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          [供應(yīng)]BD-86A半導(dǎo)體材料電阻率測(cè)定儀
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          • BD-86A半導(dǎo)體材料電阻率測(cè)定儀
          貨物所在地:
          北京北京市
          更新時(shí)間:
          2024-09-27 21:00:07
          有效期:
          2024年9月27日 -- 2025年3月27日
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          產(chǎn)品簡(jiǎn)介

          BD-86A半導(dǎo)體材料電阻率測(cè)定儀是根據(jù)四探針測(cè)試原理研制成功的新型半導(dǎo)體電阻率測(cè)試器,適合半導(dǎo)體器件廠、材料廠用于測(cè)量半導(dǎo)體材料(片狀、棒狀)的體電阻率、方塊電阻(薄層電阻),也可以用作測(cè)量金屬薄層電阻、導(dǎo)電薄層電阻,具有測(cè)量精度高、范圍廣、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便

          詳細(xì)介紹

           BD-86A半導(dǎo)體材料電阻率測(cè)定儀

          一、概述

            BD-86A型半導(dǎo)體電阻率測(cè)試儀是根據(jù)四探針測(cè)試原理研制成功的新型半導(dǎo)體電阻率測(cè)試器,適合半導(dǎo)體器件廠、材料廠用于測(cè)量半導(dǎo)體材料(片狀、棒狀)的體電阻率、方塊電阻(薄層電阻),也可以用作測(cè)量金屬薄層電阻、導(dǎo)電薄層電阻,具有測(cè)量精度高、范圍廣、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便、價(jià)格低等特點(diǎn)。

            儀器分為電氣箱和測(cè)試架兩大部分,電氣箱由高靈敏度直流數(shù)字電壓表,高穩(wěn)定、高精度的恒流源和高性能的電源變換裝置組成,測(cè)量結(jié)果由LED數(shù)字顯示,零位穩(wěn)定,輸入阻抗*。在片狀材料測(cè)試時(shí),具有系數(shù)修正功能,使用方便。測(cè)試架分為固定式和手持式兩種,探頭的探針具有寶石導(dǎo)向,測(cè)量精度高、游移率小、耐磨和使用壽命長(zhǎng)等特點(diǎn),而且探針壓力可調(diào),特別適合薄片材料的測(cè)量。

            二、BD-86A半導(dǎo)體材料電阻率測(cè)定儀主要技術(shù)指標(biāo)

            1.測(cè)量范圍:

            電阻率:10-3--103Ω㎝(可擴(kuò)展到105Ω㎝),分別率10-4Ω㎝。

            方塊電阻:10-2--104Ω/□(可擴(kuò)展到106Ω/□),分辨率10-3Ω/□。

            薄層金屬電阻:10-4--105Ω,分辨率10-4Ω。

            2.數(shù)字電壓表:

            電壓表量程為3檔,分別是20mV檔(分辨率10μV);200mV檔(分辨率100μV);2V檔(分辨率1mV)。電壓表測(cè)量誤差±0.3%讀數(shù)±1字,輸入阻抗大于109Ω。

            3.恒流源:

            恒流源由交流供電,輸出直流電流0---100mA連續(xù)可調(diào)。恒流源量程為5檔,分別是10μA、100μA、1mA、10mA、100mA;分辨率對(duì)應(yīng)是10nA、0.1μA、1μA、10μA、0.1mA。電流誤差±0.3%讀數(shù)±2字。

            4.測(cè)試架:(可選件)

            測(cè)試架分為固定和手持兩種,可測(cè)半導(dǎo)體材料尺寸為直徑Φ15--Φ600㎜。測(cè)試探頭探針間距S=1㎜,探針機(jī)械游移率±0.3%,探針壓力可調(diào)。

            5.顯示:3?位LED數(shù)字顯示0-1999,能自動(dòng)顯示單位、小數(shù)點(diǎn)、極性、過(guò)載。

            6.電性能:電性能模擬考核誤差﹤±0.3%,符合ASTM規(guī)定指標(biāo)。

            7.電源:220V±10%,50Hz或60Hz,功耗﹤30W。

            8.電氣箱外形尺寸:440×320×120㎜。

            三、工作原理

            直流四探針?lè)y(cè)試原理簡(jiǎn)介如下:

