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        1. Nanoscope Systems lnc
          中級(jí)會(huì)員 | 第4年

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          NS3800-激光共聚焦顯微鏡
          • NS3800-激光共聚焦顯微鏡
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          貨物所在地:國外

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          更新時(shí)間:2024-11-29 16:11:48

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          ( 聯(lián)系我們,請(qǐng)說明是在 化工儀器網(wǎng) 上看到的信息,謝謝?。?/p>

          NS3800高速3D激光共聚焦顯微鏡是韓國Nanoscope System 公司專門為低維材料研究所研發(fā)的一款高速3D顯微鏡。與傳統(tǒng)的3D探針輪廓儀相比較,NS3800使用405nm的激光作為光源,進(jìn)行無損傷檢測,不與樣品的表面直接接觸,因此不會(huì)損傷樣品的表面,測量精度遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于探針輪廓儀。

          NS3800三維激光共聚焦顯微鏡

          NS-3800是一種可靠的三維(3D)測量高速共焦激光掃描顯微鏡(CLSM)。通過快速光學(xué)掃描模塊和信號(hào)處理算法實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)共焦顯微圖像。在測量和檢測微觀三維結(jié)構(gòu),如半導(dǎo)體晶片,F(xiàn)PD產(chǎn)品,MEMS設(shè)備,玻璃基板,材料表面等方面提供多樣化的解決方案。 

          Features & Benefits(性能及優(yōu)勢):

          • 高分辨無損傷光學(xué)3D測量                               自動(dòng)傾斜補(bǔ)償

          • 實(shí)時(shí)共焦成像                                                 簡單的數(shù)據(jù)分析模式

          • 多種光學(xué)變焦                                                 雙Z掃描

            大范圍拼接                                                    半透明基材的特征檢測

          • 實(shí)時(shí)CCD明場和共聚焦成像                            無樣品準(zhǔn)備

          • 自動(dòng)聚焦 

          Application field(應(yīng)用領(lǐng)域):

          NS-3500是測量低維材料的有前途的解決方案。

          可測量微米和亞微米結(jié)構(gòu)的高度,寬度,角度,面積和體積,例如

          -半導(dǎo)體:IC圖形,凹凸高度,線圈高度,缺陷檢測,CMP工藝

          - FPD產(chǎn)品:觸摸屏屏幕檢測,ITO圖案,LCD柱間距高度

          - MEMS器件:結(jié)構(gòu)三維輪廓,表面粗糙度,MEMS圖形

          -玻璃表面:薄膜太陽能電池,太陽能電池紋理,激光圖案

          -材料研究:模具表面檢測,粗糙度,裂紋分析

           

          Dimension(尺寸):

          Specification (規(guī)格):

          Model

          Microscope  NS-3800

          備注

          物鏡倍率

          10x

          20x

          50x

          100x

           

          觀察/  測量范圍  

          水平 (H): μm

          1400

          700

          280

          140

           

          垂直 (V): μm

          1050

          525

          210

          105

           

          工作范圍: mm

          16.5

          3.1

          0.54

          0.3

           

          數(shù)值孔徑(N.A.)

          0.30

          0.46

          0.80

          0.95

           

          光學(xué)變焦

          x1 to x6

           

          總放大倍率

          178x to 26700x

           

          觀察/測量光學(xué)系統(tǒng)  

          Pinhole共聚焦光學(xué)系統(tǒng)

           

          高度測量

          測量掃描范圍

          Fine scan : 100 μm (and/or) Long scan : 7 mm [NS-3800L]

          注 1

          Fine scan : 400 μm (and/or) Long scan : 10 mm [NS-3800D]

          Fine scan : 200 μm (and/or) Long scan : 10 mm [NS-3800T]

          顯示分辨率

          0.001 μm

           

          重復(fù)率 σ

          0.010 μm

          注 2

          寬度測量

          顯示分辨率

          0.001 μm

           

          重復(fù)率 3σ

          0.02 μm

          注 3

          幀記憶

          像素

          1024x768, 1024x384,   1024x192, 1024x96

           

          單色圖像

          12 bit

           

          彩色圖像

          8-bit for RGB each

           

          高度測量

          16 bit

           

          幀速率

          表面掃描

          20 Hz to 160 Hz

           

          線掃描

          ~8 kHz

           

          自動(dòng)功能

          自動(dòng)增益

           

          激光共焦測量光源

          波長

           405nm

           

          輸出

          ~2mW

           

          激光等級(jí)

          Class 3b

           

          激光接收元件

          PMT (光電倍增管)

           

          光學(xué)觀察光源

          10W LED

           

          光學(xué)觀察照相機(jī)

          成像元件

          1/2” 彩色圖像 CCD 傳感器

           

          記錄分辨率

          640x480

           

          自動(dòng)調(diào)整

          增益, 快門速度, White balance

           

          數(shù)據(jù)處理單元

           PC

           

          電源

          電壓

          100 to 240 VAC, 50/60 Hz

           

          電流

          500 VA max.

           

          重量

          顯微鏡

          Approx. ~50 kg

          (Measuring head unit : ~12 kg)

           

          控制器

          ~8 kg

           

          隔振系統(tǒng)

          氣浮隔振系統(tǒng)

          Option

                           

          注1:精細(xì)掃描由壓電執(zhí)行器(PZT)執(zhí)行。

          注2 :以100×/ 0.95物鏡對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣品(步長1μm)進(jìn)行100次測量。      

          注 3 :以100×/ 0.95物鏡對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣品(5μm間距)進(jìn)行100次測量。

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