名稱：光學(xué)鍍膜橢偏儀

　　型號：ME-L

　　品牌：頤光

　　在手機蓋板中的應(yīng)用光學(xué)鍍膜就好比女士化妝，不僅可使玻璃蓋板、背板更漂亮，也可以起到抗氧化、耐酸堿等作用，所以在如今這個“看臉"的時代，蓋板的光學(xué)鍍膜是非常重要的，目前常見的包括AR、AF、AG及后蓋顏色膜等鍍膜應(yīng)用。

　　光學(xué)鍍膜橢偏儀蓋板光學(xué)鍍膜痛點分析

　　1、AR膜透過率不合格NG

　　2、顏色膜調(diào)色困難，周期長。

　　3、量產(chǎn)過程產(chǎn)品不穩(wěn)定，存在色差。

　　橢偏儀在光學(xué)鍍膜各階段的作用造成蓋板光學(xué)鍍膜產(chǎn)品不良的主要因素在于：

　　A；仿真設(shè)計調(diào)用材料折射率與鍍膜生產(chǎn)中實際材料折射率不符。

　　B；鍍膜設(shè)備實際鍍層厚度與膜系設(shè)計要求不符。

　　C；量產(chǎn)過程對鍍膜設(shè)備穩(wěn)定性/均勻性缺乏有效評估手段。

　　橢偏儀可以有效測量修正上述影響因子，為蓋板量產(chǎn)保駕護航。

　　1.膜系設(shè)計——膜層實際折射率的標定

　　★鍍膜實際折射率的影響因素：供氧量、真空度、電子槍光斑大小、溫度等

　　★橢偏儀可直接測量獲得薄膜材料的光學(xué)常數(shù)和薄膜厚度，因此通過鍍膜機在Si襯底或玻璃襯底上鍍單層SiO2、TiO2、Nb2O5、In薄膜，可直接準確測量獲得薄膜的光學(xué)常數(shù)。

　　★通過調(diào)整鍍膜機參數(shù)，以橢偏儀測量獲得的單層SiO2、TiO2、Nb2O5、In薄膜光學(xué)常數(shù)為反饋，將薄膜材料光學(xué)常數(shù)調(diào)整至狀態(tài)。此時對應(yīng)的鍍膜機參數(shù)即為厚度鍍膜時所需設(shè)定的終參數(shù)。

　　2.工藝研發(fā)——鍍膜設(shè)備tolling校正

　　★通常來說，鍍膜機通過晶振來控制鍍膜厚度，而實際上由于這種晶振式膜厚儀的精度不足，導(dǎo)致實際鍍膜厚度與設(shè)定鍍膜厚度存在較大偏差。在鍍膜機中，可通過工具因子（Tooling值）控制鍍膜機的蒸鍍速率，進而可對實際鍍膜厚度進行調(diào)控。

　　★橢偏儀可以準確測量獲得薄膜的厚度，因此可用于校正鍍膜機的工具因子（Tooling值），使實際鍍膜厚度與設(shè)定鍍膜厚度*。

　　3.量產(chǎn)監(jiān)控——實時監(jiān)測各項鍍膜指標：

　　★鍍膜膜厚是否在設(shè)計范圍。

　　★材料折射率有無顯著波動。

　　★透過率是否滿足工藝需求。

　　★色度值是否滿足工藝需求。

　　★反射率是否滿足工藝需求。

　　售后服務(wù)：

　　1、廠家貨源正品貨源有保障，可以根據(jù)客戶不同測試需求，提供不同測試方案。

　　2、關(guān)于售后4小時電話響應(yīng)，24小時內(nèi)安排上門服務(wù)。終生維護。

　　3、關(guān)于發(fā)貨到款4-5天內(nèi)到貨，江蘇、深圳區(qū)域第二天可以到貨。