           ?。?)體電阻率測(cè)量:

            如圖:當(dāng)1、2、3、4根金屬探針排成一直線時(shí),并以一定壓力壓在半導(dǎo)體試樣上,在1、4兩處探針間通過(guò)電流I,則2、3探針間產(chǎn)生電壓差V。

            材料的電阻率ρ=(V/I)×C (Ω㎝) .......3-1

            式3-1中:C為探針系數(shù),由探針幾何位置決定,當(dāng)試樣電阻率分布均勻,試樣尺寸滿足半無(wú)限大條件時(shí),

            C=2π÷{1/S1+1/S3-1/(S1+S2)-1/(S2+S3)}=2πFSP......3-2

            式3-2中:S1、S2、S3分別為探針1與2、2與3、3與4之間的距離。當(dāng)S1=S2=S3=1mm時(shí),則FSP=1,C=2π。若電流取I=C時(shí),

            電阻率ρ=V,可由數(shù)字電壓表直接讀出。

           ?、?、塊狀和棒狀晶體電阻率測(cè)量:由于塊狀和棒狀樣品外形尺寸與探針間距比較,合乎半無(wú)限大的邊界條件,電阻率值可以直接由公式3-1、3-2式求出。

           ?、凇⒈∑娮杪蕼y(cè)量:由于薄片樣品厚度和探針的間距相比,不能忽略。測(cè)量時(shí)要提供樣品的厚度、形狀和測(cè)量位置的修正系數(shù)。

            電阻率值可由下面公式得出:

            ρ=V/I×2πS×FSP×G(W/S)×D(d/s)= ρ0×G(W/S)×D(d/s)...3-3

            式中:ρ0 為塊形體電阻率,W為試片厚度,S為探針間距,G(W/S)為樣品厚度修正函數(shù),D(d/s)為樣品形狀和測(cè)量位置修正函數(shù)。

            ③、方塊電阻、薄層電阻測(cè)量:當(dāng)半導(dǎo)體薄層尺寸滿足半無(wú)限大平面條件時(shí):

            R□=π/ln2×(V/I)=4.532(V/I) ........3-4

            若取I1=4.532I,則R□值可由電壓表直接讀出。

            注意:以上的測(cè)量都在標(biāo)準(zhǔn)溫度(230 C)下進(jìn)行,若在其他溫度環(huán)境中測(cè)量,應(yīng)乘以該材料的溫度修正系數(shù)FT。

            FT=1-CT(T230) ..........3-5

            式中:CT為材料的溫度系數(shù)。(請(qǐng)根據(jù)不同材料自行查找)

           ?。?)金屬電阻測(cè)試:本儀器也可用作金屬電阻的測(cè)量,采用四端子電流-電壓降法,能方便的測(cè)量金屬電阻R,測(cè)量范圍從100μΩ---200K

            四、儀器結(jié)構(gòu)

            本儀器為臺(tái)式結(jié)構(gòu),分為電氣箱和測(cè)試架兩大部分。

            【1】電氣箱為儀器主要電器部分,電氣箱前面板如圖4-1所示:

          1627977890(1).jpg

          圖中:1-電源開(kāi)關(guān)   2-顯示屏  3-電流量程開(kāi)  4-電壓量程開(kāi)關(guān)   5-工作方式開(kāi)關(guān)   6-測(cè)量選擇開(kāi)關(guān)    7-信號(hào)輸入端口     8-調(diào)零電位器      9-電流調(diào)節(jié)電位器       10-電流開(kāi)關(guān)        11-極性轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)

          電氣箱后面板如圖4-2所示:

          1596424482(1).jpg


          前面板功能說(shuō)明:

          1-(POWER)-電源220V控制開(kāi)關(guān)。

          2-LED顯示屏:3 ?位LED數(shù)字顯示(0-1999),自動(dòng)顯示小數(shù)點(diǎn)、單位和過(guò)載,測(cè)試方塊電阻時(shí),單位mΩcm當(dāng)作mΩ/□,測(cè)量金屬電阻時(shí),單位mΩ㎝當(dāng)作mΩ。

