目錄:深圳喬邦儀器有限公司>>WDX波長色散元素分析儀>> WDX400耐火材料分析波長色散熒光多元素分析儀
| 價格區(qū)間 | 50萬-100萬 | 行業(yè)專用類型 | 通用 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 臺式/落地式 | 應用領域 | 環(huán)保,石油,地礦,能源,冶金 |
| 元素分析范圍 | Na-U |
一、WDX400耐火材料分析波長色散熒光多元素分析儀性能特點：
1.粉體樣品或塊樣品快速，非破損分析。
2.可快速分析粉末壓片，玻璃熔片和塊狀物料。
3.采用多路數(shù)字MCA實時檢測，大大提高元素檢測效率譜峰，不僅便于儀器調(diào)試和故障診斷，并可進一步提高儀器的分析精度和穩(wěn)定性。
4.配置充氦裝置后可以分析液體樣品或易揮發(fā)性固體樣品。
5.與順序型大功率儀器相比較有如下優(yōu)點：
a、在較小功率和測定時間基本相當?shù)那闆r下即可達到足夠的分析精度。
b、延長X光管使用壽命。
c、減少高壓電源故障。
d、降低整機維修成本。
e、采用固定通道，無測角儀磨損問題。
二、WDX400耐火材料分析波長色散熒光多元素分析儀技術指標：
高壓電源：400W（50kv/8mA）。
X射線管：Varian公司生產(chǎn)的400W薄鈹窗端窗X射線管，Rh靶（Pd靶可選）。
管壓管流12小時穩(wěn)定度：優(yōu)于0.05%。
分析元素種類：從Na到U的任意十種元素。
探測器：流氣正比探測器+封閉正比探測器，10路1024道獨立脈沖高度分析器。
真空系統(tǒng)：獨立泵站結構，易于維護。
測量室真空度：低于5Pa。
流氣系統(tǒng)：高精度流氣密度穩(wěn)定裝置，壓力穩(wěn)定度達到±0.003KPa。
前主放：高速前主放電路，大大提高儀器的探測效率，提高儀器的測量精度。
MCA多道：采用數(shù)字MCA多道幅度采集器，大大提高檢測效率。
交流220V供電設備：1KVA交流凈化穩(wěn)壓電流。
分析精度：σn-1（24小時，百分比含量）≤0.05%。
單個樣品測量時間：（含換樣抽真空時間）≤3～5分鐘。
恒溫室溫度控制精度：設定值±0.1℃。
三、應用領域：
建材（水泥、玻璃、陶瓷等）鋼鐵 有色金屬 礦業(yè) 地質(zhì) 化工 石油 質(zhì)量檢驗 商品檢驗
檢測原理：
物質(zhì)樣品中有多種元素存在的情況下，當樣品受到X光管發(fā)出的初級X射線照射時，各種被測元素發(fā)出各自的特征X射線，統(tǒng)稱X熒光。將這些元素的特征X射線分開和檢測稱為X熒光的分光。
由于不同元素特征X射線的波長不同，根據(jù)布拉格公式采用晶體衍射技術即可將不同波長的X射線分光。此種分光方法稱作波長色散法。
布拉格公式：
2dSinθ=nλ……………………（1）
上式中d為分光晶體的晶面間距，θ為衍射角，λ為波長，n為衍射級數(shù)。一般情況下均檢測一級衍射線，即n=1。據(jù)此公式，分光晶體選定后（即2d已確定）對某一波長λ的某一元素的特征X射線，只有在符合上式的θ角可以檢測到，而其他元素的特征X射線由于其波長λ不符合上述公式，因此該θ角度方向檢測不到。分光晶體可以是平面晶體，此時采用平行板準直器將樣品的X熒光變成平行光投射到晶體上，稱作平行分光法；也可采用具有聚焦作用的曲面晶體（彎晶）進行分光，稱作聚焦分光法（尤其適合原子序數(shù)較小的輕元素）。圖1-2兩種分光系統(tǒng)的原理圖。
