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詳細(xì)介紹
霍梅爾NanoScan高精密粗糙輪廓度測(cè)量?jī)x可以在一個(gè)測(cè)量流程內(nèi)組合測(cè)量粗糙度和輪廓，柔性大，能夠滿足表面測(cè)量技術(shù)的所有需求，既省時(shí)，又省費(fèi)用。
| 技術(shù)特點(diǎn) | 主要特點(diǎn) |
| ?電子測(cè)頭臂識(shí)別技術(shù) | ?超精密的光機(jī)探測(cè)系統(tǒng) |
| ?探測(cè)頭的電子保護(hù)裝置 | ?通用性好 |
| ?電子調(diào)節(jié)探測(cè)力 | ?極富人性化的設(shè)計(jì) |
| ?高精度的測(cè)頭臂定位 | ?測(cè)頭臂的選擇范圍廣 |
| ?可上下測(cè)量 | ?創(chuàng)新的技術(shù) ?校準(zhǔn)方法簡(jiǎn)單 ?新的評(píng)價(jià)可能：可上下測(cè)量，測(cè)量工件表面形貌時(shí)的測(cè)量行程大 |
校準(zhǔn)方法 |
帶電子識(shí)別功能的測(cè)頭臂支架 由于使用了磁性測(cè)頭臂支架，所以測(cè)頭臂的更換迅速可靠 |
可上下測(cè)量 測(cè)頭臂安裝了雙探測(cè)頭，所以一次運(yùn)行可上下探測(cè) |
霍梅爾-艾達(dá)米克NanoScan
| 選項(xiàng) | 供貨范圍 |
?用于特殊測(cè)量需求的粗糙度和輪廓測(cè)頭臂 ?經(jīng)過認(rèn)證的qs-STAT接口（AQDEF）。 ?輪廓標(biāo)準(zhǔn)塊KN8 ?可保護(hù)測(cè)量系統(tǒng)免受環(huán)境影響的護(hù)罩
| ?帶22"TFT顯示屏的評(píng)價(jià)電腦，CD刻錄器，粗糙度和輪廓測(cè)量評(píng)價(jià)軟件 ?具有自動(dòng)保存功能的PDF打印機(jī) ?wavecontrol™basic操作面板 ?包含3個(gè)帶金剛石探測(cè)頭或紅寶石測(cè)頭的測(cè)頭臂 ?粗糙度標(biāo)準(zhǔn)塊RNDH2 ?用于緊固工件的測(cè)量臺(tái)MT1 XYO ?校準(zhǔn)用球形標(biāo)準(zhǔn)件
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| 型號(hào) | NanoScan855 |
| 測(cè)量范圍 | R+C：24/48mm |
| zui小分辨率 | R+C：0.6/1.2nm |
| 水平測(cè)量范圍/水平分辨率 | 200mm/0.01μm |
| 測(cè)量立柱行程 | 550mm |
| 硬巖石板 | 850x600mm |
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