目錄:濟南眾測機電設備有限公司>>測厚儀>>高精度薄膜測厚儀>> 高精度薄膜測厚儀THK-02
產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價格區(qū)間 | 面議 |
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應用領域 | 食品,電子,制藥,綜合 |
薄膜等包裝材料厚度是否均勻一致,是檢測薄膜各項性能的基礎。薄膜厚度不均勻,不但會影響到薄膜各處的拉伸強度、阻隔性等,更會影響薄膜的后續(xù)加工。
眾測機電研發(fā)生產(chǎn)的高精度薄膜測厚儀THK-02采用光柵傳感器,適用于2mm范圍內各種薄膜、復合膜、紙張、金屬箔片等硬質和軟質材料厚度精確測量,也稱為薄膜厚度測量儀、薄膜厚度檢測儀和塑料薄膜厚度測定儀等。
測厚儀
高精度薄膜測厚儀主要參數(shù)
通用名稱:測厚儀
儀器型號:THK-02
測量范圍:0~2mm(標配);0~6mm、0~12mm(選配)
分辨率:0.1μm
均勻性:0.3μm
測試速度:1~25次/min
測量頭平行度:±2μm(機械調整,量塊校驗)
重復性:0.3μm
測量壓力:17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(紙張);
接觸面積:50mm2(薄膜); 200mm2 (紙張);薄膜、紙張任選一種,非標可定制
電源:AC220V50Hz/ AC120V60Hz
外形尺寸:300mm(L)×400mm(W)×435mm(H)
約凈重:30Kg
標準配置:主機、液晶觸摸屏、電源線、標準量塊
選配件:非標測量頭
匠心設計
•測頭采用標準M2.5螺紋連接方式,可連接各種形式百分表,千分表表頭進行測量
•可拆卸螺紋連接配重塊,可滿足各種標準要求及非標壓力定制
•測量支架采用具有高吸振特性、受溫度變化極小的球墨鑄鐵一體成形,有效減輕了外界震動、溫度變化對測試產(chǎn)生的影響
•進口高速高精度采樣芯片,有效保證測試準確性與實時性
測試原理
將預先處理好的薄型試樣的一面置于下測量面上,與下測量面平行且中心對齊的上測量面,以一定的壓力,落到薄型試樣的另一面上,同測量頭一體的傳感器自動檢測出上下測量面之間的距離,即為薄型試樣的厚度。
薄膜測厚儀生產(chǎn)廠家