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產(chǎn)品簡介
DB232 CLR 元件測試儀
DB23X系列
DB230 CLR元件測試儀
DB232 CLR 元件測試儀
DB233z CLR 組件測試儀
DB236大電容測試儀
DB23X系列
DB230 CLR元件測試儀
DB232 CLR 元件測試儀
DB233z CLR 組件測試儀
DB236大電容測試儀
詳細介紹
DB232 CLR 元件測試儀
DB23X系列DB230 CLR元件測試儀;DB232 CLR 元件測試儀;DB233z CLR 組件測試儀;DB236大電容測試儀
概述
電容器的交流測量
用于精確測量電容、電感和電阻參數(shù)的 Danbridge 儀器套件包括供實驗室使用的獨立測量電橋以及用于在工業(yè)環(huán)境中快速測量大量元件的自動系統(tǒng)。
主要應(yīng)用：
在自動分選機中快速、精確地測試電容器。
薄膜/箔電容器測試：
薄膜/箔電容器測試通常通過 1kHz 電容測試和 100kHz tan ? 或 ESR 測試進行。雙頻測試是一個功能，可以在不到 50 毫秒的時間內(nèi)完成，并將分選輸出發(fā)送到分選機中的箱式分選裝置。
測試薄膜/箔電容器時，我們建議使用電容測試儀 DB232。該儀器或早期的 CT30 或多或少是薄膜/箔電容器自動測試的工業(yè)標準，并被全球大多數(shù)最大的薄膜/箔電容器制造商所使用。
對于電容器的絕緣測試，請注意，快速兆歐表 DB622 是 DB232（或舊 CT30）的匹配。借助預(yù)充電和精細充電高壓電源以及多個充電站，丹橋兆歐表可以確保高速測試。
如果您使用舊的 Danbridge 電容器測試儀（例如 CT20 和 CT30），DB232 是替換它們的合理選擇。特別是DB232內(nèi)置CT30模式，可以快速、簡單地更換舊的CT20和CT30元件測試儀。
請注意，舊的 CT20 和 CT30 組件測試儀不再受支持。然而，通過將舊的 Danbridge 設(shè)備更換為新設(shè)備，我們可以為您提供舊儀器的回購價格以及類似新設(shè)備的靈活付款或租賃。
鉭電容的測試：
鉭電容器或大型薄膜/箔電容器通常使用高電容測試儀 DB236 進行測試。該儀器除了具有 DB232 的功能外，還可以進行阻抗測試，例如 @ 10kHz 或 100kHz。
陶瓷電容器的測試：
陶瓷電容器根據(jù)電容值需要以1kHz或1MHz進行測試。電容測試儀 DB230 在 1kHz 時表現(xiàn)出出色的性能，是市場上最快的電容測試儀之一，測試速度在 1MHz 時低至 6ms，包括排序輸出。
因此，DB230 非常適合利用當(dāng)今 SMT 分選機的高速特性，從而通過為您提供高品質(zhì)電容器的高產(chǎn)量來確保高投資回報。
其他 CLR 應(yīng)用程序的示例：
電容器的一般測試、變壓器和線圈的測量、DB233z“取放"機器中的無源元件測試、電纜測試、電容式麥克風(fēng)測試以及繞線功率電阻器中的電阻和電感。
關(guān)鍵特點
測量頻率：100kHz、10kHz、1kHz 和 100Hz
總體精度優(yōu)于 0.05%，損耗因數(shù)優(yōu)于2 x 10 -4
外部橋接模塊，用于儀器和橋接模塊之間的長電纜（3m 或 118 英寸）
測量電纜：1m 或 39.3 英寸（標配）
輸入保護可防止 2 焦耳至 1kV 的充電電容器。此功能可以通過可選的保護盒 PB11 進行擴展
內(nèi)置接觸檢查功能確保與設(shè)備的接觸良好，額外2-6 ms0
高測量速度：從觸發(fā)到測量結(jié)束20至180ms
測量范圍：0.1pF 至 3mF，具體取決于頻率
100kHz 時測量高達 9μF (0.2%)
內(nèi)部偏置電壓：發(fā)電機端子上高達 ±3V DC，以 0.1V 步長設(shè)置
外部偏置電壓：高達 ±48V DC 平均值：1 至 99 次測量
顯示讀數(shù)：直接或偏差電容以及損耗測量的 tan ? 或 ESR 以及 L/Q、Rs、Rp、Z
技術(shù)規(guī)格
DB210 CLR 橋 *已停產(chǎn)
DB230 CLR元件測試儀
DB232 CLR 元件測試儀
DB233z CLR 組件測試儀
DB236大電容測試儀
| 應(yīng)用查找器 | ||||||
| 測試應(yīng)用： | DB210 *已停產(chǎn) | DB230 | DB232 | DB233z | DB236 | DB250系統(tǒng) |
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| 掃描儀或多次測試 - 2 x 20 夾具 | | | ||||
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