目錄:北京儀光科技有限公司>>臺式電鏡&臺階儀&原位分析>>澤攸探針臺及低溫系統(tǒng)>> 澤攸SEM納米探針臺
澤攸SEM納米探針臺產(chǎn)品實現(xiàn)了三維空間上的準(zhǔn)確定位, 它具有分辨率高,尺寸緊湊,行程大,操作簡單,能在真空下使用等優(yōu)點,可應(yīng)于SEM真空腔體內(nèi)完成各種納米精度運動操作。
澤攸SEM納米探針臺產(chǎn)品使用壓電陶瓷驅(qū)動,運無需潤滑,百分真空兼容,并可在很廣的溫度范圍內(nèi)工作。運動分辨率達到納米級。步進和掃描雙模式工作,在宏觀行程范圍內(nèi)達到亞納米分辨率的定位。
三軸探針臺由三個單軸運動臺組合而成。一SEM腔體內(nèi)可安裝多個三軸探針臺。平上可安裝電學(xué)探針、光纖探針、納米鑷子、金剛石納米力壓頭、顯微注射器等各類操縱和測量頭,實現(xiàn)微納操縱和測量的目的。
結(jié)構(gòu)緊湊,高剛性
壓電陶瓷位移平臺具有超長使用壽命
內(nèi)部根據(jù)需求可增加位置反饋
應(yīng)用:納米材料操縱、納米器件電學(xué)光電等物性測量、生物細胞DNA操作等
適配SEM:日本電子、 日立、FEI、 TESCAN等
對二維材料的電學(xué)測量 對器件的電學(xué)測量
對芯片的電學(xué)測量 對一維材料的電學(xué)測量
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