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SpecMetrix® 在線涂層厚度和膜層測量系統(tǒng)
SpecMetrix 提供在線涂層厚度測量系統(tǒng),適用于涂層和生產(chǎn)線。這些系統(tǒng)旨在提供應(yīng)用涂層的非接觸、非破壞性和實(shí)時厚度測量。
由SpecMetrix提供,工業(yè)物理旗下專業(yè)的涂層測試品牌,致力于為工業(yè)制造商提供更精確的涂層厚度測量數(shù)據(jù)。
我們自豪地提供可輕松集成到您的生產(chǎn)線中的在線
涂層測量系統(tǒng),立即為質(zhì)量控制和工藝控制帶來效益。所有系統(tǒng)均采用我們創(chuàng)新的ROI增強(qiáng)光學(xué)干涉技術(shù),能夠在涂層過程中對各種基材進(jìn)行非接觸、非破壞性和實(shí)時的厚度測量數(shù)據(jù)采集。
簡化質(zhì)量控制流程 – 實(shí)時進(jìn)行
設(shè)計(jì)用于與您的涂層生產(chǎn)線協(xié)同工作,我們的在線涂層測量系統(tǒng)配置能夠滿足您的現(xiàn)場需求,并為您提供精確且有見地的涂層厚度數(shù)據(jù)。所有的絕對涂層測量數(shù)據(jù)都能實(shí)時捕獲,并顯示在直觀的SpecMetrix觸摸屏界面上,操作員和工藝團(tuán)隊(duì)能夠立即改進(jìn)涂層過程控制并進(jìn)行質(zhì)量調(diào)整。
多功能測量
SpecMetrix® 在線涂層測量系統(tǒng)具有多功能性。無論您涂覆的基材是什么,我們都可以提供在線涂層和層厚度測量解決方案,以滿足您的濕涂層或干涂層過程控制和質(zhì)量保證需求。
用于涂覆卷材的在線系統(tǒng):
· 精確測量涂覆、處理或?qū)訅壕聿牡耐繉雍穸?/span>
· 測量濕涂層或干涂層,精度可達(dá)亞微米級
· 測量透明、有色或著色涂層的厚度
· 可測量涂覆在任何金屬基材上的涂層,包括鋁、鋼、鍍錫、冷軋鋼、鍍鋁鋅鋼板,以及任何顏色的油漆涂層
· 實(shí)時測量應(yīng)用的預(yù)處理涂層、底漆、底涂層、面漆、清漆、背涂層、層壓膜、透明涂層及其他卷材涂層
用于涂覆柔性包裝材料和卷對卷(R2R)加工的在線系統(tǒng):
· 精確測量生產(chǎn)卷材、層壓材料和轉(zhuǎn)換產(chǎn)品的涂層和層厚度
· 測量濕涂層或干涂層
· 實(shí)時測量透明、有色或印刷涂層
· 測量涂覆在任何柔性基材上的涂層,包括箔片、底漆紙、塑料和薄膜
· 實(shí)時測量應(yīng)用的薄膜和網(wǎng)狀涂層,包括粘合劑、阻隔層、耐刮涂層、濕硅膠及其他功能涂層
根據(jù)您的需求進(jìn)行配置
SpecMetrix® 在線系統(tǒng)具有模塊化設(shè)計(jì),靈活性高,能夠?qū)崟r提供更精確的涂層厚度數(shù)據(jù)流,幫助工廠降低涂層成本并優(yōu)化涂層消耗。
這些解決方案還通過固定探頭或橫向系統(tǒng)配置,幫助優(yōu)化涂層消耗,簡化工廠設(shè)置、換型和多種工業(yè)涂層過程中的檢查時間。請與我們的產(chǎn)品專家討論您的過程控制和涂層質(zhì)量需求。
完整的涂層洞察
憑借SpecMetrix精確和創(chuàng)新的 ROI 增強(qiáng)光學(xué)干涉技術(shù),用戶可以為其產(chǎn)品和樣品保持完整的涂層測量數(shù)據(jù)。我們的技術(shù)使工廠團(tuán)隊(duì)能夠通過非接觸和非破壞性手段獲得絕對涂層厚度測量數(shù)據(jù)。
該技術(shù)也非常安全 —— 非放射性和非侵入性光源。我們的ROI技術(shù)高度*,并廣泛應(yīng)用于全球制造業(yè)。
強(qiáng)大的SensorMetric軟件
