HAD-Y2858系列 介電常數(shù)測試儀由頻阻抗分析儀、測試裝置，標準介質(zhì)樣品組成，能對緣材料行低頻介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗角(D或tanδ) 的測試。它符合標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。
HAD-Y2858系列介電常數(shù)測試儀作頻率范圍是20Hz～1MHz,它能成作頻率內(nèi)對緣材料的相對介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗角 (D或tanδ)變化的測試。
HAD-Y2858系列中測試裝置是由平板電容器組成，平板電容器般用來夾被測樣品，配用頻阻抗分析儀作為示儀器。緣材料的介電常數(shù)和損耗值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的D值(損耗值)變化和Cp（電容值）讀數(shù)通過公式計算得到。
1 點：
◎ 頻阻抗分析儀電容值Cp分辨率0.00001pF和6位D值顯示，保證了ε和D值度和重復性。
◎ 介電常數(shù)測量范圍可達1～105
2 主要標：
2.1 ε和D性能：
2.1.1 固體緣材料測試頻率20Hz～1MHz的ε和D變化的測試。
2.1.2 ε和D測量范圍：ε：1～105，D：0.1～0.00005，
2.1.3 ε和D測量度（10kHz）：ε：±2% ， D：±5%±0.0001。
2.2頻阻抗分析儀和數(shù)字電橋
型號 | HAD-Y2817 | HAD-Y2818A |
作頻率范圍 | 100Hz～100kHz（6個頻點） 度：±0.05% | 20Hz～1MHz 數(shù)字合成，度：±0.02% |
電容測量范圍 | 0.0001pF～99999μF 四位數(shù)顯 | 0.00001pF～9.99999F 六位數(shù)顯 |
電容測量基本誤差 | ±0.05% | ±0.05% |
損耗因素D值范圍 | 0.0001～9.9999 四位數(shù)顯 | 0.00001～9.99999 六位數(shù)顯 |
2.3 HAD-Y916B 介電常數(shù)測試裝置（含保護電）
2.3.1 平板電容器片尺寸：Φ38mm和Φ50mm二種可選.
2.3.2 平板電容器間距可調(diào)范圍和分辨率：0～8mm， ±0.001mm
2.3.3插頭間距：與電橋四端配合
加溫控溫裝置(選購設(shè)備)可以成200℃控溫度l℃加熱測試
HAD-Y918 介電常數(shù)測試裝置提供四種不同直徑測試電，能對直徑φ10～56mm，
厚度<10mm的試樣測量。它針對不同試樣可設(shè)置為接觸電法，薄膜電法和
非接觸法三種，以適應軟材料，表面不平整和薄膜試樣測試。
2.4.1 微分頭分辨率：10μm
2.4.2 耐壓：±42Vp（AC+DC）
2.4.3 電纜長度設(shè)置：1m
2.4.4 使用頻率：30MHz
2.5 頻介質(zhì)樣品（選購件）：
在現(xiàn)行頻介質(zhì)材料檢定系統(tǒng)中，檢定為頻介質(zhì)損耗測量儀
提供的測量標準是頻標準介質(zhì)樣品。該樣品由人藍寶石，石英玻璃，
氧化鋁陶瓷，聚四氟乙烯，環(huán)氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm測試樣品。
用戶可按需訂購，以保證測試裝置的重復性和準確性。
