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直流高壓測試重復進行是否會損壞電纜?
一些電纜具有電氣部件，例如集成電路，二極管，電容器和電阻器。在高壓電阻測試期間，直流高壓發(fā)生器可以同時提高組件或電路所有分支上的電壓，從而使兩端都看不到電壓差。測試技術人員應檢查測試程序，以確保其正確考慮了敏感組件。
為什么限制電流和電荷？
在高壓測試期間，直流高壓發(fā)生器將高壓施加到被測設備的每個連接器觸點或互連網絡，同時將其他連接保持在地面上。在介電耐壓（DWV）測試期間，直流高壓發(fā)生器會監(jiān)視電流的突然尖峰，該尖峰表明電弧或其他突然擊穿情況。如果電流水平超過電流跳閘設置（也稱為DWV閾值電流設置），則直流高壓發(fā)生器會立即關閉電壓并使被測設備失效。在絕緣電阻（IR）測試期間，測試儀會切換到較低的電流范圍，以準確測量高水平的絕緣電阻。同樣，測試儀會立即關閉高電壓，而電流不會明顯上升或出現小尖峰。
某些測試規(guī)格可能會允許比測試儀支持的電流更高的電流。較低的電流閾值是更嚴格的規(guī)格。一些客戶一直擔心拒絕合格的電纜，因為他們無法將跳閘電流設置設置為測試規(guī)范允許的最大值。但是，實踐表明，當使用較低的電流水平時，良好的電纜不會被拒絕。無需讓電流尖峰繼續(xù)。一旦發(fā)生電弧或擊穿，電流將增大，直到達到電流閾值為止，無論電流閾值設置在何處。
為什么某些耐壓測試儀允許更高的電流閾值？一些耐壓測試儀被設計為具有破壞性的耐壓測試功能，其中超過絕緣子的絕緣電壓強度并在延長的擊穿期內進行監(jiān)控。當超過介電強度時，高電流會產生熱量，這又可以評估高溫的潛在破壞作用。在其他情況下，耐壓測試儀具有較高的電流限制，以適應測量系統中的噪聲。一些人建議較高的測試電流閾值可用于“吹高電阻短路"。盡管這可能可行，但工程師建議在高電流條件下更可能發(fā)生損壞。應該始終從根本上診斷并糾正該錯誤。
具有靜電電容網的電纜和導體（例如，很長的電纜）在進行耐壓測試時也需要更高的電荷和電流限制。當高電容網絡上的電壓快速升高時，即使該網絡與其他網絡電氣隔離，也會有電流涌入。在直流耐壓測試中可以增加電壓斜坡時間，從而使測試儀可以在不產生大電流的情況下將凈值提高到耐壓電壓。但是，根據公式Q=cv，隨著電容的增加，帶有電容c的網絡上的內部電荷Q也會增加。請注意，如果電荷不受限制，則在高壓故障期間，電纜中存儲的能量可能會產生破壞性的大電流。在交流耐壓測試中，電壓隨交流頻率變化。因此，測試時需謹慎。
高壓測試的高壓設置應選擇低于被測組件的實際絕緣擊穿電壓。請注意，實際的絕緣擊穿電壓通常遠高于組件的額定或工作電壓。
一遍又一遍地反復進行失敗的耐壓測試，不被視為良好的行業(yè)慣例。在這種情況下，每次發(fā)生高壓電弧時，壞電纜可能會變得更糟。可能需要重新運行耐壓測試以診斷錯誤。雖然反復出現的低電流電弧極不可能造成yong久性損壞，但應調查一下HIPOT故障的原因。一旦您相信自己已解決了警惕性錯誤，就必須重新運行警惕性測試以確保糾正了警惕性錯誤。
當某個組件出現故障時，施加測試電壓將導致放電破壞或性能下降。由于過多的泄漏電流而導致的劣化可能會改變電氣參數或物理特性。
我們有時看到耐壓測試可能一次失敗，然后在不對被測設備進行任何更改的情況下再次失敗的情況。這表明半導體元件已經消散，換句話說，耐壓測試表明電纜質量良好。但是請注意，當電纜通過耐壓測試時，由于直流高壓發(fā)生器的電流和電荷有限，因此不會產生負面影響。的確，如果高壓電壓施加不當，放電會損壞靜電敏感組件。但是，從一個絲網到另一絲網的正常放電不會產生足夠的熱量來損壞絕緣子。
注意事項尤其是在工廠質量一致性測試中，應謹慎使用介電耐壓測試，因為即使小于擊穿電壓的超電勢也可能會損壞絕緣，從而降低其安全系數。因此，不建議在同一樣品上重復施加測試電壓。如果在測試程序中規(guī)定了隨后施加測試電位的情況，建議以降低的電位進行后續(xù)測試。