目錄:深圳喬邦儀器有限公司>>電鍍鍍層膜厚分析儀>> XAUX射線熒光電鍍層測(cè)厚儀
| 參考價(jià) | 面議 |
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更新時(shí)間：2024-04-28 07:54:49瀏覽次數(shù)：742評(píng)價(jià)
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| 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),電子,印刷包裝 |
標(biāo)準(zhǔn)配置
Si-Pin探測(cè)器。
信號(hào)檢測(cè)電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
開(kāi)放式樣品腔。
精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和X光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
保護(hù)傳感器
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)
X熒光電鍍層測(cè)厚儀性能特點(diǎn)
采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度
定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊
鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)
良好的射線屏蔽作用
測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)
滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求
φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求
高精度移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm
X熒光電鍍層測(cè)厚儀技術(shù)指標(biāo)
名稱及型號(hào)：X熒光電鍍層測(cè)厚儀
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序
溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。
同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：35kg
應(yīng)用領(lǐng)域
X熒光電鍍層測(cè)厚儀廣泛應(yīng)用于PCB線路板、電子連接器、高壓開(kāi)關(guān)、電子電器、衛(wèi)浴、首飾、制冷設(shè)備，電鍍加工等企業(yè)中。
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