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        1. 產(chǎn)品展廳收藏該商鋪

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          上海增駿實(shí)業(yè)有限公司>供求商機(jī)>FRA51615-日本NF頻率特性分析儀
          FRA51615-日本NF頻率特性分析儀
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          • FRA51615-日本NF頻率特性分析儀

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          貨物所在地: 上海上海市
          更新時(shí)間: 2024-10-25 21:00:08
          期: 2024年10月25日--2025年4月25日
          已獲點(diǎn)擊: 73
          在線詢價(jià)收藏產(chǎn)品

          (聯(lián)系我們,請(qǐng)說(shuō)明是在 化工儀器網(wǎng) 上看到的信息,謝謝!)

          產(chǎn)品簡(jiǎn)介

          日本NF頻率特性分析儀介紹:
          從電子電路、電子零件/材料到機(jī)電一體化/電化學(xué),可覆蓋廣泛領(lǐng)域的頻率特性測(cè)量。具備各領(lǐng)域所需的性能/功能,提供再現(xiàn)性高的測(cè)量數(shù)據(jù),推進(jìn)測(cè)量作業(yè)的效率提升。FRA51615采納本公司FRA在用客戶的意見(jiàn),在各個(gè)細(xì)節(jié)之處追求使用便利性。

          詳細(xì)介紹

          日本NF頻率特性分析儀介紹:

          FRA51615頻率特性分析儀在被測(cè)定物上施加正弦波信號(hào),求出其頻率響應(yīng)特性的裝置,因?yàn)闇y(cè)量的動(dòng)態(tài)量程非常寬闊,所以不但能夠進(jìn)行高精度的測(cè)量,而且具有可以測(cè)量超低頻率等特長(zhǎng)。

          要想高精度地測(cè)試頻率特性、請(qǐng)選擇NF的FRA


          Frequency Response Analyzer FRA51615

          ce

                   

          環(huán)路特性 伺服特性 傳輸特性 阻抗 導(dǎo)納 PSRR

                   

          PLL響應(yīng)特性 振動(dòng)傳遞特性 電化學(xué)阻抗(EIS)

                   

          從逆變器/無(wú)線供電等電力電子工程、到伺服控制、
          電子零件/電池的評(píng)估、生物技術(shù)研究




          根據(jù)各種頻率特性測(cè)試用途,大幅提升性能/功能/可操作性!

                   

          測(cè)試頻率范圍

          10 μHz ~ 15 MHz
          測(cè)試速度

          0.5 ms/point
          基本準(zhǔn)確度

          增益 ±0.01 dB 相位 ±0.06°
          隔離 / 大輸入電壓

          600 V CAT Ⅱ / 300 V CAT Ⅲ
          大測(cè)試電壓

          600 Vrms

          ball

          順序測(cè)試

          ball

          標(biāo)記搜索功能

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          群延時(shí)測(cè)試

          ball

          頻率變化時(shí)相位控制

          ball

          負(fù)載校正

          ball

          端口延長(zhǎng)功能

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          電位梯度消除功能

          ball

          外部標(biāo)準(zhǔn)時(shí)鐘 等



                   

          fra51602
          增益·相位分析儀 FRA51602 #
          #
          轉(zhuǎn)換器·開(kāi)關(guān)電源的環(huán)路增益測(cè)試
          #
          測(cè)量頻率 10μHz~2MHz
          #

          大輸入電壓?隔離 600V CATⅡ/300V CATⅢ


          實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)試的可靠規(guī)格&功能
            

          ball

          測(cè)試頻率 10 μHz ~ 15 MHz
          從 10 μHz 的低頻到 15 MHz 實(shí)現(xiàn)全覆蓋。分辨率也提高到 10 μHz 。支持電化學(xué)阻抗測(cè)試所需的超低頻。

          ball

          測(cè)試速度 0.5 ms/point
          掃描速度 0.5 ms/point??蓭椭s短生產(chǎn)線上的節(jié)拍時(shí)間。

          ball

          基本準(zhǔn)確度 增益 ±0.01 dB, 相位 ±0.06°
          通過(guò)數(shù)字傅立葉計(jì)算方法與自校準(zhǔn)功能,隨時(shí)進(jìn)行高精度測(cè)試。與原來(lái)型號(hào)相比,增益 / 相位的準(zhǔn)確度均有所提升。
          #

