詳細介紹
里氏硬度計HL210
產品介紹:
里氏硬度計HL210,是一種以里氏硬度試驗為理論依據,結合*的電子技術研制而成,用于測定金屬材料硬度的計量檢測儀器,可用于硬度范圍很寬的金屬材料試驗,特別適用于測定大型的、重型的、不宜拆卸的、空間狹小的、不同方向的及特殊部位的工件硬度。本儀器數字顯示硬度值,體積小、重量輕、測試簡單,具有攜帶方便、檢驗效率高、對試驗表面損傷輕微等優(yōu)點。本儀器可在保證產品質量,進行金屬材料失效分析等方面發(fā)揮重要作用。它的基本原理是具有一定質量的沖擊體在一定的試驗力作用下沖擊試樣表面,測量沖擊體距試樣表面1mm處的沖擊速度與回跳速度,利用電磁原理,感應與速度成正比的電壓。經計算處理后顯示硬度值。
產品特點:
采用128×64圖形點陣液晶顯示器,信息豐富。
全中文顯示,菜單式操作,操作簡單方便。
帶有USB接口,多種通訊方式適應不同用戶的個性需求。
一臺主機可配備7種不同沖擊裝置使用,更換時不需重新校準,自動識別沖擊裝置類型。
可存儲373~2688組(沖擊次數32~1)單次測量值、平均值、測量日期、沖擊方向、次數、材料、硬度制等信息。
可預先設置硬度值上、下限,超出范圍自動報警,方便用戶批量測試的需要。
白色背光顯示,方便在暗環(huán)境使用。
液晶上有充電過程指示,操作者可隨時了解充電程度。
具有示值軟件校準功能。
支持“鍛鋼(Steel)”材料,當用D/DC型沖擊裝置測試“鍛鋼”試樣時,可直接讀取HB值,省去了人工查表的麻煩。
打印機與主機集成一體設計,可打印任意份數的測量結果。
內置大容量鋰離子充電電池及充電控制電路,超長的工作時間。
根據用戶要求,可配備微機軟件,功能更加強大,滿足質量保證活動和管理的更高要求。
測試原理:
隨著單片技術的發(fā)展,1978年,瑞士人Leeb博士*提出了一種全新的測硬方法,它的基本原理是具有一定質量的沖擊體在一定的試驗力作用下沖擊試樣表面,測量沖擊體距試樣表面1mm處的沖擊速度與回跳速度,利用電磁原理,感應與速度成正比的電壓。里氏硬度值以沖擊體回跳速度與沖擊速度之比來表示。
計算公式:HL=1000*(VB/VA)
式中:HL--里氏硬度值
VB--沖擊體回跳速度
VA--沖擊體沖擊速度
測試步驟:
(1)將被檢測物體應平放于地面,必須保證平穩(wěn),不得有任何晃動,被檢測位置不得有懸空狀態(tài),必要時需加支撐塊;
(2) 打開硬度計→物體的材料設置→硬度值設置(HRCHRBHB)→硬度檢測方向設置→開始硬度檢測;
(3) 將沖擊裝置壓緊在被測表面并向下按一下,1s后再按硬度計上面凸出的小圓柱,硬度值就會自動顯示出來,在這過程中操作人員必須將沖擊裝置放穩(wěn),方向也應與被測面保持垂直狀態(tài);
(4) 每個檢測部位應至少測試3個點,兩測試點之間距離應≥3mm,測試完后取平均值做為該部位度,并記錄,然后進入下一個部位檢測;
(5) 測試結果與物體的要求進行比較,達到要求為合格,轉入下一道工序;不合格則轉入隔離區(qū),記錄檢測結果;
使用要求:
在現(xiàn)場工作中,經常遇到曲面試件,各種曲面對硬度測試結果影響不同,在正確操作的情況下,沖擊落在試件表面瞬間的位置與平面試件相同,故通用支撐環(huán)即可。但當曲率小到一定尺寸時,由于平面條件的變形的彈性狀態(tài)相差顯著會使沖擊體回彈速度偏低,從而使里氏硬度示值偏低。因此對試樣,建議測量時使用小支撐環(huán)。對于曲率半徑更小的試樣,建議選用異型支撐環(huán)。
一、對被測試件的一般要求試件表面應潔凈,無灰塵,無油污和無氧化皮。
二、對試件表面溫度的要求試件表面的溫度不能過熱,要求溫度小于120℃。測試溫度為4℃-38℃。
三、對試件表面粗糙度的要求試件表面粗糙度應滿足下表的要求,試件表面的粗糙度不但影響測試精度,而且影響沖擊球頭的使用壽命。
四、對試件重量的要求
1、對足夠重的試件不需要支撐,直接進行測試。
2、對重量不太重的試件,有懸伸部分的試件以及薄壁試件,在測試時應使用物體支撐,以避免沖擊力引起試件的扭曲、變形和移動。
3、對重量較小的試件,應使其與重量大與5kg的支撐體牢牢耦合,要求試件與支撐體表面必須平整、光滑,耦合劑(凡士林,機油等)用量不宜過多,測試方向必須垂直于耦合平面。
五、對試件表面硬化層厚度的要求對于表面覆有硬化層的試件,為保證測試精度,要求對應于不同的沖擊裝置試件表面硬化層厚度應符合規(guī)定:
六、對板材、管壁型試件厚度的要求對于板材、管材和其它薄片型試件的測試,為保證測試精度,要求對應于不同的沖擊裝置試件厚度應符合要求
七、對曲口試件保證測試精度的要求使用D型沖擊裝置,要求試件曲面半徑大于30mm;使用G型沖擊裝置,要求試件曲面半徑大于50mm。對不滿足上述要求的球面、柱面和凹面等曲口試件,為保證測試精度,應采用異型支撐環(huán)(選購件)。
八、對試件表面無磁性的要求試件表面不能帶有磁性,帶有磁性的試件將影響測試精度。要求試件剩磁應小于4G。
九、對試件無振動的要求測試時,試件所處的四周環(huán)境不應有振動,否則會影響測試結果。
技術參數:
測量范圍:HLD(170~960)HLD
測量方向:360°
硬度制:里氏、布氏、洛氏B、洛氏C、洛氏A、維氏、肖氏
顯示:LCD,128×64圖形點陣液晶
數據存儲:373~2688組(沖擊次數32~1)
上下限設置范圍:同測量范圍
工作電壓:8.2V
充電時間:3~5小時
充電電源:9V/1000mA
持續(xù)工作時間:約500小時(不開背光時)
通訊接口標準:USB
測量范圍:
標準配置: