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DRK-W系列激光粒度分析儀資料
閱讀：171 發(fā)布時間：2023-3-2隨著科學技術(shù)的日益進步和發(fā)展，在國民經(jīng)濟的許多部門，如能源、動力、機械、醫(yī)藥、化工、輕工、冶金、建材等行業(yè)中都出現(xiàn)了越來越多的細微顆粒密切相關(guān)的技術(shù)問題有待解決，顆粒粒徑大小的測量是其中最基本也是最重要的一個方面。許多情況下，顆粒粒徑大小不僅直接影響到產(chǎn)品的性能與質(zhì)量，而且對工藝過程的優(yōu)化、能源消耗的降低、環(huán)境污染的減少等都有重大的關(guān)聯(lián)。 近年來，與、國防工業(yè)、軍事科學等密切相關(guān)的各種新型顆粒材料，特別是超細納米顆粒的問世和利用，給顆粒粒徑的測量提出了新的和更高的要求，不但要求快速、自動化數(shù)據(jù)處理、而且也要求提供可靠的更豐富的數(shù)據(jù)和更有用的信息，以滿足科研領域和工業(yè)質(zhì)量控制方面應用的需要。TS-W系列激光粒度分析儀正是為了滿足用戶上述新要求而精心研制開發(fā)的最新一代激光粒度分析儀。該儀器集*激光技術(shù)、半導體技術(shù)、光電技術(shù)、微電子技術(shù)和計算機技術(shù)的應用，綜合了光、機、電、計算機于一體，以光散射理論為基礎的顆粒粒徑測量技術(shù)突出的優(yōu)點逐步取代了一些傳統(tǒng)的常規(guī)測量方法，必將成為一代新穎的顆粒粒徑測量儀器。并且在科研領域和工業(yè)質(zhì)量控制的粒度分布分析中發(fā)揮著越來越大的作用。
DRK-W系列激光粒度分析儀的高品質(zhì)和所測樣品的廣泛性使得它在實驗室的實驗研究和工業(yè)生產(chǎn)的質(zhì)量控制等諸多領域中得到了廣泛的應用。例如：材料、化工、制藥、精細陶瓷、建材、石油、電力、冶金、食品、化妝品、高分子、油漆、涂料、碳黑、高嶺土、氧化物、碳酸鹽、金屬粉末、耐火材料、添加劑等以顆粒物作為生產(chǎn)原材料、產(chǎn)品、中間體等。
技術(shù)特點:
1.DU特的半導體制冷恒溫控制綠色固體激光器做光源，波長短、體積小、工作穩(wěn)定、壽命長；
2.DU特設計大直徑光靶，保證測量范圍大，0.1-1000微米全測量范圍內(nèi)不需要更換鏡頭或移動樣品池；
3.集多年研究之成果，米氏理論的WAN美應用；
4.DU特反演算法，保證顆粒測量的準確；
5.USB接口，儀器與計算機一體化，內(nèi)嵌10.8寸工業(yè)級別的電腦，可連接鍵盤、鼠標、U盤
6.測量時循環(huán)樣品池或固定樣品池可選，兩者可根據(jù)需要換用；
7.樣品池模塊化設計，更換模塊可實現(xiàn)不同的測試模式；循環(huán)樣品池內(nèi)置超聲分散裝置，可有效分散團聚顆粒
8.樣品測量可DU全自動化，除添加樣品外，只要連接好蒸餾水進水管和排水管，進水、測量、排水、清洗，啟動超聲分散裝置等操作可WAN全自動進行，同時也提供手動測量菜單；
9.軟件個性化，提供測量向?qū)У缺姸喙δ埽奖阌脩舨僮鳎?/span>
10.測量結(jié)果輸出數(shù)據(jù)豐富，保存在數(shù)據(jù)庫中，能用任意參數(shù)，如操作者姓名，樣品名，日期，時間等進行調(diào)用分析，與其他軟件實現(xiàn)數(shù)據(jù)共享；
11.儀器造型美觀，體積小重量輕；
12.測量精度高，重復性好，測量時間短；
13.軟件提供眾多物質(zhì)折射率供用戶選擇，滿足用戶查找被測顆粒折射率要求；
14.考慮到測試結(jié)果的保密要求，只有授權(quán)操作者才能進入相應數(shù)據(jù)庫讀取數(shù)據(jù)和處理；
15.本儀器符合但并不局限于以下標準：
ISO 13320-2009 G/BT 19077.1-2008 粒度分析 激光衍射法