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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
DB23X系列
DB230 CLR元件測(cè)試儀
DB232 CLR 元件測(cè)試儀
DB233z CLR 組件測(cè)試儀
DB236大電容測(cè)試儀
DB230 CLR元件測(cè)試儀
DB232 CLR 元件測(cè)試儀
DB233z CLR 組件測(cè)試儀
DB236大電容測(cè)試儀
詳細(xì)介紹
DB233z CLR 組件測(cè)試儀
DB23X系列
DB230 CLR元件測(cè)試儀
DB232 CLR 元件測(cè)試儀
DB233z CLR 組件測(cè)試儀
DB236大電容測(cè)試儀
概述
電容器的交流測(cè)量
用于精確測(cè)量電容、電感和電阻參數(shù)的 Danbridge 儀器套件包括供實(shí)驗(yàn)室使用的獨(dú)立測(cè)量電橋以及用于在工業(yè)環(huán)境中快速測(cè)量大量元件的自動(dòng)系統(tǒng)。
主要應(yīng)用：
在自動(dòng)分選機(jī)中快速、精確地測(cè)試電容器。
薄膜/箔電容器測(cè)試：
薄膜/箔電容器測(cè)試通常通過(guò) 1kHz 電容測(cè)試和 100kHz tan ? 或 ESR 測(cè)試進(jìn)行。雙頻測(cè)試是一個(gè)功能，可以在不到 50 毫秒的時(shí)間內(nèi)完成，并將分選輸出發(fā)送到分選機(jī)中的箱式分選裝置。
測(cè)試薄膜/箔電容器時(shí)，我們建議使用電容測(cè)試儀 DB232。該儀器或早期的 CT30 或多或少是薄膜/箔電容器自動(dòng)測(cè)試的工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，并被全球大多數(shù)最大的薄膜/箔電容器制造商所使用。
對(duì)于電容器的絕緣測(cè)試，請(qǐng)注意，快速兆歐表 DB622 是 DB232（或舊 CT30）的匹配。借助預(yù)充電和精細(xì)充電高壓電源以及多個(gè)充電站，丹橋兆歐表可以確保高速測(cè)試。
如果您使用舊的 Danbridge 電容器測(cè)試儀（例如 CT20 和 CT30），DB232 是替換它們的合理選擇。特別是DB232內(nèi)置CT30模式，可以快速、簡(jiǎn)單地更換舊的CT20和CT30元件測(cè)試儀。
請(qǐng)注意，舊的 CT20 和 CT30 組件測(cè)試儀不再受支持。然而，通過(guò)將舊的 Danbridge 設(shè)備更換為新設(shè)備，我們可以為您提供舊儀器的回購(gòu)價(jià)格以及類似新設(shè)備的靈活付款或租賃。
鉭電容的測(cè)試：
鉭電容器或大型薄膜/箔電容器通常使用高電容測(cè)試儀 DB236 進(jìn)行測(cè)試。該儀器除了具有 DB232 的功能外，還可以進(jìn)行阻抗測(cè)試，例如 @ 10kHz 或 100kHz。
陶瓷電容器的測(cè)試：
陶瓷電容器根據(jù)電容值需要以1kHz或1MHz進(jìn)行測(cè)試。電容測(cè)試儀 DB230 在 1kHz 時(shí)表現(xiàn)出出色的性能，是市場(chǎng)上最快的電容測(cè)試儀之一，測(cè)試速度在 1MHz 時(shí)低至 6ms，包括排序輸出。
因此，DB230 非常適合利用當(dāng)今 SMT 分選機(jī)的高速特性，從而通過(guò)為您提供高品質(zhì)電容器的高產(chǎn)量來(lái)確保高投資回報(bào)。
其他 CLR 應(yīng)用程序的示例：
電容器的一般測(cè)試、變壓器和線圈的測(cè)量、DB233z“取放"機(jī)器中的無(wú)源元件測(cè)試、電纜測(cè)試、電容式麥克風(fēng)測(cè)試以及繞線功率電阻器中的電阻和電感。
關(guān)鍵特點(diǎn)
測(cè)量頻率：100kHz、10kHz、1kHz 和 100Hz
總體精度優(yōu)于 0.05%，損耗因數(shù)優(yōu)于2 x 10 -4
外部橋接模塊，用于儀器和橋接模塊之間的長(zhǎng)電纜（3m 或 118 英寸）
測(cè)量電纜：1m 或 39.3 英寸（標(biāo)配）
輸入保護(hù)可防止 2 焦耳至 1kV 的充電電容器。此功能可以通過(guò)可選的保護(hù)盒 PB11 進(jìn)行擴(kuò)展
內(nèi)置接觸檢查功能確保與設(shè)備的接觸良好，額外2-6 ms0
高測(cè)量速度：從觸發(fā)到測(cè)量結(jié)束20至180ms
測(cè)量范圍：0.1pF 至 3mF，具體取決于頻率
100kHz 時(shí)測(cè)量高達(dá) 9μF (0.2%)
內(nèi)部偏置電壓：發(fā)電機(jī)端子上高達(dá) ±3V DC，以 0.1V 步長(zhǎng)設(shè)置
外部偏置電壓：高達(dá) ±48V DC 平均值：1 至 99 次測(cè)量
顯示讀數(shù)：直接或偏差電容以及損耗測(cè)量的 tan ? 或 ESR 以及 L/Q、Rs、Rp、Z
技術(shù)規(guī)格
DB210 CLR 橋 *已停產(chǎn)
DB230 CLR元件測(cè)試儀
DB232 CLR 元件測(cè)試儀
DB233z CLR 組件測(cè)試儀
DB236大電容測(cè)試儀
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