特征X射線的波長是與元素種類一一對應的，依靠波長色散將物質(zhì)樣品X熒光中不同波長的特征X射線分開并檢測，就可以確定物質(zhì)中含有哪些元素，實現(xiàn)物質(zhì)中所含元素種類的定性分析。
另一方面，各元素特征X射線的強度（單位時間內(nèi)特征X射線的光子數(shù)）則與該樣品中各元素的百分含量成正比，即樣品中某元素含量愈高，則其發(fā)出的特征X射線的光子數(shù)/秒愈多，即滿足下述公式：
Ci=AiIi+Bi……………………（2）
其中Ci為第i種元素（或其化合物）的含量百分比，Ii為檢測到的該元素的特征X射線強度，常數(shù)Ai和Bi則通過標樣檢測制作工作曲線確定，Ai為工作曲線的斜率，Bi為工作曲線截距。用標樣制作工作曲線的過程稱作儀器的標定。標定過程中，對一組含量已知的標樣進行檢測，對某一元素i而言,標樣中該元素的含量Ci已知，特征X射線強度Ii通過分光檢測得到，測定若干個標樣后通過線性擬合，即可計算出（2）式中每種元素的工作曲線的斜率Ai和截距Bi。完成標定后，即可通過檢測未知樣品中各被測元素特征X射線的強度，根據(jù)（2）式計算出該未知樣品中各被測元素的含量，實現(xiàn)未知樣品的定量分析。
實際上，某一元素的特征X射線強度還受到其它元素原子的吸收和增強作用的影響，這種原子間的吸收和增強作用稱作基體效應。由于基體效應的存在，某一元素的特征X射線強度并非只與該元素的含量有關，也在一定程度上受到其它元素含量的影響，也就是說（2）式中的Ai、Bi并非常數(shù)，公式（2）應修改成公式（3）
Ci=AijI+Bij………………（3）
其中Aij=Ai（k′ijCj+1）+Bi(k〞ijCj+1)………………（4）
公式（4）為一組多元一次聯(lián)立方程式，其中k′ij和k〞ij表示元素j對被測元素i的基體校應影響因子。為了求解（3）式和（4）式，經(jīng)過國際X熒光分析界幾代人的努力，大致有以下幾種典型方法：
1. 經(jīng)驗系數(shù)法：通過測定一定數(shù)量的一組標樣（該組標樣的元素含量應打破相關性），采用非線性最小乘法、神經(jīng)網(wǎng)絡數(shù)學模型等各種多次疊代的數(shù)學方法求解，作出工作曲線。
采用經(jīng)驗系數(shù)法的定量分析結果準確可靠，使用最為廣泛。但是為了提高儀器標定的準確性，一般需要較多的標樣，而且被分析的元素（或化合物）種類愈多，需要的標樣數(shù)量就愈多。
2. 基本參數(shù)法：根據(jù)儀器的有關參數(shù)和元素原子間基體效應的基本數(shù)據(jù)等依靠理論計算和對純元素（或純化合物）試劑的測定求?。?）式中的影響因子，實現(xiàn)定量分析。由于儀器結構變化等種種原因，此種方法的定量精度尚不夠高，一般用于無標樣時作半定量分析。
3. 理論α系數(shù)法：此法介于上述兩種之間，現(xiàn)已日趨成熟并已實用化，在X熒光光譜儀和采用半導體探測器的較高檔的X熒光能譜儀中，均已做成定量分析軟件普遍采用。采用此種定量分析方法顯著的優(yōu)點是可以大大減少儀器標定用的標樣數(shù)目，一般用3—5個標樣即可實現(xiàn)正確的多元素定量分析。從而大大的減少了標樣制作和分析的工作量及費用，特別是在環(huán)保、生物試體分析等制作標樣十分困難的應用領域，不可能采用需要眾多標樣的經(jīng)驗系數(shù)法，理論α系數(shù)法具有廣闊的應用前景。
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