作為測量分析的重要組成部分,我們用戶友好的軟件包將所有過程中的測量數(shù)據(jù)存儲到Excel®中,或與工廠網(wǎng)絡(luò)接口,以便在生產(chǎn)運(yùn)行期間或之后進(jìn)行SPC分析。每次運(yùn)行的質(zhì)量控制記錄都能長久保存,便于輕松處理質(zhì)量和索賠問題。
可選的系統(tǒng)配置
請立即聯(lián)系我們的應(yīng)用專家團(tuán)隊(duì),討論您的配置要求。我們可以為您的生產(chǎn)、過程控制和質(zhì)量保證需求提供良好的系統(tǒng)配置建議。無論您的生產(chǎn)線多么多樣化或復(fù)雜,我們都可以推薦適合您具體要求的在線測量系統(tǒng)。此外,我們還可以提供解決方案,用于立即進(jìn)行高精度的離線樣品測試。請聯(lián)系我們,討論您的涂層測量需求。
功能和優(yōu)點(diǎn)
· 非接觸且非破壞性 – 實(shí)時涂層厚度測量過程中不接觸涂層或基材,保持樣品和產(chǎn)品的完整性。
· 絕對厚度測量 – 超高精度的實(shí)時測量可應(yīng)用于移動網(wǎng)狀材料、涂覆卷材和平板,無論是柔性材料、卷對卷應(yīng)用還是涂覆金屬加工。
· 基材獨(dú)立 – 可對所有金屬、塑料、薄膜及其他基材上的濕樣或干樣產(chǎn)品進(jìn)行絕對厚度測量。
· 廣泛應(yīng)用 – 實(shí)時測量應(yīng)用的薄膜和網(wǎng)狀涂層,包括粘合劑、阻隔層、耐刮涂層、濕硅膠、清漆、底漆、底涂層、面涂層、背涂層、層壓膜、透明涂層、UV涂層等。
· 無危害性 – 采用非放射性和非侵入性ROI光學(xué)技術(shù)。
· 環(huán)保 – 非破壞性測試方法可減少廢料、返工、材料消耗、溶劑使用、工時和工廠能源成本。
· 靈活、快速且模塊化 – 模塊化在線系統(tǒng)包括固定探頭或橫向設(shè)計(jì),適用于單面或雙面使用。
· 強(qiáng)大的SensorMetric軟件 – 用戶友好的軟件包將所有數(shù)據(jù)存儲到Excel®或工廠網(wǎng)絡(luò)中,以便在生產(chǎn)運(yùn)行期間或之后進(jìn)行SPC分析。
規(guī)格
應(yīng)用: 光學(xué)測試, 油墨與涂料, 涂層檢測, 涂層測試
材料: 油墨和涂料
涂覆卷材的測量范圍: 0.7至350微米*(透明/清漆涂層),0.7至75微米*(著色/不透明涂層)。*取決于所選的光學(xué)組件
涂覆柔性包裝材料和卷對卷(R2R)加工的測量范圍: 0.3至250微米(涂層厚度)
精度: 涂層厚度的±3%(標(biāo)稱值)* 基于使用NIST可追溯的厚度標(biāo)準(zhǔn)在整個測量范圍0.2至250微米的精度驗(yàn)證
網(wǎng)速: 最高2000英尺/分鐘,最高600米/分鐘
測量速度: 每秒最多150次
掃描速度: 最高5英寸(125毫米)/秒
溫度范圍: 0至55°C
網(wǎng)寬: 提供標(biāo)準(zhǔn)工業(yè)長度,也可根據(jù)需求定制,額外收費(fèi)
涂覆卷材系統(tǒng)的輸出指標(biāo): 微米、密耳、g/m2
涂覆柔性包裝材料和卷對卷(R2R)加工的輸出指標(biāo): 微米、密耳、mg/in2、mg/4in2、g/m2、mg/cm2、lbs/令
操作系統(tǒng): Windows®平臺
制造: 美國制造
認(rèn)證: CE認(rèn)證、UL認(rèn)證和CSA認(rèn)證
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溫馨提示:為規(guī)避購買風(fēng)險,建議您在購買產(chǎn)品前務(wù)必確認(rèn)供應(yīng)商資質(zhì)及產(chǎn)品質(zhì)量。