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為何要進(jìn)行背光模組測(cè)試？
閱讀：957 發(fā)布時(shí)間：2022-1-14近年來(lái)，隨著科技產(chǎn)業(yè)日益發(fā)達(dá)，數(shù)字化工具例如光學(xué)掃描器(opticalscanner)、智能型手機(jī)(smartphone)、數(shù)字相機(jī)(digitalcamera)、筆記本電腦(notebook)以及平板電腦(tabletPC)等產(chǎn)品的使用越來(lái)越普遍，并朝著便利、多功能且美觀的設(shè)計(jì)方向進(jìn)行發(fā)展，以提供使用者更多的選擇。
當(dāng)使用者對(duì)數(shù)字產(chǎn)品的需求日漸提升，在這些產(chǎn)品中所使用的背光模組也成為設(shè)計(jì)改良的重點(diǎn)。以側(cè)入式背光模組而言,其例如是通過(guò)發(fā)光二極管(lightemittingd1de,LED)發(fā)光元件與基板所組成的燈條(lightbar)作為光源組件，所述光源組件鄰近導(dǎo)光板的入光面，使發(fā)光二極管發(fā)光元件發(fā)出的光線從導(dǎo)光板的入光面進(jìn)入導(dǎo)光板。
一般來(lái)說(shuō)，發(fā)光二極管發(fā)光元件與導(dǎo)光板的入光面之間的距離必須符合預(yù)定間距，才能使背光模組具有良好的出光效率。但是組裝背光模組時(shí)，僅憑肉眼難以精確地確認(rèn)發(fā)光元件是否組裝至定位，因此不是間距過(guò)大而影響出光品質(zhì)，便是間距過(guò)小而導(dǎo)致元件損壞。所以需要一個(gè)簡(jiǎn)便而又精確的方式能檢測(cè)導(dǎo)光板與發(fā)光元件的定位從而提高背光模組的品質(zhì)。 
測(cè)試方案圖示
通過(guò)此方案可以實(shí)現(xiàn)把萬(wàn)瑞達(dá)直流電源電源變?yōu)楹懔髟?，并了解如何?shí)現(xiàn)任意波電流輸出、快速電流變換等應(yīng)用。本方案的應(yīng)用非常廣泛，可以實(shí)現(xiàn)脈沖電流模擬、恒定電流控制、任意波電流輸出控制、電流快速變換控制等。
萬(wàn)瑞達(dá)RU靈巧型直流電源+VEADL電子負(fù)載組合方案的應(yīng)用非常廣泛，可以進(jìn)行背光點(diǎn)燈實(shí)驗(yàn)、脈沖任意波模擬、快速ON/OFF測(cè)試等。RU提供了眾多優(yōu)異的功能及超高的性價(jià)比，比如CC/CV優(yōu)先功能、多種標(biāo)準(zhǔn)輸入/輸出接口、其產(chǎn)品機(jī)身設(shè)計(jì)小巧，便于上機(jī)架使用。VEADL為一款高性能的直流電子負(fù)載，可測(cè)試多種不同電源。具有編程功能，能夠模擬從基本靜態(tài)到復(fù)雜動(dòng)態(tài)的所有負(fù)載。