈沖的衰減小。在高衰減情形下，與標稱頻率相比，隨著距離的增加，反射信號的頻率減小。這一點在進行缺陷評估時必須要加以考慮。因此每一個探頭的帶寬都要進行檢查，并且與所有探頭的平均值相*，保證在一定的誤差范圍內(nèi)。 |
焦距F | F：小缺陷產(chǎn)生zui大回波時探頭到小缺陷的距離。探頭要進行聚焦以便探測小缺陷并得到zui大的回波 |
近場長度N | 近場長度N是非聚焦探頭的焦距長度，它是聲軸線上能得到聲壓極大值的zui遠距離。N的大小由D、c和f來決定。由于D>>λ，所以：N=Deff/4λ=Deffxf/4c其中λ為波長，c為聲速，Deff是單元有效直徑焦點處和近場長度處聲能zui為集中，反射體zui易識別。因此重要測試場合一般預(yù)期缺陷在焦距或近場長度處。表中的數(shù)據(jù)對鋼材而言，而水浸探頭為水。 |
焦點直徑FD | 在焦距或近場長度附近，聲壓值比主聲軸下降 dB處到主聲軸的距離 |
脈沖形狀 | 來自于平面反射面的信號表述。 |
頻譜 | 回波脈沖中所有頻率的顯示，頻率幅值在頻率上顯示。 |
聲束角度β | 主聲束與檢測面法線之間的夾角 |
探頭選擇準則—北美規(guī)格
根據(jù)北美標準生產(chǎn), 通用電氣檢測科技提供三種系列的探頭: Alpha, Benchmark, 和Gamma系列。根據(jù)ASTME-0，對所有探傷儀所用探頭免費提供波形和頻率證書。
Alpha 系列特性
• 推薦用于分辨率是首要考慮目標的場合.
• 適于測厚和近表面缺陷測量.
• 脈沖短—機械衰減大到目前技術(shù)極限.
• 增益通常低于Benchmark和Gamma系列.
• 寬帶—6dB 帶寬范圍從50% 到100%.
• 依據(jù)頻率，尺寸和其他參數(shù)，典型的Alpha 系列波形（右）有一到兩個周期振蕩。
Benchmark 系列特性
• 產(chǎn)品BENCHMARK COMPOSITE®（壓電復(fù)合材料）晶片
• 在衰減材料中的穿透力遠高于傳統(tǒng)探頭。
• 在粗晶，纖維增強復(fù)合等材料中信噪比高。
• 脈沖短—分辨率通常高于Gamma系列。
• 增益通常高于Gamma和Alpha系列。
• 超寬帶—6dB 帶寬范圍從60% 到120%.
• 低聲阻抗晶片提高了斜探頭、延遲式探頭和水浸探頭的性能—與塑料和水可以*地匹配。
Gamma 系列特性
• 通用型探頭，推薦用于大多數(shù)應(yīng)用。
• 中等脈沖寬度, 中等阻尼—增益和分辨率的*結(jié)合.
• 匹配電路在常用場合確保了zui大增益和理想的波形.
• 中等帶寬—典型的6dB帶寬從30% 到50%.
• 依據(jù)頻率，尺寸和其他參數(shù)，典型的Gamma系列波形有三到四個周期振蕩。
化工儀器網(wǎng)