產地類別 | 國產 | 價格區(qū)間 | 2萬-5萬 |
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應用領域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,電子,制藥,綜合 | 內尺寸 | 400*500*400 |
產品簡介
詳細介紹
科學研究表明,現實環(huán)境中的溫度和濕度有著密不可分的關系,因此,在一定溫度的條件下,空氣中也是會保持相對穩(wěn)定的濕度的。環(huán)境溫濕度的高低變變會影響工業(yè)產品、工業(yè)材料的性能、故障或者老化。而高低溫老化試驗箱就是一款人工模擬溫濕度測試、試驗、實驗什么樣的產品在什么樣的環(huán)境下比較適應或者試驗其耐熱、耐濕、耐寒、耐干性能及研發(fā),質量管理工程之試驗專用。
水冷式高低溫實驗箱常用于測試和試驗確定電工、電子、電器及其它工業(yè)產品、材料進行恒溫、恒濕、高低溫交變濕熱或恒定濕熱試驗各種樣品在人為的溫度環(huán)境下使用、擺設、貯存的參數及性能。適合LED、光電、電器、通訊、電子、儀表、化學、車輛、塑膠制品、金屬、建材、醫(yī)療、食品、航天等制品檢測質量或研發(fā)之用。
水冷式高低溫實驗箱的技術參數:
工作室尺寸:400×500×400(D×W×H)。
外尺寸:650×1050×1550。
溫度范圍: A:0~150℃;B:-20~150℃;;C:-40~150℃。
濕度范圍:20%~98%。
溫度波動度:±0.5℃;溫度均勻度:±2.0℃。
升溫速度:1.0~3.0℃/min;降溫速率:0.7~1.2℃/min。
電 源:單相AC220V;功率約5kw
執(zhí)行標準:
性能指標符合GB5170、2、3、5、6-2008 《電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗設備》的要求。
GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗方法。
GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗方法。
GJB150.9-1986《設備環(huán)境試驗方法:濕熱試驗》。
GJB4.5-1983《船舶電子設備環(huán)境試驗恒定濕熱試驗》。
電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法GB 2423.1-2008 (IEC68-2-1)。
電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法GB 2423.2-2008 (IEC68-2-2)。
電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ca:恒定濕熱試驗方法GB/T 2423.3-2008(IEC68-2-3)。
電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Da:交變濕熱試驗方法GB/T423.4-2008(IEC68-2-30)。