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詳細(xì)介紹
B2S（57745）美國GE保護(hù)膜探頭
應(yīng)用
用于檢測簡單形狀的工件中平行于表面的缺陷
鍛件、鑄件
金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料
板材、棒材、方形材
容器、機器零件、殼體
類型 | 訂購號碼 | D | f | N | 備注 | ||
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| mm | in | (MHz) | mm | in |
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B1S | 57744 | 24 | 0.94 | 1 | 23 | 0.9 |
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B1S-EN | 500035 | 24 | 0.94 | 1 | 23 | 0.9 | 符合 DIN EN 12668-2 |
B1S-O | 57755 | 24 | 0.94 | 1 | 23 | 0.9 | 頂端接口 |
B2S | 57745 | 24 | 0.94 | 2 | 45 | 1.8 |
|
B2S-EN | 500036 | 24 | 0.94 | 2 | 45 | 1.8 | 符合 DIN EN 12668-2 |
B2S-O | 57756 | 24 | 0.94 | 2 | 45 | 1.8 | 頂端接口 |
B2S-O-EN | 500267 | 24 | 0.94 | 2 | 45 | 1.8 | 符合 DIN EN 12668-2 頂端接口 |
B4S | 57746 | 24 | 0.94 | 4 | 88 | 3.5 |
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B4S-EN | 500037 | 24 | 0.94 | 4 | 88 | 3.5 | 符合 DIN EN 12668-2 |
B4S-O | 57757 | 24 | 0.94 | 4 | 88 | 3.5 | 頂端接口 |
B4S-O-EN | 500268 | 24 | 0.94 | 4 | 88 | 3.5 | 符合 DIN EN 12668-2 頂端接口 |
B5S | 57747 | 24 | 0.94 | 5 | 110 | 4.3 |
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直探頭：
B1S,B2S,B4S,MB2S,MB4S,MB5S,K1G,K2G,K4G,K1N,K2N,K4N,K5N,K5K,K10K,G1N,G2N,G4N,G2KB,G5KB,G5K,G10K,
B1F,B2F,B4F,B5F,MB2F,MB4F,MB5F,MB10F,
應(yīng)用
用于檢測簡單形狀的工件中平行于表面的缺陷
鍛件、鑄件
金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料
板材、棒材、方形材
容器、機器零件、殼體
特點
縱波單晶探頭
適合DGS缺陷評判
性能參數(shù)誤差小，適合高精度檢測
可更換保護(hù)膜，保護(hù)探頭不被磨損
柔性保護(hù)膜，即使是在粗糙或輕微彎曲的表面上也能很好地耦合
合金壓鑄殼體，堅固耐用
用于高溫檢測時可加裝高溫延遲塊（定制產(chǎn)品）
022-508-909 測厚儀（英文版） CL 5 (English)
022-509-102 測厚儀（中文版） CL 5 (Chinese)
GEIT1480176 超聲波探傷儀 USM GO+ base
GEIT1480179 超聲波探傷儀 USM Go+ AWS DAC
GEIT1480181 超聲波探傷儀 USM Go+ AWS DGS
GEIT1480180 超聲波探傷儀 USM GO+ ADVANCE
083-500-495 測厚探頭 DA501 EN
083-500-502 測厚探頭 DA503 EN
113-552-013 測厚探頭 DA512
118-140-054 探頭線 KBA-533
113-534-761 測厚探頭 DA590EN
113-534-769 測厚探頭 DA590
118-140-120 探頭線 KBA-DA590
118-140-123 探頭線 KBAMJ-DA590
113-527-660 測厚探頭 ALPHA-2 DFR
113-518-655 測厚探頭 Mini-DFR
113-526-000 測厚探頭 ALPHA-2F
113-118-661 測厚探頭 ALPHA DFR-P
113-544-000 測厚探頭 CA211A
389-030-290 測厚探頭 K-pen
022-505-604 探頭線 C-604
0058160 探頭線 CL 331
接觸法探頭
接觸法直探頭, 帶保護(hù)膜
應(yīng)用
• 一般檢測目的, 簡單形狀的大零件
• 鍛件, 鑄件
• 板材, 棒材, 方型材
• 容器, 機器零件, 殼體
• 高溫檢測時帶延遲塊
性能特征
• 歐款有可更換膜:
- 在不平整和曲面上增進(jìn)耦合
- 延長探頭壽命
- 適于DGS缺陷評定
- 可連接高溫延遲塊
- Lemo 1(B..S) 或 Lemo 00 (MB..S) 連接端口, 標(biāo)準(zhǔn)為側(cè)裝, 頂裝可選
• 美款有三種類型的保護(hù):
- 膜可以在不平整和曲面上增進(jìn)耦合.
- 耐磨帽定期更換可*延長探頭壽命
- 高溫延遲塊可以實現(xiàn) 00°F ( 00°C)表面檢測.
- BNC 連接端口, 頂裝或側(cè)裝
帶保護(hù)膜探頭—歐洲規(guī)格
B..S 和 MB..S 型
0,5μS/Div 0-4MHz典型波形和頻譜可定制特殊規(guī)格
附件
描述 | 類型 | 備注 |
保護(hù)膜 （1套=10片） | ES45(53756) ES24(53769) | 用于B..S; 用于MS..S |
延遲塊或斜塊 | 特殊訂單 | 如用于高溫檢測 |
電纜線 | PKLL2(50326) MPKL2(50486) | 用于B..S; 用于MS..S |
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