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          AST橢偏儀薄膜分析MSP500-RTMF

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          • AST橢偏儀薄膜分析MSP500-RTMF
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          參考價 面議
          具體成交價以合同協(xié)議為準
          • 型號
          • 品牌 AST/艾斯特
          • 廠商性質(zhì) 代理商
          • 所在地 北京市
          在線詢價 收藏產(chǎn)品

          更新時間:2022-08-05 12:10:23瀏覽次數(shù):1240

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          產(chǎn)品簡介

          產(chǎn)地類別 進口 價格區(qū)間 面議
          應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,食品,生物產(chǎn)業(yè),農(nóng)業(yè),紡織皮革
          AST橢偏儀薄膜分析MSP500-RTMF分析產(chǎn)品來自美國AST公司,其可以實現(xiàn)微小區(qū)域薄膜厚度、反射率、透射率、色度等的測量,同樣對于材料NK參數(shù)也可以實現(xiàn)測量,為人們針對薄膜微小區(qū)域進行分析提供了便利。

          詳細介紹

          AST橢偏儀薄膜分析MSP500-RTMF

          AST橢偏儀薄膜分析MSP500-RTMF分析產(chǎn)品來自美國AST公司,其可以實現(xiàn)微小區(qū)域薄膜厚度、反射率、透射率、色度等的測量,同樣對于材料NK參數(shù)也可以實現(xiàn)測量,為人們針對薄膜微小區(qū)域進行分析提供了便利。

           

          產(chǎn)品詳情

           

          基本功能

          1,針對微小區(qū)域測試單、多層透光薄膜的厚度、折射率以及吸收系數(shù)
          2,實現(xiàn)薄膜均勻性檢測以及色度、反射率、透射率等參數(shù)測量
          3,寬光譜范圍同時有效滿足材料分析、探測等應(yīng)用

          產(chǎn)品特點

          l  強大的數(shù)據(jù)運算處理功能及材料NK數(shù)據(jù)庫;
          2  簡便、易行的可視化測試界面,可根據(jù)用戶需求設(shè)置不同的參數(shù);
          3  實現(xiàn)微小區(qū)域薄膜分析研究;
          4  快捷、準確、穩(wěn)定的參數(shù)測試;
          5  支持多功能配件集成以及定制;
          6  支持不同水平的用戶控制模式;
          7  支持多功能模擬計算等等。

          系統(tǒng)配置

          型號:MSP500RTMF
          雙探測器系統(tǒng):2048像素的CCD陣列用于UV-Vis,InGaAs陣列用于NIR
          光源:高功率的DUV和可見光光源
          自動的臺架平臺:特殊處理的鋁合金操作平臺,手動調(diào)節(jié)移動范圍為100mm×75mm
          焦距:螺桿控制的自動調(diào)焦
          物鏡有著長焦點距離:4×、10×15× 、50×(包括一個DUV物鏡)通訊接口:USB的通訊接口與計算機相連
          軟件:帶有全自動成像功能和2D/3D圖形輸出的TFProbe 2.2VM版本的軟件。
          測量類型:反射/透射光譜、薄膜厚度/反射光譜和特性尺寸
          計算機硬件:英特兒酷睿2雙核處理器,19”LCD顯示器
          電源:110–240V AC/50-60Hz,3A
          尺寸:16’x16’x18’ (操作桌面設(shè)置)
          重量:120磅總重      保修:一年的整機及零備件保修

           

          規(guī)格參數(shù)

            波長范圍:250nm1700 nm

            波長分辨率: 1nm

            光斑尺寸:100μm (4x), 40μm (10x), 30μm (15x), 8μm (50x)

            基片尺寸:多可至20mm

            測量厚度范圍: 20Å 25 μm

            測量時間:2毫秒

            *:優(yōu)于0.5%(通過使用相同的光學(xué)常數(shù),讓橢偏儀的結(jié)果與熱氧化物樣品相比較)

            重復(fù)性誤差*:小于2 ?

            

          可選配件項

            l 波長可擴展到遠DUV或者長NIR范圍(2500nm)

            2 可根據(jù)客戶的特殊需求來定制

            3 在動態(tài)實驗研究時,可根據(jù)需要對平臺進行加熱或致冷

            4 可選擇的平臺尺寸多可測量300mm大小尺寸的樣品

            5 更高的波長范圍的分辨率可低至0.1nm

            6 各種濾光片可供各種特殊的需求

            7 可添加應(yīng)用于熒光測量的附件

            8 可添加用于拉曼應(yīng)用的附件

            9 可添加用于偏光應(yīng)用的附件

           

          應(yīng)用系統(tǒng)

            主要應(yīng)用于透光薄膜分析類領(lǐng)域:

            l 玻璃鍍膜領(lǐng)域(LowE、太陽能…)

            2 半導(dǎo)體制造(PR,Oxide, Nitride…)

            3 液晶顯示(ITO,PR,Cell gap...)

            4 光學(xué)涂層,TiO2, SiO2, Ta2O5... ..

            5 半導(dǎo)體化合物

            6 MEMS/MOEMS系統(tǒng)上的功能性薄膜

            7 非晶體,納米材料和結(jié)晶硅

           

           

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