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          DB232 CLR 元件測試儀
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          • DB232 CLR 元件測試儀

          舉報(bào)
          貨物所在地: 北京北京市
          更新時(shí)間: 2024-08-29 17:37:03
          期: 2024年8月29日--2025年8月30日
          已獲點(diǎn)擊: 63
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          (聯(lián)系我們,請(qǐng)說明是在 化工儀器網(wǎng) 上看到的信息,謝謝!)

          產(chǎn)品簡介

          DB232 CLR 元件測試儀
          DB23X系列
          DB230 CLR元件測試儀
          DB232 CLR 元件測試儀
          DB233z CLR 組件測試儀
          DB236大電容測試儀

          詳細(xì)介紹

          DB232 CLR 元件測試儀

          DB23X系列DB230 CLR元件測試儀;DB232 CLR 元件測試儀;DB233z CLR 組件測試儀;DB236大電容測試儀

          概述
          電容器的交流測量

          用于精確測量電容、電感和電阻參數(shù)的 Danbridge 儀器套件包括供實(shí)驗(yàn)室使用的獨(dú)立測量電橋以及用于在工業(yè)環(huán)境中快速測量大量元件的自動(dòng)系統(tǒng)。

          主要應(yīng)用:

          在自動(dòng)分選機(jī)中快速、精確地測試電容器。

          薄膜/箔電容器測試:

          薄膜/箔電容器測試通常通過 1kHz 電容測試和 100kHz tan ? 或 ESR 測試進(jìn)行。雙頻測試是一個(gè)功能,可以在不到 50 毫秒的時(shí)間內(nèi)完成,并將分選輸出發(fā)送到分選機(jī)中的箱式分選裝置。

          測試薄膜/箔電容器時(shí),我們建議使用電容測試儀 DB232。該儀器或早期的 CT30 或多或少是薄膜/箔電容器自動(dòng)測試的工業(yè)標(biāo)準(zhǔn),并被全球大多數(shù)最大的薄膜/箔電容器制造商所使用。

          對(duì)于電容器的絕緣測試,請(qǐng)注意,快速兆歐表 DB622 是 DB232(或舊 CT30)的匹配。借助預(yù)充電和精細(xì)充電高壓電源以及多個(gè)充電站,丹橋兆歐表可以確保高速測試。

          如果您使用舊的 Danbridge 電容器測試儀(例如 CT20 和 CT30),DB232 是替換它們的合理選擇。特別是DB232內(nèi)置CT30模式,可以快速、簡單地更換舊的CT20和CT30元件測試儀。 
          請(qǐng)注意,舊的 CT20 和 CT30 組件測試儀不再受支持。然而,通過將舊的 Danbridge 設(shè)備更換為新設(shè)備,我們可以為您提供舊儀器的回購價(jià)格以及類似新設(shè)備的靈活付款或租賃。

          鉭電容的測試:

          鉭電容器或大型薄膜/箔電容器通常使用高電容測試儀 DB236 進(jìn)行測試。該儀器除了具有 DB232 的功能外,還可以進(jìn)行阻抗測試,例如 @ 10kHz 或 100kHz。

          陶瓷電容器的測試:

          陶瓷電容器根據(jù)電容值需要以1kHz或1MHz進(jìn)行測試。電容測試儀 DB230 在 1kHz 時(shí)表現(xiàn)出出色的性能,是市場上最快的電容測試儀之一,測試速度在 1MHz 時(shí)低至 6ms,包括排序輸出。
          因此,DB230 非常適合利用當(dāng)今 SMT 分選機(jī)的高速特性,從而通過為您提供高品質(zhì)電容器的高產(chǎn)量來確保高投資回報(bào)。

          其他 CLR 應(yīng)用程序的示例:

          電容器的一般測試、變壓器和線圈的測量、DB233z“取放"機(jī)器中的無源元件測試、電纜測試、電容式麥克風(fēng)測試以及繞線功率電阻器中的電阻和電感。

          關(guān)鍵特點(diǎn)

          測量頻率:100kHz、10kHz、1kHz 和 100Hz
          總體精度優(yōu)于 0.05%,損耗因數(shù)優(yōu)于2 x 10 -4
          外部橋接模塊,用于儀器和橋接模塊之間的長電纜(3m 或 118 英寸)
          測量電纜:1m 或 39.3 英寸(標(biāo)配)
          輸入保護(hù)可防止 2 焦耳至 1kV 的充電電容器。此功能可以通過可選的保護(hù)盒 PB11 進(jìn)行擴(kuò)展
          內(nèi)置接觸檢查功能確保與設(shè)備的接觸良好,額外2-6 ms0
          高測量速度:從觸發(fā)到測量結(jié)束20至180ms
          測量范圍:0.1pF 至 3mF,具體取決于頻率
          100kHz 時(shí)測量高達(dá) 9μF (0.2%)
          內(nèi)部偏置電壓:發(fā)電機(jī)端子上高達(dá) ±3V DC,以 0.1V 步長設(shè)置
          外部偏置電壓:高達(dá) ±48V DC 平均值:1 至 99 次測量
          顯示讀數(shù):直接或偏差電容以及損耗測量的 tan ? 或 ESR 以及 L/Q、Rs、Rp、Z

          技術(shù)規(guī)格

           DB210 CLR 橋 *已停產(chǎn)

           DB230 CLR元件測試儀

           DB232 CLR 元件測試儀

           DB233z CLR 組件測試儀

           DB236大電容測試儀

          應(yīng)用查找器
          測試應(yīng)用:DB210   *已停產(chǎn)DB230DB232DB233zDB236DB250系統(tǒng)
          自動(dòng)高速測試
           
          自動(dòng)且具有成本效益




          交流電容器  
          直流電容器  
          陶瓷電容器




          電機(jī)電容器
            
          鉭電容器



          貼片機(jī)驗(yàn)證器



          掃描儀或多次測試 - 2 x 20 夾具



          實(shí)驗(yàn)室測試
            



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