          * 準(zhǔn)確度根據(jù)測(cè)試條件而不同。

          ball

          動(dòng)態(tài)量程 140 dB
          通過(guò)高分辨率 A/D 轉(zhuǎn)換器和對(duì)每個(gè)測(cè)試頻率點(diǎn)分別進(jìn)行量程優(yōu)化的自動(dòng)切換量程功能,確保較大的動(dòng)態(tài)量程。對(duì)于測(cè)試過(guò)程中發(fā)生的變化,也能準(zhǔn)確地測(cè)試出來(lái)。

          ball

          隔離電壓 600 V CAT Ⅱ / 300 V CAT Ⅲ
          振蕩器輸出(OSC)與 2 個(gè)分析輸入(CH1/ CH2)在機(jī)殼與端子間相互被隔離,額定絕緣為 600V CATⅡ 或 300V CATⅢ。
          高壓電需求增大的逆變器和 PFC 回路等以電源回路的環(huán)路 / 增益測(cè)試為首,其應(yīng)用范圍越來(lái)越大。

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          自動(dòng)切換量程
          追隨輸入信號(hào)的電平,設(shè)定量程后再進(jìn)行測(cè)試。如檢測(cè)到超出量程的噪聲,則自動(dòng)設(shè)定大的量程進(jìn)行重新測(cè)試。測(cè)試數(shù)據(jù)成為未出現(xiàn)量程飽和的數(shù)據(jù)。為消除隨著量程變化而出現(xiàn)的測(cè)試值不連續(xù),也可選擇固定量程。

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          自動(dòng)高密度掃描
          支持 20,000 點(diǎn)的高密度測(cè)試,僅針對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)急劇變化的區(qū)間,自動(dòng)提高頻率密度進(jìn)行測(cè)試。

          ball

          振幅壓縮功能
          為防止被測(cè)試系統(tǒng)的飽和或破損,對(duì)振蕩器的電平進(jìn)行控制,以使被測(cè)試系統(tǒng)的振幅水平保持穩(wěn)定。

          ball

          積分功能
          消除噪聲影響進(jìn)行測(cè)試的數(shù)據(jù)積分功能。重復(fù)測(cè)試期間按循環(huán)數(shù)或時(shí)間進(jìn)行設(shè)定。

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          自動(dòng)積分功能
          進(jìn)行反復(fù)積分、直至噪聲引起的測(cè)試波動(dòng)成分達(dá)到設(shè)定值以下的功能。

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          延時(shí)功能
          為減輕由于頻率改變時(shí)的瞬態(tài)響應(yīng)而引起的誤差,將時(shí)間延時(shí)至測(cè)試開(kāi)始的功能。還追加了僅在掃描或開(kāi)始當(dāng)場(chǎng)測(cè)試時(shí),將時(shí)間延時(shí)至測(cè)試開(kāi)始的功能。

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          微分 / 積分運(yùn)算功能
          在測(cè)試數(shù)據(jù)的時(shí)間區(qū)域里進(jìn)行微分/二次微分/積分/二次積分的功能。對(duì)于來(lái)自加速度傳感器和激光多普勒振動(dòng)計(jì)的信號(hào),在掃描的同時(shí)進(jìn)行運(yùn)算,變換成位移/速度/加速度并顯示。

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          接口 GPIB,USB,LAN,RS-232,VGA
          標(biāo)準(zhǔn)配備 GPIB, USB, LAN, RS-232 接口。可構(gòu)建自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。
          另外,在背面配備了 VGA 連接器作為外部顯示器。關(guān)于其他輸出連接器等,請(qǐng)參閱右側(cè)的背面照片。

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          測(cè)試作業(yè)的效率UP!
            

