熱膨脹儀DIL 402 Expedis Classic集成了熱膨脹測(cè)量領(lǐng)域的技術(shù)，為寬廣應(yīng)用領(lǐng)域內(nèi)的專業(yè)級(jí)的應(yīng)用而設(shè)計(jì)。DIL Expedis 系列的所有型號(hào)均基于革命性的 NanoEye 測(cè)量系統(tǒng)，在測(cè)量范圍與精度兩方面達(dá)到了新的高度。

熱膨脹儀DIL 402 Expedis Classic集成了熱膨脹測(cè)量領(lǐng)域的技術(shù)，為寬廣應(yīng)用領(lǐng)域內(nèi)的專業(yè)級(jí)的應(yīng)用而設(shè)計(jì)。DIL Expedis 系列的所有型號(hào)均基于革命性的 NanoEye 測(cè)量系統(tǒng)，在測(cè)量范圍與精度兩方面達(dá)到了新的高度。

每一納米均納入計(jì)算
量程與分辨率的新的*

對(duì)于傳統(tǒng)的熱膨脹儀，測(cè)試量程與分辨率這兩個(gè)參數(shù)很難兩全：高分辨率只能在很小的量程中實(shí)現(xiàn)；如果要得到較大量程，只能犧牲一定的分辨率。

新型自反饋光電位移測(cè)量系統(tǒng) NanoEye 克服了這一技術(shù)上的矛盾，能夠同時(shí)提供高的分辨率、的線性度與無(wú)以匹敵的寬廣量程。

工作原理 在測(cè)試過(guò)程中，當(dāng)樣品發(fā)生膨脹時(shí)，圖中所有的綠色部分將在線性導(dǎo)軌（圖中藍(lán)色部分）的引導(dǎo)下向后移動(dòng)，并由光學(xué)解碼器測(cè)出相應(yīng)的長(zhǎng)度變化。