產(chǎn)地類別 | 進口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子 |
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對應(yīng)1MHz測試, 低容量,高精度,高速測試
C、(tan δ), Q測試,低電阻測量 測試源頻率:1kHz,1MHz 測量時間:1.5ms(1MHz) RS-232C,GP-IB
參考價 | 48329 |
3506-10 | 48329元 | 130 臺 可售 |
更新時間:2023-12-06 16:55:48瀏覽次數(shù):283
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日置C測試儀3506-10
對應(yīng)1MHz測試, 低容量,高精度,高速測試
C、(tan δ), Q測試,低電阻測量 測試源頻率:1kHz,1MHz 測量時間:1.5ms(1MHz) RS-232C,GP-IB
概要
模擬測量時間0.6ms(1MHz)的高速測量
提高了抗干擾性,在產(chǎn)線的上也能實現(xiàn)高反復(fù)精度
1kHz、1MHz測量下,低電容的貼片時可穩(wěn)定測量
根據(jù)BIN的測定區(qū)分容量
基本參數(shù)
測量參數(shù):C(電容),D(損耗系數(shù)tanδ), Q (1/tan δ)
測量范圍
C:0.001fF~15.0000μF
D: 0.00001 ~ 1.99999
Q:0.0 ~ 19999.9
基本精度
(代表值)C: ±0.14% rdg. D: ±0.0013
測量頻率:1kHz, 1MHz
測量信號電平:500mV, 1V rms
輸出電阻:1Ω (在1kHz 時2.2 μF 以上量程), 20Ω(除上述以外的量程)
顯示:LED(6位顯示,滿量程由點數(shù)有效距離來決定)
測量時間
1.5ms:1MHz, 2.0 ms:1kHz
功能
BIN分類測量, 觸發(fā)同步輸出, 測量條件記憶, 測量值比較功能, 平均值功能, Low-C篩選功能, 振動功能, 電流檢測監(jiān)視功能, 輸出電壓值監(jiān)視功能, 控制用輸入輸出 (EXT. I/O), RS-232C接口, GP-IB接口
電源
AC 100/120/220/240V ±10%(可選擇), 50/60Hz, 最大40VA
體積及重量:260W × 100H × 298Dmm, 4.8kg
附件:電源線× 1, 電源備用保險絲× 1,使用說明書× 1
三年質(zhì)保
日置C測試儀3506-10