TS MESSTECHNIK 輪廓測試儀  赤象工業(yè)代理

T&S在范圍內(nèi)提供檢測設(shè)備的制造商，為各種復(fù)雜程度的檢測需要，提供檢測方案和服務(wù)
傳統(tǒng)方案，X和Z測量軸在一個驅(qū)動單元，導(dǎo)致有一些限制。
我們的方案是，X軸和Z軸分離X軸承擔(dān)工件夾持器移動的功能，而Z軸于測針掃描移動，由于兩個軸均由電機(jī)控制，因此具有很大的優(yōu)勢，無論輪廓的斜率如何，兩個軸均得到控制，得以保持輪廓掃描速度不變
 

德國T&S公司——輪廓測試儀、

主要產(chǎn)品：

輪廓測量系統(tǒng)：CounturoMatic系列

TS輪廓測量儀

GS / GM-X輪廓測量儀

TS-X輪廓測量儀

CV120輪廓測量儀

CV300輪廓測量儀

我們的產(chǎn)品線

對中夾具 UZ系列

外圓對中夾具 AZ系列

對中水平放置臺 KZT系列

對中夾具 ZS系列

綜合支架 WSE系列

角度調(diào)整卡 WSF系列

棱柱支撐 WP/WPS系列

TS MESSTECHNIK 輪廓測試儀  赤象工業(yè)代理

ConturoMatic
一次測量輪廓和粗糙度
現(xiàn)代輪廓測量系統(tǒng)越來越能夠獲取和計(jì)算粗糙度特征。在具有較大梯度的輪廓線的粗糙度測試中，傳統(tǒng)的探測
方法和評估方法日益失敗。為了解決這個問題，我們的計(jì)算算法從一開始就基于正交回歸。該方法結(jié)合動態(tài)速
度控制（確保數(shù)據(jù)點(diǎn)距離均勻），可實(shí)現(xiàn)精確的測量結(jié)果 - 即使在強(qiáng)烈彎曲的表面上。相反，在傳統(tǒng)解決
方案中，為了實(shí)現(xiàn)恒定的測量點(diǎn)距離，必須通過內(nèi)插生成實(shí)際上不存在的新測量點(diǎn)。
憑借ConturaMatic TS的可選粗糙度軟件更新，您的輪廓測量站成為特別強(qiáng)大的
表面測量系統(tǒng)。
所有常用參數(shù)都可以自動測量和評估。該軟件無縫集成到標(biāo)準(zhǔn)軟件中，可以直觀地操作。該更新適用于以前?
供的所有T1， T2和TS系統(tǒng)，包括激活粗糙度軟件選項(xiàng)，測點(diǎn)半徑為2μm， 角度為60°的粗糙度測試臂以及綜合用
戶手冊。 T2系統(tǒng)必須在工廠進(jìn)行機(jī)械改裝。粗糙度選項(xiàng)包含在ConturoMatic TS-X的標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)。
可評估的特征:
Pt, Pz, Pa, Pc, Pq, Pp, Pv, Psk, Pku, PSm, Pdq, Pmr(c)
Rt, Rz, Ra, Rc, Rq, Rp, Rv, Rsk, Rku, RSm, Rdq, Rmr(c), Rk, Rpk, Rvk,
Mr1, Mr2, RPc, Rmax (VDA 2006), R3z (DB Werksnorm)
Wt, Wz, Wa, Wc, Wq, Wp, Wv, Wsk, Wku, WSm, Wdq, Wmr(c)
Optional: Dominante Welligkeit nach VDA 2007
可選：根據(jù)DIN EN ISO 16610-31 (03/2017)
測試表面的應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn):
DIN EN ISO 4287:2010-07
DIN EN ISO 4288:1998-04
DIN EN ISO 16610-21:2013-06
DIN EN ISO 13565-1:1998-06
DIN EN ISO 13565-2:1998-06
DIN EN 10049:2014-03
DIN EN ISO 16610-31:2017-03 (Option)
VDA 2006:2003-07
VDA 2007:2007-02 (Option)
DB N 31007 (1983)

CS-陶瓷測針

測試對象和測量設(shè)備之間的連接 - 很大程度上未被關(guān)注，但仍具有重要意義：
滑動摩擦，彎曲效應(yīng)和測點(diǎn)形狀是影響測量結(jié)果的主要因素。
問題:
探針和工件表面之間的滑動摩擦在測量過程中引起彎曲效應(yīng)。盡管這種影響在很大程度上得到了糾正，但仍然
存在不可檢測的殘留誤差。更糟糕的是，測試的不同材料也會導(dǎo)致偏離彎曲。這些誤差無法通過合理的系統(tǒng)努
力予以糾正。正確方案是減少摩擦。
經(jīng)典測針:
輪廓測量儀器的經(jīng)典測針的一個弱點(diǎn)是不明顯的*形狀。各種半徑的過渡意味著實(shí)際上僅有一點(diǎn)的測點(diǎn)半徑
滿足了要求。在軸外，不再定義*幾何形狀。
CS-Keramiktastspitzen:
我們的CS觸針大大減少了滑動摩擦，彎曲和*形狀所?到的問題。我們的探針*由高性能陶瓷制成
的，摩擦系數(shù)比碳化物低很多倍。*幾何形狀可防止由于低定位誤差導(dǎo)致的錯誤讀數(shù)。我們總的測量措施顯
著降低測量的不確定性。
優(yōu)化的*幾何形狀
方便精確定位
減少對不導(dǎo)電碳化物的摩擦
不可磁化
對積聚邊緣有抵抗力
在邊界區(qū)域中，測針更加安全地進(jìn)行測量
不變的測針形狀
測針幾何形狀非常精確
始終如一的高質(zhì)量產(chǎn)品
高科技材料
與傳統(tǒng)碳化物相比，減少50％的晶
粒尺寸
*的耐磨性和硬度
減少故障率
降低成本