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          順序測(cè)試
          對(duì)于設(shè)定存儲(chǔ)的內(nèi)容,按照編號(hào)順序讀出并掃描測(cè)試的功能。對(duì)于一個(gè)掃描,可將頻率范圍多分割成 20 個(gè)部分,在各自的頻率范圍內(nèi)分別按不同的振幅、積分設(shè)定等進(jìn)行測(cè)試。濾波器和壓電元件等想要高密度地測(cè)試特定的頻率范圍時(shí),多層陶瓷電容器(MLCC)、電感器和變壓器等具有偏壓依存性的零部件的測(cè)試等較為方便。
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          濾波器的通帶測(cè)試
          僅必要頻率范圍的測(cè)試
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          MLCC的電容測(cè)試
          在相同頻率范圍內(nèi),改變測(cè)試條件進(jìn)行測(cè)試

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          標(biāo)記搜索功能
          除讓標(biāo)記移動(dòng)并讀取數(shù)值外,還可自動(dòng)搜索符合設(shè)定條件的點(diǎn)。
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          群延時(shí)測(cè)試
          可顯示用于濾波器等電子電路波形再現(xiàn)性評(píng)價(jià)的群延時(shí)(GD: Group Delay,用 角頻率對(duì)輸入輸出間的相位進(jìn)行微分)。
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          頻率變化時(shí)相位控制
          在振蕩器輸出信號(hào)的相位為 0°時(shí)改變頻率。由此,從頻率掃描開(kāi)始到結(jié)束期間的直流成分變?yōu)榱悖陔姵氐淖杩箿y(cè)試中,充放電狀態(tài)不發(fā)生變化。另外,在高通濾波器(HPF)的頻率特性測(cè)試中,不會(huì)由于直流而產(chǎn)生瞬態(tài)響應(yīng)。

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          誤差校正
          開(kāi)路校正/短路校正/負(fù)載校正,端口延長(zhǎng)功能,電位梯度消除功能,補(bǔ)償
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          開(kāi)路校正/短路校正

          開(kāi)路時(shí)通過(guò)浮動(dòng)導(dǎo)納、短路時(shí)通過(guò)殘余阻抗校正測(cè)試誤差。(阻抗測(cè)試)
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          負(fù)載校正

          將已知數(shù)值的樣品作為標(biāo)準(zhǔn)阻抗來(lái)校正誤差。(阻抗測(cè)試)
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          端口延長(zhǎng)功能

          在使用較長(zhǎng)電纜時(shí)校正因傳輸延時(shí)引起的誤差。(阻抗測(cè)試)
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          電位梯度消除功能

          假定測(cè)試信號(hào)是由正弦波和鋸齒波(電位變動(dòng)波形)構(gòu)成的,分別測(cè)出正弦波與鋸齒波各自的大小與相位。消除由于電池等充放電造成的電位變化的影響。
          (阻抗測(cè)試)
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          補(bǔ)償

          對(duì)于連接到外部的傳感器和電纜等測(cè)試系統(tǒng)的頻率特性
          進(jìn)行預(yù)先測(cè)試,校正測(cè)試系統(tǒng)的誤差成分。
          (增益 / 相位測(cè)試)

          * 在各個(gè)( )內(nèi)的測(cè)試中使用的校正功能。

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          圖表顯示
          SPLIT 顯示

          可選擇在 1 個(gè)畫(huà)面上顯示 1 個(gè)圖表的“SINGLE"和上下顯示2 個(gè)圖表的“SPLIT"。
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          數(shù)據(jù)跡線

          可覆蓋參考數(shù)據(jù)跡線(REF)和測(cè)試數(shù)據(jù)跡線(MEAS)。
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          相位 UNWRAP 顯示

          按 0°、180°、360°不折回地連續(xù)顯示相位。還可顯示超過(guò) ±360°的相位。
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