          3-(I RANGE)-電流量程開(kāi)關(guān)5檔(10μA/100μA/1mA/10mA/100mA);4-(V RANGE)-電壓量程開(kāi)關(guān)3檔(20mV/200mA/2V);

          5-(FUNCTION)-工作方式開(kāi)關(guān)5檔,從左到右分別是“4.53"檔為輸入電壓值×4.532,測(cè)量方塊電阻用;“6.28"檔為輸入電壓值×0.628,測(cè)量電阻率用;“I"檔為輸入電壓×1,測(cè)量金屬電阻用;“I ADJ"電流調(diào)節(jié)檔,和電流調(diào)節(jié)電位器配合使用,用于調(diào)節(jié)輸出電流;“CAL"自校檔,自校值“199X"。

          6-(MEAS.SEL)-測(cè)量選擇開(kāi)關(guān)為兩檔開(kāi)關(guān),“SHORT"短路檔、“MEAS"測(cè)量檔。

          7-(INPOT)-信號(hào)輸入端口為5芯端口,是電壓降信號(hào)輸入和恒流電流輸出的端口。

          8-(ZERO ADJ)-調(diào)零電位器,當(dāng)我們?cè)跍y(cè)試時(shí),如果樣品接觸良好,在不加電的情況下,數(shù)字電壓表讀數(shù)應(yīng)歸零,如有偏差時(shí),可通過(guò)調(diào)零電位器調(diào)節(jié)歸零。

          9-(I ADJ)-電流調(diào)節(jié)電位器,可連續(xù)調(diào)節(jié)電流輸出值0---1000(滿刻度),與工作方式開(kāi)關(guān)“I ADJ"配合使用,也可作為修正系數(shù)輸入用。

          10-(CURRENT)-電流開(kāi)關(guān)為電流加電開(kāi)關(guān),按入時(shí),電流輸出;退出時(shí),電流斷開(kāi)。

          11-(POLARITY)-極性轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān),可改變電流輸出的正負(fù)極性。

          2】測(cè)試架:測(cè)試架分為固定和手持式兩種,根據(jù)使用環(huán)境的不同可自行選擇,固定式測(cè)試架適合高精度的測(cè)量,探頭固定在專用的測(cè)試架上,在實(shí)驗(yàn)室條件下,進(jìn)一步提高了測(cè)量精度(見(jiàn)圖4-4)。手持式最大的優(yōu)點(diǎn)是攜帶方便、測(cè)量方便,可直接在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)使用(見(jiàn)圖4-3)。

          手持式測(cè)試探頭簡(jiǎn)圖4-3所示:

          1596424526(1).jpg

          圖中:1-測(cè)試導(dǎo)線   2-手柄    3-壓力調(diào)節(jié)環(huán)  4-測(cè)試支架   5-探頭和探針

          固定式測(cè)試架簡(jiǎn)圖(4-4)所示:

          1596425411(1).jpg

          (4-4)固定式測(cè)試架

          圖中:1-支桿  2-支架塊   3-滑塊   4-滑塊調(diào)節(jié)(上下)   5-探頭支架   6-探頭和探針    7-可移動(dòng)平臺(tái)(前后)   8-滑槽   9-底板   10-支架塊固定桿    11-探頭導(dǎo)線

          五、使用和操作

          (一)、測(cè)試準(zhǔn)備:

          1.將儀器和試樣放置在溫度230C±20C,濕度﹤65%的工作環(huán)境中。

          2. 測(cè)試架和電氣箱用輸入輸出連線連接好,儀器接通電源,工作方式開(kāi)關(guān)置于短路位置,電流開(kāi)關(guān)退出,接通220V電源,儀器預(yù)熱半小時(shí)。

          3.測(cè)試架調(diào)好位置,放上試樣,使探頭與試樣良好接觸。

          (二)、測(cè)試:

          1.將工作方式開(kāi)關(guān)置于“I調(diào)節(jié)",按入電流開(kāi)關(guān),并調(diào)節(jié)電流電位器,使數(shù)字顯示為你需要的電流值。注意:測(cè)試塊狀、棒狀晶體和薄層方塊電阻試樣時(shí),請(qǐng)調(diào)節(jié)電流電位器到“1000",當(dāng)測(cè)量薄片電阻率時(shí),請(qǐng)根據(jù)試樣厚度,查表得到修正系數(shù)值(厚度修正系數(shù)表見(jiàn)說(shuō)明書(shū)末頁(yè)),調(diào)節(jié)電位器到修正值。例如硅片厚度0.23㎜,查表得到0.1659,調(diào)節(jié)電流電位器,使顯示值為166。

          2.根據(jù)被測(cè)材料,選擇電壓和電流量程,使顯示值達(dá)到我們需要的精度。

          3.測(cè)量選擇開(kāi)關(guān)置于“測(cè)量"位置,根據(jù)不同的試樣,工作方式開(kāi)關(guān)置于不同位置,①塊狀、棒狀樣品和薄片樣品電阻率測(cè)試請(qǐng)把開(kāi)關(guān)放到“6.28"檔;②薄層電阻測(cè)試請(qǐng)放到“4.53"檔;③金屬電阻測(cè)試請(qǐng)放到“I"檔。

          4.檢查顯示屏顯示是否為000,可以通過(guò)調(diào)零電位器,調(diào)整零位,使顯示值為“000"。

          5.現(xiàn)在按入電流開(kāi)關(guān),應(yīng)有顯示,可配合電壓和電流量程開(kāi)關(guān)再一次調(diào)整,使顯示值為我們需要的精度值。然后極性開(kāi)關(guān)反轉(zhuǎn),把兩次顯示值平均后的值,即是我們要測(cè)量的值。

          (三)、注意事項(xiàng):

          1.以上電阻率測(cè)試是在環(huán)境溫度23℃下的值,如測(cè)試時(shí)環(huán)境溫度有變,請(qǐng)考慮溫度修正(溫度修正系數(shù)Ft請(qǐng)用戶根據(jù)不同材料自行查找,見(jiàn)公式3-5),輸入K值時(shí),K=Ft×K(修正到23℃)。實(shí)際測(cè)量,在輸入電流值時(shí),請(qǐng)乘以Ft值為電流實(shí)際輸入值。例如:塊狀樣品測(cè)試,“I ADJ"輸入值為1000,此時(shí)我們應(yīng)輸入1000×Ft,測(cè)得的電阻率值是23℃時(shí)的修正值。

          2.當(dāng)工作方式開(kāi)關(guān)置于“6.28"進(jìn)行測(cè)量,測(cè)量顯示值為電阻率;當(dāng)開(kāi)關(guān)置于“4.53"時(shí),顯示值應(yīng)讀為R/□;在“I"檔測(cè)量金屬電阻,顯示值應(yīng)讀為電阻R。

          3.測(cè)試架上的探頭為易損件,測(cè)量時(shí)請(qǐng)小心加壓,測(cè)試完畢,請(qǐng)及時(shí)升起探頭。

          六、復(fù)校和維修

          1.本儀器有自校功能,儀器內(nèi)部設(shè)有精密電阻,當(dāng)工作在自校檔,按入電流開(kāi)關(guān)后,顯示自校值199X±6個(gè)字。自校檔可作為檢查儀器精度使用,為保證儀器測(cè)試精度,請(qǐng)定期對(duì)儀器進(jìn)行復(fù)校,尤其是儀器進(jìn)過(guò)劇烈震動(dòng)和環(huán)境溫度突變后,發(fā)現(xiàn)超差請(qǐng)及時(shí)送修。

          2.測(cè)試探頭為易損件,請(qǐng)定期按照國(guó)標(biāo)JJG508-87中規(guī)定,對(duì)探頭進(jìn)行復(fù)校。如超差,應(yīng)更換新的探頭。

          3.本儀器也可按照國(guó)標(biāo)或ASTM84-73規(guī)定的指標(biāo)和實(shí)驗(yàn)方法進(jìn)行復(fù)校。

          七、儀器包裝及附件

          1.電氣箱一臺(tái)

          2.測(cè)試架一臺(tái)(固定、手持可選)

          3.四探針探頭一個(gè)(已安裝在測(cè)試架上)

          4.使用說(shuō)明書(shū)一份

          5.電源線一根

          6.合格證一張

          7.四端子測(cè)試線一根



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