目錄:上海硅儀生化科技有限公司>>島津>> 島津掃描型X射線熒光光譜儀XRF-1800型
價格區(qū)間 | 100萬-150萬 | 行業(yè)專用類型 | 通用 |
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儀器種類 | 臺式/落地式 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
元素分析范圍 | 4Be,5B,6C~92U |
島津掃描型X射線熒光光譜儀XRF-1800型
自主研發(fā)創(chuàng)造250μm微區(qū)分布成像分析功能!
XRF-1500/1700系列X射線熒光光譜儀是在世界上開發(fā)出微區(qū)分析/分布分析功能,并采用了4KW薄窗X射線管,擴大了X射線熒光分析的應(yīng)用領(lǐng)域,作為具有開創(chuàng)性的儀器而得到了很高評價,業(yè)已銷售200余臺。
掃描型X射線熒光光譜儀 XRF-1800型從儀器的硬件與軟件在許多細節(jié)都進行了改進,使得儀器的可靠性與可操作性更進一步提高,增加了在行業(yè)內(nèi)優(yōu)先自主研發(fā)創(chuàng)造的250μm微區(qū)分布成像分析功能,從而達到更高的水平的完善程度。作為高靈敏度和微區(qū)分析,島津公司非常自信地向用戶奉獻出優(yōu)異的XRF-1800型X射線熒光光譜儀。
· 在波長色散型裝置中,自主研發(fā)創(chuàng)造的250μm微區(qū)分布成像分析功能
可分析不均勻樣品的含量分布、強度分布。
稀土元素礦石的XRF-1800成像分析實例
· 利用高次譜線進行準確的定性/定量分析
高次譜線的判定更加準確,提高了定性定量分析的準確度/可靠性。
利用XRF-1800的高次譜線分析剎車片實例
· 測定高分子薄膜的膜厚與無機成分分析的背景基本參數(shù)(BG-FP)法
利用康普頓散射/瑞利散射的強度比計算出熒光X射線分析不能得到的氫(H)元 素的信息。高分子薄膜分析中,利用康普頓散射線的理論強度作為高分子薄膜 的信息。
使用XRF-1800進行的膜厚測定、薄膜測定實例
島津掃描型X射線熒光光譜儀XRF-1800型
· 微區(qū)分析結(jié)構(gòu)
獨自開發(fā)的特殊形狀的滑動式視野限制光欄,利用r方向滑動與樣品旋轉(zhuǎn)控制的q轉(zhuǎn)動,可以在30mm直徑內(nèi)的任意位置進行分析。
· 利用CCD相機可以直接觀察樣品(選配件)
在測定室導入樣品的位置上,將樣品容器按照與測定位置相同的方式放置,通過CCD攝取樣品的圖像,可使測定位置與圖像相吻合。
· 配備高可靠性、長壽命的4kW薄窗X射線管
配備平均壽命在5年以上的高可靠性X射線管。與傳統(tǒng)的3kWX射線管相比,輕元素的分析靈敏度提高2倍以上。
· 集成島津技能精華的模塊功能,匹配分析功能
對應(yīng)于液體、粉末、固體、金屬、氧化物等不同形態(tài)的樣品具有相應(yīng)的分析條件,在這基礎(chǔ)上可編制更佳的分析條件??筛鶕?jù)不同材質(zhì)。
判定、品種分類、品種判定、一致性檢索這4種匹配功能進行判定、檢索。