宇航志達(dá)試驗(yàn)裝備(東莞市)有限公司
主營產(chǎn)品: 兩箱式高低溫沖擊箱,高低溫實(shí)驗(yàn)試驗(yàn)箱,恒定高低溫試驗(yàn)箱 |
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主營產(chǎn)品: 兩箱式高低溫沖擊箱,高低溫實(shí)驗(yàn)試驗(yàn)箱,恒定高低溫試驗(yàn)箱 |
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參考價(jià) | 面議 |
更新時(shí)間:2024-08-03 07:59:00瀏覽次數(shù):1504
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產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 工作室尺寸(L×W×H) | 2*2*2mm |
---|---|---|---|
換氣率 | 1次/小時(shí) | 價(jià)格區(qū)間 | 10萬-20萬 |
溫度波動(dòng)度 | 0.5℃ | 溫度范圍 | -20+80℃ |
溫度均勻度 | 1℃ | 最高溫度 | 80 |
PCBA步入式高低溫老化實(shí)驗(yàn)房該設(shè)備適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫交變環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn),是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進(jìn)行耐寒、耐熱、耐干性試驗(yàn)及品管工程的可靠性測試設(shè)備,特別適用于光纖、LCD、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機(jī)等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫循環(huán)試驗(yàn)。
PCBA步入式高低溫老化實(shí)驗(yàn)房技術(shù)參數(shù)
設(shè)備滿足以下標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 10586 -2006 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫
GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)
GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Db:交變濕熱(12h + 12h循環(huán))
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則
GJB 150.3A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分:高溫試驗(yàn)
GJB 150.4A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分:低溫試驗(yàn)
GJB 150.9A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第9部分:濕熱試驗(yàn)