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斯戴普(北京)科技有限公司資料大小
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230次7.1 *工作方式:采用近紅外漫反射技術(shù),二極管陣列全息固定光柵連續(xù)光譜;開放式非接觸性檢測(cè),光源從上往下直接照射樣品、無需穿透玻璃介質(zhì);旋轉(zhuǎn)掃描,適合顆粒狀樣品和不均勻性樣品的檢測(cè)
7.2 *檢測(cè)器:電溫控致冷InGaAs銦鎵砷二極管陣列檢測(cè)器,保證不受環(huán)境溫度影響;
7.3 光柵:鍍金全息固定光柵,實(shí)現(xiàn)瞬時(shí)分光
7.4 *掃描光斑:為了更好地適應(yīng)不均勻樣品檢測(cè),掃描光斑要求大于3.5cm
7.5 樣品形態(tài):整粒、粉狀、膏狀、液體;
7.6 *掃描面積:樣品盤大于150cm2(被掃描面積大于100cm2),適合于不均勻樣品和整粒樣品檢測(cè);
7.7 *分析時(shí)間:7秒內(nèi)
7.8 基線穩(wěn)定性:利用積分時(shí)間自動(dòng)修正基線偏差
7.9 *數(shù)據(jù)采樣間隔時(shí)間:0.008秒
7.10 磁動(dòng)力方式旋轉(zhuǎn)掃描,可實(shí)現(xiàn)全封、無玻璃介質(zhì)條件下的旋轉(zhuǎn)掃描檢測(cè)
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