目錄:深圳喬邦儀器有限公司>>電鍍鍍層膜厚分析儀>> XAUXTD鍍金測(cè)厚儀
| 參考價(jià) | 面議 |
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更新時(shí)間：2024-04-28 07:24:41瀏覽次數(shù)：813評(píng)價(jià)
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| 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),電子,印刷包裝 |
XTD鍍金測(cè)厚儀（國(guó)產(chǎn)）是集喬邦儀器多年貴金屬檢測(cè)技術(shù)和經(jīng)驗(yàn)，以*的產(chǎn)品配置、功能齊全的測(cè)試軟件、友好的操作界面來(lái)滿足貴金屬成分及鍍金層檢測(cè)的需要，人性化的設(shè)計(jì)，使測(cè)試工作更加輕松完成。
標(biāo)準(zhǔn)配置
單樣品腔。
高低壓電源
X光管
正比計(jì)數(shù)盒探測(cè)器
信號(hào)檢測(cè)電子電路
XTD鍍金測(cè)厚儀技術(shù)指標(biāo)
元素分析范圍：從鉀（K）到鈾（U）
測(cè)量對(duì)象：固體、液體、粉末
分析檢出限可達(dá)：1ppm
外觀尺寸：430×380×355mm
樣品腔尺寸：306×260×78mm
分析含量一般為：1ppm到99.9%
多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)：0.1%
重量：30kg
XTD鍍金測(cè)厚儀性能優(yōu)勢(shì)
專業(yè)貴金屬檢測(cè)、鍍層厚度檢測(cè)
智能貴金屬檢測(cè)軟件，與儀器硬件相得益彰
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回收程序
測(cè)試數(shù)據(jù)圖
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
會(huì)員.png)
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