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產(chǎn)品簡介
韓國MicroP XRF-2020膜厚儀
檢測電子電鍍,五金電鍍,LED支架,端子連接器,半導體等電鍍層厚度
快速無損檢測電子電鍍層厚度
鍍錫X射線無損測厚儀韓國XRF-2020
檢測電子電鍍,五金電鍍,LED支架,端子連接器,半導體等電鍍層厚度
快速無損檢測電子電鍍層厚度
鍍錫X射線無損測厚儀韓國XRF-2020
詳細介紹
韓國Micropioneer XRF-2020L鍍層測厚儀
XRF-2020H,XRF-2020L
工作原理：
根據(jù)熒光譜線元素能量位置以及其強度確定鍍層的組成以及厚度。
用X熒光光譜儀測試金屬鍍層精確，測試范圍廣，并且細微的面積以及超薄的鍍層都可以測試。
綜上所述，對于金屬電鍍鍍層的膜厚測試，X射線熒光是快速無損檢測電鍍膜厚的*。
X射線或粒子射線經(jīng)物質(zhì)照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)
此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來，而此時是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來。
熒光X射線鍍層厚度測量儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度
來進行鍍層厚度的測量及分析.
韓國Micropioneer XRF-2020L鍍層測厚儀如下圖所示
鍍錫X射線無損測厚儀韓國XRF-2020
功能應用：
檢測電子電鍍,五金電鍍,PCB板，LED支架半導體連接器等電鍍層厚度。
測量鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳，鍍鋅鎳合金等
可測單層、雙層、多層、合金鍍層測量，不限底料
韓國X-RAY膜厚儀XRF-2020
微先鋒MicroP XRF-2020
可測單鍍層,雙多鍍層,多鍍層及合金鍍層
鍍銀測量范圍0.1-50um
鍍鎳測量范圍0.5-30um
鍍銅測量范圍0.5-30um
鍍錫測量范圍0.5-50um
鍍金測量范圍0.03-6um
鍍鋅測量范圍1-30um
鋅鎳合金測量范圍1-25um
鍍鉻測量范圍0.5-25um
儀器規(guī)格
XRF-2020L型:測量樣品長寬55cm,高3cm:臺面載重3kg
XRF-2020H型:測量樣品長寬55cm,高10cm:臺載重5kg
儀器全自動臺面,自動雷射對焦,多點自動測量
多個準直器可選擇：0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03×0.5mm
可配多個或單個準直器,準直器大小可自動切換
韓國先鋒XRF-2020L型,H型（MicropXRF-2000,XRF-2020）
X光鍍層測厚儀，電鍍測厚儀，韓國XRF-2020L測厚儀，X-RAY膜厚儀，X射線膜厚測量儀
鍍錫X射線無損測厚儀韓國XRF-2020:測量范圍0.5-50um