TH2826高頻LCR數(shù)字電橋

TH2826高頻LCR數(shù)字電橋

簡(jiǎn)介

TH2826 系列元件測(cè)試儀是符合 LXI 標(biāo)準(zhǔn)的新一代阻抗測(cè)試儀器，其 0.1% 的基本精度、 20Hz ～ 5MHz 的頻率范圍可以滿足元件與材料的測(cè)量要求，可測(cè)量低 ESR 電容器和高 Q 電感器的測(cè)量?？捎糜谥T如傳聲器、諧振器、電感器、陶瓷電容器、液晶顯示器、變?nèi)荻O管、變壓器等進(jìn)行諸多電氣性能的分析。  TH2826 系列產(chǎn)品是電子元器件設(shè)計(jì)、檢驗(yàn)、質(zhì)量控制和生產(chǎn)測(cè)試強(qiáng)有力的工具。其超 高速的測(cè)試速度使其特別適用于自動(dòng)生產(chǎn)線的點(diǎn)檢機(jī)，壓電器件的頻率響應(yīng)曲線分析等 等。其多種輸出阻抗模式可以適應(yīng)各個(gè)電感變壓器廠家的不同標(biāo)準(zhǔn)需求。TH2826 系列產(chǎn)品 以其性能可以實(shí)現(xiàn)商業(yè)標(biāo)準(zhǔn)如 IEC 和 MIL 標(biāo)準(zhǔn)的各種測(cè)試。

應(yīng)用

無(wú)源元件

電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)評(píng)估和性能分析

半導(dǎo)體元件

LED驅(qū)動(dòng)集成電路寄生參數(shù)測(cè)試分析；變?nèi)荻O管的C-VDC特性；晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析

其它元件

印制電路板、繼電器、開(kāi)關(guān)、電纜、電池等的阻抗評(píng)估

介質(zhì)材料

塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評(píng)估

磁性材

 鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導(dǎo)磁率和損耗角評(píng)估

半導(dǎo)體材料

半導(dǎo)體材料的介電常數(shù)、導(dǎo)電率和C-V特性

液晶單元

 介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性

測(cè)試參數(shù)

C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR

測(cè)試頻率

TH2826

20 Hz～5MHz,10mHz步進(jìn)

測(cè)試信號(hào)電平

f≤1MHz

10mV～5V,±（10%+10mV）

f>1MHz

10mV～1V,±（20%+10mV)

輸出阻抗

10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω

基本準(zhǔn)確度

0.1%

顯示范圍

L

0.0001 uH ～ 9.9999kH

C

0.0001 pF ～ 9.9999F

R,X,Z,DCR

0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ

Y, B, G

0.0001 nS ～ 99.999 S

D

0.0001 ～ 9.9999

Q

0.0001 ～ 99999

θ

-179.99°～ 179.99°

測(cè)量速度

快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz） 中速: 25次/s, 慢速: 5次/s

校準(zhǔn)功能

開(kāi)路 / 短路點(diǎn)頻、掃頻清零，負(fù)載校準(zhǔn)

等效方式

串聯(lián)方式, 并聯(lián)方式

量程方式

自動(dòng), 保持

顯示方式

直讀, Δ, Δ%

觸發(fā)方式

內(nèi)部, 手動(dòng), 外部, 總線

內(nèi)部直流偏

電壓模式

-5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進(jìn)

置源

電流模式（內(nèi)阻為50Ω）

-100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進(jìn)

比較器功能

10檔分選及計(jì)數(shù)功能

顯示器

320×240點(diǎn)陣圖形LCD顯示

存儲(chǔ)器

可保存20組儀器設(shè)定值

接口

USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support)

USB HOST(FAT16 and FAT32 support)

LAN(LXI class C support)

RS232C

HANDLER

GPIB（選件）

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