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更新時間:2024-12-02 14:18:05瀏覽次數(shù):39次
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WPA系列可測量相位差高達3500nm,適合PC高分子材料,是Photonic lattic公司以其的光子晶體制造技術(shù)開發(fā)的產(chǎn)品,測量技術(shù),使其成為*的光學(xué)測量產(chǎn)品。 該產(chǎn)品在測量過程中可以對視野范圍內(nèi)樣品一次測量,全面掌握應(yīng)力分布。WPA-200型更是市場上的萬能機器,適合用來測量光學(xué)薄膜或透明樹脂。量化測量結(jié)果,二維圖表可以更直觀的讀取數(shù)據(jù)。
應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)WPA-200主要特點:
操作簡單,測量速度可以快到3秒。
采用CCDCamera,視野范圍內(nèi)可一次測量,測量范圍廣。
測量數(shù)據(jù)是二維分布圖像,可以更直觀的讀取數(shù)據(jù)。
具有多種分析功能和測量結(jié)果的比較。
維護簡單,不含旋轉(zhuǎn)光學(xué)濾片的機構(gòu)。
市場覆蓋率較高的殘余應(yīng)力測量設(shè)備。
主要應(yīng)用:
·光學(xué)零件(鏡片、薄膜、導(dǎo)光板)
·透明成型品(車載透明零件、食用品容器)
·透明樹脂材料(PET PVA COP ACRYL PC PMMA APEL COC)
·透明基板(玻璃、石英、藍寶石、單結(jié)晶鉆石)
·有機材料(球晶、FishEve)
技術(shù)參數(shù):
項次 | 項目 | 具體參數(shù) |
1 | 輸出項目 | 相位差【nm】,軸方向【°】,相位差與應(yīng)力換算(選配)【MPa】 |
2 | 測量波長 | 520nm、543nm、575nm |
3 | 雙折射測量范圍 | 0-3500nm |
4 | 測量小分辨率 | 0.001nm |
5 | 測量重復(fù)精度 | <1nm(西格瑪) |
6 | 視野尺寸 | 218x290mm-360×480mm(標(biāo)準(zhǔn)) |
7 | 選配鏡頭視野 | 無選配 |
8 | 選配功能 | 實時解析軟件,鏡片解析軟件,數(shù)據(jù)處理軟件,實現(xiàn)外部控制,CD模式 |
全自動聚酯薄膜軸方向測試儀 相位差代理商
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