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詳細(xì)介紹
雙軸測量系統(tǒng)200MP
雙軸運(yùn)動(dòng)測量
的雙軸測量系統(tǒng)模型200MP措施光學(xué)-并且因此而沒有接觸-圓形目標(biāo)在兩個(gè)正交軸（X，Y）的線性位移。測量范圍和距離取決于所使用的鏡頭。兩個(gè)軸的測量同時(shí)進(jìn)行，每秒掃描1000次。ASCII格式的校準(zhǔn)測量值存儲(chǔ)在PC中。為了接收x和ya的模擬測量值，可以安裝兩個(gè)通道的14位接口。
進(jìn)一步的特征
- 分辨率：x和y為1：16000
- 同時(shí)測量
- 掃描速度：1000 / s
- 內(nèi)置查看器允許在很短的時(shí)間內(nèi)進(jìn)行設(shè)置
- 堅(jiān)固的系統(tǒng)；使用固態(tài)技術(shù)
- 操作員無需執(zhí)行任何校準(zhǔn)
- 連接到PC的并行端口LPT1；在PC中以ASCII格式存儲(chǔ)測量值（x，y）
- 借助可選的自動(dòng)準(zhǔn)直儀適配器和特殊鏡頭，它可以測量前視鏡在兩個(gè)軸上的角運(yùn)動(dòng)。
雙軸測量系統(tǒng)200MP
引伸計(jì)概述
引伸計(jì)是一種在材料測試（例如拉伸測試）過程中測量材料樣品應(yīng)變的儀器。原則上，引伸計(jì)有兩種類型：接觸式和非接觸式。接觸測量可以通過夾式引伸計(jì)進(jìn)行；這種儀器具有至少兩個(gè)機(jī)械地連接到樣本的邊緣。拉伸樣本會(huì)導(dǎo)致邊緣之間的距離變長，這與樣本長度的變化相對應(yīng)。
對于非接觸式測量，使用模擬或數(shù)字光學(xué)引伸計(jì)。為了測量材料樣品上的應(yīng)變，樣品通常帶有黑白標(biāo)記。引伸計(jì)內(nèi)的傳感器檢測標(biāo)記的運(yùn)動(dòng)，從而檢測拉伸試驗(yàn)期間長度的變化。有引伸計(jì)，即使材料樣品溫度非常高（高達(dá)3000°C），它們也能夠測量非?？斓膽?yīng)變（> 100 m / s）。
在拉伸試驗(yàn)中，非接觸式測量裝置是有利的。通常可以將它們設(shè)置在距樣品一定距離的位置，以防止樣品的飛散碎片損壞測量儀器。因此，光學(xué)引伸計(jì)也適用于破壞性材料測試期間的測量。
H.-D. Rudolph GmbH提供各種類型的光學(xué)引伸計(jì)：
- 引伸計(jì)200XR可進(jìn)行高達(dá)500 kHz的非?？焖俚臏y試
- CMOS線掃描傳感器ZS64A5K每秒可實(shí)現(xiàn)1：64000和4673測量的高分辨率
- 線掃描傳感器ZS16A分別是速度更快的版本ZS16AHS，可實(shí)現(xiàn)1：16000的高分辨率和高穩(wěn)定性
- 引伸計(jì)ZS32和ZS32HS分別具有1：32000的分辨率
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