詳細介紹
隨著掃描探針顯微鏡(SPM)在二十世紀八十年代的出現(xiàn),大氣環(huán)境中的納米尺度成像成為了可能。該技術(shù)使材料表面各種物理特性的表征得以快速持續(xù)的發(fā)展,然而如何實現(xiàn)納米尺度的的化學結(jié)構(gòu)表征仍是一項挑戰(zhàn)。
拉曼光譜為分子結(jié)構(gòu)和化學組分分析提供了有效的解決方案,廣泛應(yīng)用于材料科學和生命科學領(lǐng)域。但是這種方法的空間分辨率在很大程度上受限于光學衍射限。
因此,將這兩種技術(shù)結(jié)合是富吸引力和挑戰(zhàn)性的,我們進入納米光學的世界。在該領(lǐng)域,HORIBA Scientific 通過幾十年的經(jīng)驗積累和努力,開發(fā)了一套 HORIBA NANO Raman 的整體解決方案,使其成為一個通用且功能強大、使用簡便、快速可靠的分析工具。
HORIBA拉曼光譜儀 Raman
1重要特征
1多種樣品分析平臺高分辨樣品掃描器,掃描樣品面積從納米尺寸至樣品臺限
2簡便易操作
全自動操作,大縮短了測試時間
3真共聚焦
高空間分辨率,自動成像平臺,多種顯微鏡可視觀察系統(tǒng)
4高靈敏度
多只有三面反射鏡,靈敏度和光通量得到大提高,提高設(shè)備穩(wěn)定性
5高光譜分辨率
多光柵自動切換,寬的光譜范圍用于拉曼和 PL 測試
6納米尺度空間分辨率
通過針尖增加拉曼光譜 (TERS) 成像,實現(xiàn) 10nm 的空間分辨率
7多種測試模式 / 多種環(huán)境
多種 SPM 模式,包括 AFM、導電 AFM、開爾文、STM 模式,可以子在液體和電化學環(huán)境下測試,通過 TERS 和 TEPL 技術(shù),可同時獲得化學信息成像通過一臺電腦即可控制及使所有功能。另外,SPM和光譜儀也可以單獨控制使用
8穩(wěn)定性
采用新一代 50 KHz 高頻調(diào)制 SPM 掃描器,遠離生活噪聲,具有高信噪比和穩(wěn)定性
9靈活性
具有頂部、底部、側(cè)向等多個方向拉曼探測能力,滿足各方面應(yīng)用研究需求
2強有力的的物理、化學結(jié)構(gòu)表征工具
1功強大
· 可同時進行 SPM 和拉曼光譜測試
· 頂部和側(cè)向均可使用高數(shù)值孔徑 ×100 物鏡,使得同區(qū)域測量能獲得更高的空間分辨率,針尖增強拉曼 (TERS) 具有高的信號收集效率
· 通過 SWIFT XS 和 EMCCD 探測器可以實現(xiàn)高通量信號收集能力和快速掃描速度
· 寬光譜范圍:從深紫外到近紅外
· 可選配 HORIBA 拉曼光譜儀系統(tǒng)以獲得高光譜性能
2操作簡單、快速!
· 一鍵完成“懸臂梁 - 參考激光"對準及調(diào)諧頻率優(yōu)化,無需手動調(diào)整
· 換針尖時無需移動樣品,換完針尖后還能很容易回到原來樣品位置
· 通過物鏡掃描器自動完成拉曼激光與 TERS 針尖耦合
· 通一臺電腦即可控制
3操作簡單的TERS系統(tǒng)