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專業(yè)維修瑞士Metrohm電位滴定儀/Metrohm分析測(cè)定儀
閱讀:439 發(fā)布時(shí)間:2020-5-17 Metrohm電位滴定儀/Metrohm分析測(cè)定儀/Metrohm離子色譜儀:瑞士萬(wàn)通是當(dāng)今一家涉足各類不同離子分析技術(shù)的公司,Metrohm具有當(dāng)今電化學(xué)分析領(lǐng)域的先導(dǎo)地位。產(chǎn)品包括離子色譜儀、電位滴定儀、KF 微量水分滴定儀和伏安極譜痕量分析儀以及近紅外光譜分析儀等。瑞士萬(wàn)通旗下?lián)碛兴膫€(gè)品牌:“Metrohm”、“Autolab”、“Applikon”及“NIRSystems”,以其自動(dòng)電位滴定儀、KF 微量水分滴定儀、離子色譜儀、伏安極譜儀以及近紅外光譜分析儀著稱,技術(shù)世界。您可以從瑞士萬(wàn)通獲得大量有關(guān)離子分析和近紅外分析的方法和技術(shù)。
瑞士萬(wàn)通還提供種類繁多的現(xiàn)代分析實(shí)驗(yàn)室輔助儀器和設(shè)備,包括:精密pH計(jì)、電導(dǎo)儀、離子計(jì)、自動(dòng)樣品進(jìn)樣器、自動(dòng)樣品前處理器、自動(dòng)液體裝置、各種電極、光電極、油脂氧化穩(wěn)定值測(cè)定儀和儀器相關(guān)的外圍設(shè)備等等。Skalar分析儀器
Metrohm自動(dòng)電位滴定儀:
電位滴定儀是分析實(shí)驗(yàn)室使用多、工作量大的常規(guī)分析儀器。Metrohm研制的電位滴定儀從早期的產(chǎn)品到Titrino,再到當(dāng)時(shí)的Titrando,再到目前的愛(ài)●智能TM系列與精銳plus系列、以及862多位滴定儀、855型機(jī)器人全自動(dòng)樣品滴定系統(tǒng)等,已經(jīng)發(fā)展到第七代產(chǎn)品系列,這代表了電位滴定相關(guān)技術(shù)發(fā)展的速度;同時(shí),Metrohm也繼續(xù)保持了其在當(dāng)今電化學(xué)分析領(lǐng)域的先導(dǎo)地位。
Metrohm離子色譜儀:
Metrohm所研發(fā)的離子色譜儀采用的技術(shù),性能可靠、結(jié)果準(zhǔn)確、易學(xué)易用、價(jià)格實(shí)惠,且高度自動(dòng)化。適用于微量、痕量的陰、陽(yáng)離子分析,基體復(fù)雜樣品的自動(dòng)前處理,常規(guī)分析以及方法的研究與開發(fā)。 英藍(lán)技術(shù)是Metrohm開發(fā)的離子色譜技術(shù),其英文為Metrohm Inline Sample Processing (MISP),意思是:分析通道內(nèi)樣品直接進(jìn)樣連續(xù)處理的離子色譜分析技術(shù)。它將離子色譜的應(yīng)用和分析功能發(fā)展到一個(gè)嶄新階段,真正實(shí)現(xiàn)了離子色譜分析由樣品制備到分析的全過(guò)程連續(xù)自動(dòng)化。
Metrohm NIR近紅外光譜分析儀:
2013年,Metrohm收購(gòu)Foss NIRSystems Inc.公司,以Metrohm-NIRSystems作為近紅外產(chǎn)品品牌開始進(jìn)軍光譜領(lǐng)域,在工業(yè)領(lǐng)域開始與Foss公司進(jìn)行戰(zhàn)略合作。Metrohm-NIRSystems為客戶提供實(shí)驗(yàn)室型、旁線以及在線近紅外解決方案。 XDS系列近紅外產(chǎn)品是新一代的光柵型掃描近紅外分析儀,采用基于偏移技術(shù)數(shù)字全息光柵系統(tǒng),其對(duì)應(yīng)的NIIST可追溯的標(biāo)準(zhǔn)和方法保證了每臺(tái)儀器的光度計(jì),波長(zhǎng)和帶寬等重要技術(shù)參數(shù)的高度一致,保證了儀器之間定標(biāo)模型無(wú)縫轉(zhuǎn)移并且可實(shí)現(xiàn)網(wǎng)絡(luò)控制操作。基于XDS近紅外分析技術(shù),Metrohm-NIRSystems開發(fā)了一系列新一代的過(guò)程分析儀,用于制藥和化工領(lǐng)域的實(shí)時(shí)分析。樣品無(wú)需破損、測(cè)試精確等優(yōu)點(diǎn)都在加工過(guò)程、攪拌器、干燥器、反應(yīng)器等不同階段的檢測(cè)中得到了體現(xiàn)。XDS近紅外在線分析儀典型的應(yīng)用案例包括煉油廠、石化企業(yè)、聚合過(guò)程、原料藥的溶媒保護(hù)等的反應(yīng)監(jiān)測(cè)和終點(diǎn)判斷,以及壓縮聚合物薄膜或包衣的分析。