目錄:北京儀光科技有限公司>>臺(tái)式電鏡&臺(tái)階儀&原位分析>>澤攸臺(tái)式掃描電鏡>> ZEM15原位拉伸-掃描電鏡
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更新時(shí)間：2024-11-13 08:59:34瀏覽次數(shù)：469評(píng)價(jià)
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| 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
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ZEM15原位拉伸-掃描電鏡采用自主研發(fā)的鎢燈絲電子槍，加速電壓在1-15kV范圍內(nèi)連續(xù)可調(diào)，搭配二次電子探測(cè)器、背散射電子探測(cè)器、1000N原位拉伸樣品臺(tái)，實(shí)現(xiàn)掃描電鏡內(nèi)的原位拉伸/壓縮/彎曲實(shí)驗(yàn)。
ZEM15原位拉伸-掃描電鏡原位拉伸臺(tái)參數(shù)
載荷范圍：0-1000N
位移分辨率：20nm
加熱模塊：可選
加載功能：拉伸、壓縮、三點(diǎn)彎曲
電鏡主機(jī)特色
僅需鼠標(biāo)即可完成所有操作，無(wú)須對(duì)中光闌等復(fù)雜步驟；
亮度/對(duì)比度一鍵自適應(yīng)，自動(dòng)/手動(dòng)聚焦;
抽真空時(shí)間小于90秒；
標(biāo)配光學(xué)導(dǎo)航，搭配多樣品臺(tái)，實(shí)現(xiàn)快速找樣及切換樣品；
信號(hào)采集帶寬10M，掃描速度快；
視頻模式下實(shí)時(shí)觀察樣品，操作流暢，無(wú)卡頓；
四分割背散射電子探測(cè)器（多種成像模式）、二次電子探測(cè)器；
BSE+SE 模式（任意比列混合）、集成EDS元素分析功能；
國(guó)內(nèi)生產(chǎn)、銷售、售后一體化服務(wù)；
北京、上海、安徽、廣東常駐工程師并提供設(shè)備演示；
藥物檢測(cè) 生物檢測(cè)
半導(dǎo)體檢測(cè) 電池檢測(cè)
部分國(guó)內(nèi)用戶
部分國(guó)外用戶
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